광전지 장치 검사 방법 및 검사 장치

본 발명은 적어도 2개의 태양 서브셀을 포함하는 탠덤 태양 전지(100)의 접합들 간 전류-전압 곡선(IV) 및 전류 미스매칭을 측정하고 계산하는 방법을 제공하며, 그 방법은 국제 표준 조명 AM 1.5에 따라 시뮬레이팅된 태양 조사 조도(solar irradiance) 하에서 수행된다. 그 방법은 제1 광 스펙트럼(broad-spectral) 대역 광원(S1)에 의한 조명을 암시하고 협대역(narrow-band)의 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 필요한 광 강도들을 계산하기 위한 단계들을 포함한다. 그 방법의 단계들은 제...

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Hauptverfasser: BASSI NICOLAS, FRICK NICOLAS, ARNOUX GILLES, BATZNER DERK
Format: Patent
Sprache:kor
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creator BASSI NICOLAS
FRICK NICOLAS
ARNOUX GILLES
BATZNER DERK
description 본 발명은 적어도 2개의 태양 서브셀을 포함하는 탠덤 태양 전지(100)의 접합들 간 전류-전압 곡선(IV) 및 전류 미스매칭을 측정하고 계산하는 방법을 제공하며, 그 방법은 국제 표준 조명 AM 1.5에 따라 시뮬레이팅된 태양 조사 조도(solar irradiance) 하에서 수행된다. 그 방법은 제1 광 스펙트럼(broad-spectral) 대역 광원(S1)에 의한 조명을 암시하고 협대역(narrow-band)의 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 필요한 광 강도들을 계산하기 위한 단계들을 포함한다. 그 방법의 단계들은 제2 및 제3 광원들(S21, S22)에 대한 적응된 이득들을 결정하여, 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 조합(S2)가 상기 제1 광원(S1)으로만 조명될 때와 동일한 태양 전지(100)의 검사 결과들을 제공한다. 본 발명은 또한 본 발명의 방법을 실현하도록 구성된 태양 전지 시험 장치(1)를 제공한다. The present invention provides a method for measuring and calculating a current-voltage curve (IV) and a current mismatch between junctions of a tandem solar cell (100), comprising at least two solar subcells, the method being performed under simulated solar irradiance according to the international standard illumination AM1.5.The method implies the illumination by a first broad-spectral band light source S1 and comprises steps for calculating the necessary light intensities of narrowband second and said third light sources (S21, S22). The steps of the method achieve to determine adapted gains for second and said third light sources (S21, S22), so that the combination (S2) of said light sources S21 and S22 provide the same test results of the solar cell (100) as when illuminated with said first light source S1 only.The invention also provides a solar cell test apparatus (1) configured to realize the method of the invention.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20230160409A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20230160409A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20230160409A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZDB4tWXimwUtb5Y3KLyZt_TNzhkKrzY1vGlao_B6w8rXm6YCqX6YCESeh4E1LTGnOJUXSnMzKLu5hjh76KYW5MenFhckJqfmpZbEewcZGRgZGxiaGZgYWDoaE6cKAOPbON8</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>광전지 장치 검사 방법 및 검사 장치</title><source>esp@cenet</source><creator>BASSI NICOLAS ; FRICK NICOLAS ; ARNOUX GILLES ; BATZNER DERK</creator><creatorcontrib>BASSI NICOLAS ; FRICK NICOLAS ; ARNOUX GILLES ; BATZNER DERK</creatorcontrib><description>본 발명은 적어도 2개의 태양 서브셀을 포함하는 탠덤 태양 전지(100)의 접합들 간 전류-전압 곡선(IV) 및 전류 미스매칭을 측정하고 계산하는 방법을 제공하며, 그 방법은 국제 표준 조명 AM 1.5에 따라 시뮬레이팅된 태양 조사 조도(solar irradiance) 하에서 수행된다. 그 방법은 제1 광 스펙트럼(broad-spectral) 대역 광원(S1)에 의한 조명을 암시하고 협대역(narrow-band)의 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 필요한 광 강도들을 계산하기 위한 단계들을 포함한다. 그 방법의 단계들은 제2 및 제3 광원들(S21, S22)에 대한 적응된 이득들을 결정하여, 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 조합(S2)가 상기 제1 광원(S1)으로만 조명될 때와 동일한 태양 전지(100)의 검사 결과들을 제공한다. 본 발명은 또한 본 발명의 방법을 실현하도록 구성된 태양 전지 시험 장치(1)를 제공한다. The present invention provides a method for measuring and calculating a current-voltage curve (IV) and a current mismatch between junctions of a tandem solar cell (100), comprising at least two solar subcells, the method being performed under simulated solar irradiance according to the international standard illumination AM1.5.The method implies the illumination by a first broad-spectral band light source S1 and comprises steps for calculating the necessary light intensities of narrowband second and said third light sources (S21, S22). The steps of the method achieve to determine adapted gains for second and said third light sources (S21, S22), so that the combination (S2) of said light sources S21 and S22 provide the same test results of the solar cell (100) as when illuminated with said first light source S1 only.The invention also provides a solar cell test apparatus (1) configured to realize the method of the invention.</description><language>kor</language><subject>CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER ; ELECTRICITY ; GENERATION ; GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRA-REDRADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, E.G. USINGPHOTOVOLTAIC [PV] MODULES ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20231123&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20230160409A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20231123&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20230160409A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BASSI NICOLAS</creatorcontrib><creatorcontrib>FRICK NICOLAS</creatorcontrib><creatorcontrib>ARNOUX GILLES</creatorcontrib><creatorcontrib>BATZNER DERK</creatorcontrib><title>광전지 장치 검사 방법 및 검사 장치</title><description>본 발명은 적어도 2개의 태양 서브셀을 포함하는 탠덤 태양 전지(100)의 접합들 간 전류-전압 곡선(IV) 및 전류 미스매칭을 측정하고 계산하는 방법을 제공하며, 그 방법은 국제 표준 조명 AM 1.5에 따라 시뮬레이팅된 태양 조사 조도(solar irradiance) 하에서 수행된다. 그 방법은 제1 광 스펙트럼(broad-spectral) 대역 광원(S1)에 의한 조명을 암시하고 협대역(narrow-band)의 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 필요한 광 강도들을 계산하기 위한 단계들을 포함한다. 그 방법의 단계들은 제2 및 제3 광원들(S21, S22)에 대한 적응된 이득들을 결정하여, 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 조합(S2)가 상기 제1 광원(S1)으로만 조명될 때와 동일한 태양 전지(100)의 검사 결과들을 제공한다. 본 발명은 또한 본 발명의 방법을 실현하도록 구성된 태양 전지 시험 장치(1)를 제공한다. The present invention provides a method for measuring and calculating a current-voltage curve (IV) and a current mismatch between junctions of a tandem solar cell (100), comprising at least two solar subcells, the method being performed under simulated solar irradiance according to the international standard illumination AM1.5.The method implies the illumination by a first broad-spectral band light source S1 and comprises steps for calculating the necessary light intensities of narrowband second and said third light sources (S21, S22). The steps of the method achieve to determine adapted gains for second and said third light sources (S21, S22), so that the combination (S2) of said light sources S21 and S22 provide the same test results of the solar cell (100) as when illuminated with said first light source S1 only.The invention also provides a solar cell test apparatus (1) configured to realize the method of the invention.</description><subject>CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>GENERATION</subject><subject>GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRA-REDRADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, E.G. USINGPHOTOVOLTAIC [PV] MODULES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDB4tWXimwUtb5Y3KLyZt_TNzhkKrzY1vGlao_B6w8rXm6YCqX6YCESeh4E1LTGnOJUXSnMzKLu5hjh76KYW5MenFhckJqfmpZbEewcZGRgZGxiaGZgYWDoaE6cKAOPbON8</recordid><startdate>20231123</startdate><enddate>20231123</enddate><creator>BASSI NICOLAS</creator><creator>FRICK NICOLAS</creator><creator>ARNOUX GILLES</creator><creator>BATZNER DERK</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20231123</creationdate><title>광전지 장치 검사 방법 및 검사 장치</title><author>BASSI NICOLAS ; FRICK NICOLAS ; ARNOUX GILLES ; BATZNER DERK</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20230160409A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>kor</language><creationdate>2023</creationdate><topic>CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>GENERATION</topic><topic>GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRA-REDRADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, E.G. USINGPHOTOVOLTAIC [PV] MODULES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>BASSI NICOLAS</creatorcontrib><creatorcontrib>FRICK NICOLAS</creatorcontrib><creatorcontrib>ARNOUX GILLES</creatorcontrib><creatorcontrib>BATZNER DERK</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>BASSI NICOLAS</au><au>FRICK NICOLAS</au><au>ARNOUX GILLES</au><au>BATZNER DERK</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>광전지 장치 검사 방법 및 검사 장치</title><date>2023-11-23</date><risdate>2023</risdate><abstract>본 발명은 적어도 2개의 태양 서브셀을 포함하는 탠덤 태양 전지(100)의 접합들 간 전류-전압 곡선(IV) 및 전류 미스매칭을 측정하고 계산하는 방법을 제공하며, 그 방법은 국제 표준 조명 AM 1.5에 따라 시뮬레이팅된 태양 조사 조도(solar irradiance) 하에서 수행된다. 그 방법은 제1 광 스펙트럼(broad-spectral) 대역 광원(S1)에 의한 조명을 암시하고 협대역(narrow-band)의 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 필요한 광 강도들을 계산하기 위한 단계들을 포함한다. 그 방법의 단계들은 제2 및 제3 광원들(S21, S22)에 대한 적응된 이득들을 결정하여, 제2 및 제3 광원들(S21, S22)의 조합(S2)가 상기 제1 광원(S1)으로만 조명될 때와 동일한 태양 전지(100)의 검사 결과들을 제공한다. 본 발명은 또한 본 발명의 방법을 실현하도록 구성된 태양 전지 시험 장치(1)를 제공한다. The present invention provides a method for measuring and calculating a current-voltage curve (IV) and a current mismatch between junctions of a tandem solar cell (100), comprising at least two solar subcells, the method being performed under simulated solar irradiance according to the international standard illumination AM1.5.The method implies the illumination by a first broad-spectral band light source S1 and comprises steps for calculating the necessary light intensities of narrowband second and said third light sources (S21, S22). The steps of the method achieve to determine adapted gains for second and said third light sources (S21, S22), so that the combination (S2) of said light sources S21 and S22 provide the same test results of the solar cell (100) as when illuminated with said first light source S1 only.The invention also provides a solar cell test apparatus (1) configured to realize the method of the invention.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language kor
recordid cdi_epo_espacenet_KR20230160409A
source esp@cenet
subjects CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
ELECTRICITY
GENERATION
GENERATION OF ELECTRIC POWER BY CONVERSION OF INFRA-REDRADIATION, VISIBLE LIGHT OR ULTRAVIOLET LIGHT, E.G. USINGPHOTOVOLTAIC [PV] MODULES
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
title 광전지 장치 검사 방법 및 검사 장치
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-10T17%3A55%3A47IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=BASSI%20NICOLAS&rft.date=2023-11-23&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20230160409A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true