RADIOGRAPHIC INSPECTION APPARATUS

The present invention aims to provide a radiation inspection apparatus which is able to acquire a clear transparent image by using a TDI sensor, and to perform a high-speed inspection with a simple configuration. To this end, the radiation inspection apparatus comprises: a conveyor (1) returning a c...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: TOMIZAWA MASAMI, KAMIYAMA TAMIHIKO
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:The present invention aims to provide a radiation inspection apparatus which is able to acquire a clear transparent image by using a TDI sensor, and to perform a high-speed inspection with a simple configuration. To this end, the radiation inspection apparatus comprises: a conveyor (1) returning a cell (100); a first rotation belt (4) and a second rotation belt (5) which can be operated at different speeds from each other; and a control unit (11). The control unit (11) controls the speeds of the first rotation belt (4) and the second rotation belt (5), makes the cell (100) move straightforward along a direction of arrangement of a plurality of detection element columns (3a-3i) and rotate at a certain angle, and matches the angle of a plurality of radiation penetration paths (100a-100i) set on the cell (100) and the angle of irradiation regions (2a-2i) penetrating each of the radiation penetration paths (100a-100i) in the radiation detection location of each of the detection element columns (3a-3i). 본 발명은, TDI 센서를 사용해서 선명한 투시 화상을 취득함과 함께, 간단한 구성으로 고속 검사가 가능한 방사선 검사 장치를 제공하는 것을 과제로 한다. 이를 해결하기 위해, 방사선 검사 장치는, 전지(100)를 반송하는 컨베이어(1)와, 서로 다른 속도로 운전 가능한 제 1 회전용 벨트(4)와 제 2 회전용 벨트(5)와, 그 제어부(11)를 갖는다. 제어부(11)는, 제 1 회전용 벨트(4)와 제 2 회전용 벨트(5)의 속도를 제어하여, 전지(100)를 복수의 검출 소자열(3a~3i)의 배열 방향을 따라 직진시키면서 소정 각도로 회전시키고, 각 검출 소자열(3a~3i) 각각의 방사선 검출 위치에 있어서, 전지(100)에 설정된 복수의 방사선 투과 패스(100a~100i)의 각도와, 각 방사선 투과 패스(100a~100i)를 투시하는 조사 영역(2a~2i)의 각도를 일치시킨다.