분석 장치, 검체 제작 장치, 검사 장치, 검체 제작 장치의 동작 방법, 검사 장치의 동작 방법

분석 장치는, 검체의 검사를 행하는 적어도 1대의 검사 장치와, 검체를 제작하는 적어도 1대의 검체 제작 장치를 구비한다. 상기 분석 장치는, 데이터를 처리하는 데이터 처리부를 구비하고, 상기 검사 장치와 상기 검체 제작 장치는, 각각 서로 통신하기 위한 통신부를 구비하고, 상기 검체 제작 장치는, 상기 검체 제작 장치를 제어하는 제어부와, 검체를 제작하는 제작부를 구비한다. 상기 검사 장치는, 상기 검사 장치를 제어하는 제어부와, 검체의 검사를 행하는 검사부를 구비한다. 상기 데이터 처리부는, 상기 검사 장치에 미반입된 검체수를 나타내는 값 [검체수 A]와, 상기 검사 장치에 있어서 추가로 검사 개시할 수 있는 검체수와, 소정의 시간 내에 검사가 완료되는 검사 중인 검체수의 합을 나타내는 값 [검체수 B]를 산출하고, 상기 검체 제작 장치의 상기 제어부는, 상기 [검체수 A] 및 상기 [검체수 B]가 제1 관계를 충족시키는 경우에, 상기 검체 제작 장치에 있어서, 신규 검체의 제작을 금지한다. An analysis device according to the present invention comprises: at least one inspection device that inspects a specimen; and at least one specimen production device that produces a specimen. The analysis device is provided with a data processing unit that processes data. The inspection device and the specimen production device are each provided with a communication unit for communicating with each other. The specimen production device is provided with a control unit that controls the specimen production device and a production unit that produces a specimen. The inspection device is provided with a control unit that controls the inspection device and an inspection unit that inspects a specimen. The data processing unit calculates a value [number of specimens A] representing the number of specimens which have not been delivered to the inspection device and a value [number of specimens B] representing the sum of the number of specimens for which inspection can be additionally started in the inspection device and the number of specimens which are being inspected and the inspection of which will be completed in a prescribed time. The control unit of the specimen production device prohibits production of a new specimen in the specimen production device when the [number of specimens A] and the [number of specimens B] satisfy a first relationship.