결함 검출 방법, 장치 및 시스템

본 출원의 실시예는 결함 검출 기술 분야에 관한 결함 검출 방법, 장치 및 시스템을 제공한다. 상기 방법은, 검출할 물체의 이미지의 평균 그레이 값을 획득하는 단계; 매핑 테이블을 구축하되, 상기 매핑 테이블의 요소는 상기 이미지의 그레이 값 범위 내의 각 그레이 값에 대응되는 매핑 값을 포함하고, 기준값보다 크거나 같은 그레이 값에 대응되는 매핑 값은 제1 값이며, 기준값보다 작은 그레이 값에 대응되는 매핑 값은 제2 값이고, 기준값은 상기 평균 그레이 값과 기설정된 그레이 값 사이의 차이값의 절대값인 단계; 상기 매핑 테이블로부...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: NIU MAOLONG, HUANG QIANGWEI, XIE JINTAN, LIU YONGFA
Format: Patent
Sprache:kor
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