DUAL INLINE MEMORY MOUDULE AND OPERATING METHOD THEREOF
The present invention relates to a dual inline memory module (DIMM) which is able to monitor a parameter affecting the life expectancy, and an operating method of the DIMM. The DIMM comprises: one or more volatile memories; a non-volatile memory storing a reference parameter value expected to reduce...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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creator | KIM MYOUNG SEO |
description | The present invention relates to a dual inline memory module (DIMM) which is able to monitor a parameter affecting the life expectancy, and an operating method of the DIMM. The DIMM comprises: one or more volatile memories; a non-volatile memory storing a reference parameter value expected to reduce the life expectancy of the volatile memories by a planned range or more in a first region, and storing an exceeding counting value in a second region; and a control circuit measuring an operating parameter value of the volatile memories, and counting the number at which the operating parameter value exceeds the reference parameter value, and generating an exceeding counting value, and outputting the exceeding counting value stored in the second region in a preset operation mode to the outside through a preset pin.
본 기술은 기대수명에 영향을 미치는 파라미터(parameter)를 모니터링할 수 있는 듀얼 인라인 메모리 모듈(Dual Inline Memory Module: DIMM) 및 듀얼 인라인 메모리 모듈의 동작방법에 관한 것으로서, 적어도 하나 이상의 휘발성 메모리와, 휘발성 메모리의 기대수명을 예정된 범위이상 감소시킬 것으로 예상되는 기준 파라미터(parameter) 값이 제1영역에 저장되고, 초과 카운팅 값이 제2영역에 저장된 비휘발성 메모리, 및 휘발성 메모리의 동작 파라미터 값을 측정하고, 동작 파라미터 값이 기준 파라미터 값을 초과하는 횟수를 카운팅하여 초과 카운팅 값을 생성하며, 설정된 동작모드에서 제2영역에 저장된 초과 카운팅 값을 설정된 핀을 통해 외부로 출력하는 제어회로를 포함한다. |
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본 기술은 기대수명에 영향을 미치는 파라미터(parameter)를 모니터링할 수 있는 듀얼 인라인 메모리 모듈(Dual Inline Memory Module: DIMM) 및 듀얼 인라인 메모리 모듈의 동작방법에 관한 것으로서, 적어도 하나 이상의 휘발성 메모리와, 휘발성 메모리의 기대수명을 예정된 범위이상 감소시킬 것으로 예상되는 기준 파라미터(parameter) 값이 제1영역에 저장되고, 초과 카운팅 값이 제2영역에 저장된 비휘발성 메모리, 및 휘발성 메모리의 동작 파라미터 값을 측정하고, 동작 파라미터 값이 기준 파라미터 값을 초과하는 횟수를 카운팅하여 초과 카운팅 값을 생성하며, 설정된 동작모드에서 제2영역에 저장된 초과 카운팅 값을 설정된 핀을 통해 외부로 출력하는 제어회로를 포함한다.</description><language>eng ; kor</language><subject>INFORMATION STORAGE ; PHYSICS ; STATIC STORES</subject><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20230718&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20230108445A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25551,76302</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20230718&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20230108445A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>KIM MYOUNG SEO</creatorcontrib><title>DUAL INLINE MEMORY MOUDULE AND OPERATING METHOD THEREOF</title><description>The present invention relates to a dual inline memory module (DIMM) which is able to monitor a parameter affecting the life expectancy, and an operating method of the DIMM. The DIMM comprises: one or more volatile memories; a non-volatile memory storing a reference parameter value expected to reduce the life expectancy of the volatile memories by a planned range or more in a first region, and storing an exceeding counting value in a second region; and a control circuit measuring an operating parameter value of the volatile memories, and counting the number at which the operating parameter value exceeds the reference parameter value, and generating an exceeding counting value, and outputting the exceeding counting value stored in the second region in a preset operation mode to the outside through a preset pin.
본 기술은 기대수명에 영향을 미치는 파라미터(parameter)를 모니터링할 수 있는 듀얼 인라인 메모리 모듈(Dual Inline Memory Module: DIMM) 및 듀얼 인라인 메모리 모듈의 동작방법에 관한 것으로서, 적어도 하나 이상의 휘발성 메모리와, 휘발성 메모리의 기대수명을 예정된 범위이상 감소시킬 것으로 예상되는 기준 파라미터(parameter) 값이 제1영역에 저장되고, 초과 카운팅 값이 제2영역에 저장된 비휘발성 메모리, 및 휘발성 메모리의 동작 파라미터 값을 측정하고, 동작 파라미터 값이 기준 파라미터 값을 초과하는 횟수를 카운팅하여 초과 카운팅 값을 생성하며, 설정된 동작모드에서 제2영역에 저장된 초과 카운팅 값을 설정된 핀을 통해 외부로 출력하는 제어회로를 포함한다.</description><subject>INFORMATION STORAGE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>STATIC STORES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDB3CXX0UfD08_H0c1XwdfX1D4pU8PUPdQn1cVVw9HNR8A9wDXIM8fRzB0qGePi7KIR4uAa5-rvxMLCmJeYUp_JCaW4GZTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JJ47yAjAyNjA0MDCxMTU0dj4lQBANHYKPc</recordid><startdate>20230718</startdate><enddate>20230718</enddate><creator>KIM MYOUNG SEO</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20230718</creationdate><title>DUAL INLINE MEMORY MOUDULE AND OPERATING METHOD THEREOF</title><author>KIM MYOUNG SEO</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20230108445A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2023</creationdate><topic>INFORMATION STORAGE</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>STATIC STORES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>KIM MYOUNG SEO</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>KIM MYOUNG SEO</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DUAL INLINE MEMORY MOUDULE AND OPERATING METHOD THEREOF</title><date>2023-07-18</date><risdate>2023</risdate><abstract>The present invention relates to a dual inline memory module (DIMM) which is able to monitor a parameter affecting the life expectancy, and an operating method of the DIMM. The DIMM comprises: one or more volatile memories; a non-volatile memory storing a reference parameter value expected to reduce the life expectancy of the volatile memories by a planned range or more in a first region, and storing an exceeding counting value in a second region; and a control circuit measuring an operating parameter value of the volatile memories, and counting the number at which the operating parameter value exceeds the reference parameter value, and generating an exceeding counting value, and outputting the exceeding counting value stored in the second region in a preset operation mode to the outside through a preset pin.
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