외관 검사용 조명 장치, 외관 검사 장치 및 블리스터 포장기

본 발명은 외관 검사용 조명 장치, 외관 검사 장치 및 블리스터 포장기에 관한 것으로서, 대상물의 외관 검사를 실시할 때, 검사 효율 및 검사 정밀도의 비약적인 향상 등을 도모할 수 있는 외관 검사용 조명 장치, 외관 검사 장치 및 블리스터 포장기를 제공한다. 외관 검사 장치(45)는 광을 조사 가능한 조명 유닛(52)과, 상기 광을 조사된 PTP 시트를 촬상 가능한 카메라 유닛(53)과, 제어 장치(54)를 구비하고 있다. 제어 장치(54)는 조광 파라미터값과, 이에 대응하는 밝기 레벨로 발광하는 복수의 조명 패널(L1~L5)에...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	HIRANO TADANORI, WAKITA RYUJI, KANBE SATOSHI
Format:	Patent
Sprache:	kor
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS COMPUTING COUNTING INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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