Metrologically multipartite entanglement measurement method under quantum many-body effects

본 발명에 따른 다분 얽힘(multipartite entanglement) 양자 측정 방법에 있어서, 상기 방법은 양자 기기에 의해 수행되고, 상기 방법은, 정보를 인코딩하는 제1 양자 기기와 양자 프로브를 이용하여 상호 작용할 수 있는 상태를 구성하는 상태 준비(state preparation) 단계; 제1 양자 기기가 입력 상태를 인코딩하고, 입력 상태에 잡음이 부가됨에 따른 다분 얽힘 상태로 구성된 입력 상태에 얽힘 분해(entanglement dissociation) 동작을 수행하여 출력 상태가 제공되도록 하는 얽힘 분해 단...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	ULLAH MUHAMMAD ASAD, SHIN HYUNDONG, UMAN KHALID
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	CALCULATING COMPUTER SYSTEMS BASED ON SPECIFIC COMPUTATIONAL MODELS COMPUTING COUNTING MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES NANOTECHNOLOGY PERFORMING OPERATIONS PHYSICS SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES TRANSPORTING
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