분광 복사계를 모니터링하기 위한 방법 및 디바이스

본 발명은, 특히 발광 테스트 물체들(1)을 측정하기 위한 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법에 관한 것으로서, 여기에서 테스트 물체들(1)의 스펙트럼 데이터는 광학적 시스템에 의해 캡처되고, 여기에서 테스트 물체들의 라디오메트릭(radiometric), 포토메트릭(photometric) 및/또는 컬러메트릭(colorimetric) 수량들이 스펙트럼 데이터로부터 확인된다. 본 발명에 의해 다루어 지는 문제는 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법을 지정하는 것이며, 여기에서 이것은 분광 복사계(4)의 연속적인 재교정이 아...

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Hauptverfasser: HOH MATHIAS, MANGSTL MARTIN, HARING RETO, SCHEWE FLORIAN, KOPP THORSTEN
Format: Patent
Sprache:kor
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creator HOH MATHIAS
MANGSTL MARTIN
HARING RETO
SCHEWE FLORIAN
KOPP THORSTEN
description 본 발명은, 특히 발광 테스트 물체들(1)을 측정하기 위한 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법에 관한 것으로서, 여기에서 테스트 물체들(1)의 스펙트럼 데이터는 광학적 시스템에 의해 캡처되고, 여기에서 테스트 물체들의 라디오메트릭(radiometric), 포토메트릭(photometric) 및/또는 컬러메트릭(colorimetric) 수량들이 스펙트럼 데이터로부터 확인된다. 본 발명에 의해 다루어 지는 문제는 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법을 지정하는 것이며, 여기에서 이것은 분광 복사계(4)의 연속적인 재교정이 아니라 가장 중요한 교정이 필요할 때를 모니터링하는 것이다. 본 발명은, 정의된 스펙트럼을 갖는, 광학적 시스템 내로 통합된 기준 광원(5)에 의해 검출되는 분광 복사계(4)의 스펙트럼 감도의 변화, 파장 스케일의 변화, 및/또는 광 스루풋의 변화에 의해 이러한 문제를 해결한다. 선택적으로, 광학적 시스템 내에 통합된 적어도 하나의 검출기가 추가로 기준 광원(5)의 안정성을 모니터링할 수 있다. 또한, 본 발명의 방법을 수행하기 위한 디바이스에 관한 것이다. The invention relates to a method for monitoring a spectroradiometer (4), in particular for measuring light-emitting test objects (1), in which the spectral data of the test objects (1) are captured by means of an optical system, wherein the radiometric, photometric and/or colorimetric quantities of the test objects (1) are ascertained from the spectral data. The problem addressed by the invention is that of specifying a method for monitoring a spectroradiometer (4), where it is not the continuous recalibration of the spectroradiometer (4) but the monitoring of when a calibration is necessary that is paramount. The invention solves this problem by virtue of changes in the wavelength scale, in the light throughput and/or in the spectral sensitivity of the spectroradiometer (4) being detected by way of a reference light source (5), integrated into the optical system, with a defined spectrum. Optionally, at least one detector integrated into the optical system can additionally monitor the stability of the reference light source (5). Moreover, the invention relates to a device for carrying out the method.
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The invention relates to a method for monitoring a spectroradiometer (4), in particular for measuring light-emitting test objects (1), in which the spectral data of the test objects (1) are captured by means of an optical system, wherein the radiometric, photometric and/or colorimetric quantities of the test objects (1) are ascertained from the spectral data. The problem addressed by the invention is that of specifying a method for monitoring a spectroradiometer (4), where it is not the continuous recalibration of the spectroradiometer (4) but the monitoring of when a calibration is necessary that is paramount. The invention solves this problem by virtue of changes in the wavelength scale, in the light throughput and/or in the spectral sensitivity of the spectroradiometer (4) being detected by way of a reference light source (5), integrated into the optical system, with a defined spectrum. Optionally, at least one detector integrated into the optical system can additionally monitor the stability of the reference light source (5). Moreover, the invention relates to a device for carrying out the method.</description><language>kor</language><subject>COLORIMETRY ; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT ; MEASURING ; PHYSICS ; RADIATION PYROMETRY ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210628&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20210078474A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,777,882,25545,76296</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210628&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=20210078474A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>HOH MATHIAS</creatorcontrib><creatorcontrib>MANGSTL MARTIN</creatorcontrib><creatorcontrib>HARING RETO</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHEWE FLORIAN</creatorcontrib><creatorcontrib>KOPP THORSTEN</creatorcontrib><title>분광 복사계를 모니터링하기 위한 방법 및 디바이스</title><description>본 발명은, 특히 발광 테스트 물체들(1)을 측정하기 위한 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법에 관한 것으로서, 여기에서 테스트 물체들(1)의 스펙트럼 데이터는 광학적 시스템에 의해 캡처되고, 여기에서 테스트 물체들의 라디오메트릭(radiometric), 포토메트릭(photometric) 및/또는 컬러메트릭(colorimetric) 수량들이 스펙트럼 데이터로부터 확인된다. 본 발명에 의해 다루어 지는 문제는 분광 복사계(4)를 모니터링하기 위한 방법을 지정하는 것이며, 여기에서 이것은 분광 복사계(4)의 연속적인 재교정이 아니라 가장 중요한 교정이 필요할 때를 모니터링하는 것이다. 본 발명은, 정의된 스펙트럼을 갖는, 광학적 시스템 내로 통합된 기준 광원(5)에 의해 검출되는 분광 복사계(4)의 스펙트럼 감도의 변화, 파장 스케일의 변화, 및/또는 광 스루풋의 변화에 의해 이러한 문제를 해결한다. 선택적으로, 광학적 시스템 내에 통합된 적어도 하나의 검출기가 추가로 기준 광원(5)의 안정성을 모니터링할 수 있다. 또한, 본 발명의 방법을 수행하기 위한 디바이스에 관한 것이다. The invention relates to a method for monitoring a spectroradiometer (4), in particular for measuring light-emitting test objects (1), in which the spectral data of the test objects (1) are captured by means of an optical system, wherein the radiometric, photometric and/or colorimetric quantities of the test objects (1) are ascertained from the spectral data. The problem addressed by the invention is that of specifying a method for monitoring a spectroradiometer (4), where it is not the continuous recalibration of the spectroradiometer (4) but the monitoring of when a calibration is necessary that is paramount. The invention solves this problem by virtue of changes in the wavelength scale, in the light throughput and/or in the spectral sensitivity of the spectroradiometer (4) being detected by way of a reference light source (5), integrated into the optical system, with a defined spectrum. 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The invention relates to a method for monitoring a spectroradiometer (4), in particular for measuring light-emitting test objects (1), in which the spectral data of the test objects (1) are captured by means of an optical system, wherein the radiometric, photometric and/or colorimetric quantities of the test objects (1) are ascertained from the spectral data. The problem addressed by the invention is that of specifying a method for monitoring a spectroradiometer (4), where it is not the continuous recalibration of the spectroradiometer (4) but the monitoring of when a calibration is necessary that is paramount. The invention solves this problem by virtue of changes in the wavelength scale, in the light throughput and/or in the spectral sensitivity of the spectroradiometer (4) being detected by way of a reference light source (5), integrated into the optical system, with a defined spectrum. 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