OCT 측정 빔 조정을 위한 방법 및 컴퓨터 프로그램 제품

2개의 축(C, D)에 대해 틸트 가능하고(tiltable) 측정 빔(12)을 2차원적으로 편향시키는 측정 미러 스캐너(13)의 측정 좌표계(15)와, 2개의 축(A, B)에 대해 틸트 가능하고 측정 미러 스캐너(13)에 의해 편향된 측정 빔(12)과 프로세싱 빔(1) 둘 다를 2차원적으로 가공물(2) 상으로 편향시키는 프로세싱 미러 스캐너(7)의 프로세싱 좌표계(10) 간의 병진 편차 및/또는 회전 편차를 결정하기 위한 방법 - 가공물(2)에서 반사된 측정 빔(12')은 입사 측정 빔(12)의 경로 상에 복귀하고, 가공물...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	NOTHEIS THOMAS, SAUTER ALEXANDER, HERMANI JAN PATRICK, STAMBKE MARTIN
Format:	Patent
Sprache:	kor
Schlagworte:	CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING GYROSCOPIC INSTRUMENTS MACHINE TOOLS MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR NAVIGATION PERFORMING OPERATIONS PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY PHYSICS SOLDERING OR UNSOLDERING SURVEYING TESTING TRANSPORTING WELDING WORKING BY LASER BEAM
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