An X-ray Apparatus for Investigating an Inside of an Article

The present invention relates to an X-ray inspection device for inner inspection of an object. The device comprises: a shuttle (11a) for transferring objects (B1, B2); at least one inspection path (13_1 to 13_N) installed inside an inspection chamber (R); at least one inspection module (14a, 14b) di...

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Hauptverfasser: YOUNG BOK GO, YEONG NAM KIM, HYEONG CHEOL KIM, YONG HAN JANG, TAE YUNLEE, JAE DONGLEE
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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Beschreibung
Zusammenfassung:The present invention relates to an X-ray inspection device for inner inspection of an object. The device comprises: a shuttle (11a) for transferring objects (B1, B2); at least one inspection path (13_1 to 13_N) installed inside an inspection chamber (R); at least one inspection module (14a, 14b) disposed to be moveable on the inspection paths (13_1 to 13_N); and object transportation means (12a, 12b) moving the objects (B1, B2) to the inside of the inspection paths (13_1 to 13_N) or the outside of the inspection paths. 본 발명은 물품 내부 검사용 엑스레이 검사 장치에 관한 것이다. 물품 내부 검사용 엑스레이 장치는 물품(B1, B2)의 이송을 위한 셔틀(11a); 검사실(R)의 내부에 설치되는 적어도 하나의 검사 경로(13_1 내지 13_N); 검사 경로(13_1 내지 13_N)에 이동 가능하도록 배치되는 적어도 하나의 검사 모듈(14a, 14b); 및 검사 경로(13_1 내지 13_N)의 내부로 또는 검사 경로의 외부로 물품(B1, B2)을 이동시키는 물품 운반 수단(12a, 12b)을 포함한다.