저항기의 제조 방법, 그에 따른 저항기 및 그 제조 장치
본 발명은 특히, 저 저항 전류 측정용 저항기를 위한 전기 저항기(1)의 제조 방법에 관한 것으로서, 다음 단계들, 즉, a) 소정의 전기 부품 특성 값 (R)의 두께에 대응하는 일정한 두께를 갖는 저항기(1)용 판형 기부(9)를 제공하는 단계로서, 이 때 상기 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)은 바람직하게는 기부(9)의 전기 저항, 시트 저항 또는 횡 저항이며, b) 기부(9)를 소정의 압연의 정도(AG)로 압연하는 단계로서, 이 때 기부(9)의 두께는 압연의 정도(AG)에 따라서 감소하고 그에 다라서 전기 부품 특성(R)도 변...
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Format: | Patent |
Sprache: | kor |
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container_issue | |
container_start_page | |
container_title | |
container_volume | |
creator | ESCHER MARCUS HETZLER ULLRICH MARIEN JAN HARKE PAUL |
description | 본 발명은 특히, 저 저항 전류 측정용 저항기를 위한 전기 저항기(1)의 제조 방법에 관한 것으로서, 다음 단계들, 즉, a) 소정의 전기 부품 특성 값 (R)의 두께에 대응하는 일정한 두께를 갖는 저항기(1)용 판형 기부(9)를 제공하는 단계로서, 이 때 상기 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)은 바람직하게는 기부(9)의 전기 저항, 시트 저항 또는 횡 저항이며, b) 기부(9)를 소정의 압연의 정도(AG)로 압연하는 단계로서, 이 때 기부(9)의 두께는 압연의 정도(AG)에 따라서 감소하고 그에 다라서 전기 부품 특성(R)도 변화하며, c) 상기 압연된 기부(9)상의 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)을 측정하는 단계, 및 d) 측정된 전기 부품 특성(R)의 함수로서, 특히 제어 변수로서 전기 부품 특성(R) 및 제어 변수로서의 압연의 정도(AG)을 갖는 폐쇄 루프 제어 시스템의 맥락에서 압연의 정도(AG)의 적용 단계를 포함한다. 또한, 본 발명은 적절히 제조된 저항기 및 대응하는 제조 장치를 포함한다.
Furthermore, the invention includes an appropriately manufactured resistor and a corresponding production plant. |
format | Patent |
fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20180107154A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20180107154A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20180107154A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPB8s6Dh7dS1r3ZseDN3hsKbBXPeLNyg8HrDytebpuoovNq-4830CQqvp2x4vXSHAlwlUL4fJAdT_mbe0jc7Z_AwsKYl5hSn8kJpbgZlN9cQZw_d1IL8-NTigsTk1LzUknjvICMDQwsDQwNzQ1MTR2PiVAEA6TBJnw</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>저항기의 제조 방법, 그에 따른 저항기 및 그 제조 장치</title><source>esp@cenet</source><creator>ESCHER MARCUS ; HETZLER ULLRICH ; MARIEN JAN ; HARKE PAUL</creator><creatorcontrib>ESCHER MARCUS ; HETZLER ULLRICH ; MARIEN JAN ; HARKE PAUL</creatorcontrib><description>본 발명은 특히, 저 저항 전류 측정용 저항기를 위한 전기 저항기(1)의 제조 방법에 관한 것으로서, 다음 단계들, 즉, a) 소정의 전기 부품 특성 값 (R)의 두께에 대응하는 일정한 두께를 갖는 저항기(1)용 판형 기부(9)를 제공하는 단계로서, 이 때 상기 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)은 바람직하게는 기부(9)의 전기 저항, 시트 저항 또는 횡 저항이며, b) 기부(9)를 소정의 압연의 정도(AG)로 압연하는 단계로서, 이 때 기부(9)의 두께는 압연의 정도(AG)에 따라서 감소하고 그에 다라서 전기 부품 특성(R)도 변화하며, c) 상기 압연된 기부(9)상의 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)을 측정하는 단계, 및 d) 측정된 전기 부품 특성(R)의 함수로서, 특히 제어 변수로서 전기 부품 특성(R) 및 제어 변수로서의 압연의 정도(AG)을 갖는 폐쇄 루프 제어 시스템의 맥락에서 압연의 정도(AG)의 적용 단계를 포함한다. 또한, 본 발명은 적절히 제조된 저항기 및 대응하는 제조 장치를 포함한다.
Furthermore, the invention includes an appropriately manufactured resistor and a corresponding production plant.</description><language>kor</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRICITY ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; RESISTORS ; TESTING</subject><creationdate>2018</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20181001&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20180107154A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20181001&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20180107154A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ESCHER MARCUS</creatorcontrib><creatorcontrib>HETZLER ULLRICH</creatorcontrib><creatorcontrib>MARIEN JAN</creatorcontrib><creatorcontrib>HARKE PAUL</creatorcontrib><title>저항기의 제조 방법, 그에 따른 저항기 및 그 제조 장치</title><description>본 발명은 특히, 저 저항 전류 측정용 저항기를 위한 전기 저항기(1)의 제조 방법에 관한 것으로서, 다음 단계들, 즉, a) 소정의 전기 부품 특성 값 (R)의 두께에 대응하는 일정한 두께를 갖는 저항기(1)용 판형 기부(9)를 제공하는 단계로서, 이 때 상기 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)은 바람직하게는 기부(9)의 전기 저항, 시트 저항 또는 횡 저항이며, b) 기부(9)를 소정의 압연의 정도(AG)로 압연하는 단계로서, 이 때 기부(9)의 두께는 압연의 정도(AG)에 따라서 감소하고 그에 다라서 전기 부품 특성(R)도 변화하며, c) 상기 압연된 기부(9)상의 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)을 측정하는 단계, 및 d) 측정된 전기 부품 특성(R)의 함수로서, 특히 제어 변수로서 전기 부품 특성(R) 및 제어 변수로서의 압연의 정도(AG)을 갖는 폐쇄 루프 제어 시스템의 맥락에서 압연의 정도(AG)의 적용 단계를 포함한다. 또한, 본 발명은 적절히 제조된 저항기 및 대응하는 제조 장치를 포함한다.
Furthermore, the invention includes an appropriately manufactured resistor and a corresponding production plant.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RESISTORS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2018</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPB8s6Dh7dS1r3ZseDN3hsKbBXPeLNyg8HrDytebpuoovNq-4830CQqvp2x4vXSHAlwlUL4fJAdT_mbe0jc7Z_AwsKYl5hSn8kJpbgZlN9cQZw_d1IL8-NTigsTk1LzUknjvICMDQwsDQwNzQ1MTR2PiVAEA6TBJnw</recordid><startdate>20181001</startdate><enddate>20181001</enddate><creator>ESCHER MARCUS</creator><creator>HETZLER ULLRICH</creator><creator>MARIEN JAN</creator><creator>HARKE PAUL</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20181001</creationdate><title>저항기의 제조 방법, 그에 따른 저항기 및 그 제조 장치</title><author>ESCHER MARCUS ; HETZLER ULLRICH ; MARIEN JAN ; HARKE PAUL</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20180107154A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>kor</language><creationdate>2018</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>RESISTORS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ESCHER MARCUS</creatorcontrib><creatorcontrib>HETZLER ULLRICH</creatorcontrib><creatorcontrib>MARIEN JAN</creatorcontrib><creatorcontrib>HARKE PAUL</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ESCHER MARCUS</au><au>HETZLER ULLRICH</au><au>MARIEN JAN</au><au>HARKE PAUL</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>저항기의 제조 방법, 그에 따른 저항기 및 그 제조 장치</title><date>2018-10-01</date><risdate>2018</risdate><abstract>본 발명은 특히, 저 저항 전류 측정용 저항기를 위한 전기 저항기(1)의 제조 방법에 관한 것으로서, 다음 단계들, 즉, a) 소정의 전기 부품 특성 값 (R)의 두께에 대응하는 일정한 두께를 갖는 저항기(1)용 판형 기부(9)를 제공하는 단계로서, 이 때 상기 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)은 바람직하게는 기부(9)의 전기 저항, 시트 저항 또는 횡 저항이며, b) 기부(9)를 소정의 압연의 정도(AG)로 압연하는 단계로서, 이 때 기부(9)의 두께는 압연의 정도(AG)에 따라서 감소하고 그에 다라서 전기 부품 특성(R)도 변화하며, c) 상기 압연된 기부(9)상의 두께 의존적인 전기 부품 특성(R)을 측정하는 단계, 및 d) 측정된 전기 부품 특성(R)의 함수로서, 특히 제어 변수로서 전기 부품 특성(R) 및 제어 변수로서의 압연의 정도(AG)을 갖는 폐쇄 루프 제어 시스템의 맥락에서 압연의 정도(AG)의 적용 단계를 포함한다. 또한, 본 발명은 적절히 제조된 저항기 및 대응하는 제조 장치를 포함한다.
Furthermore, the invention includes an appropriately manufactured resistor and a corresponding production plant.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
fulltext | fulltext_linktorsrc |
identifier | |
ispartof | |
issn | |
language | kor |
recordid | cdi_epo_espacenet_KR20180107154A |
source | esp@cenet |
subjects | BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS RESISTORS TESTING |
title | 저항기의 제조 방법, 그에 따른 저항기 및 그 제조 장치 |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-28T05%3A01%3A07IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=ESCHER%20MARCUS&rft.date=2018-10-01&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20180107154A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |