DIAGNOSTIC APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE
The present invention relates to an apparatus to diagnose a semiconductor device. According to the present invention, the apparatus comprises: a switch installed between a semiconductor device to be diagnosed and a system where the semiconductor device is installed, so as to determine supplying driv...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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creator | CHOI, SUNG SOON |
description | The present invention relates to an apparatus to diagnose a semiconductor device. According to the present invention, the apparatus comprises: a switch installed between a semiconductor device to be diagnosed and a system where the semiconductor device is installed, so as to determine supplying driving current to the semiconductor device from the system; a switch controller to control on-off operation of the switch; a diagnostic signal provider to provide the semiconductor device with a diagnostic input signal for diagnosing the semiconductor device when the switch is turned off by the switch controller; and a state diagnostic device to diagnose a state of the semiconductor device according to a diagnostic output signal outputted from the semiconductor device receiving the diagnostic input signal. According to the present invention, an operation state of a semiconductor device can be reliably diagnosed in a state not separating the semiconductor device used as a part in a system from the system.
본 발명은 반도체 소자 진단장치에 관한 것이다. 본 발명은 진단 대상인 반도체 소자와 상기 반도체 소자가 설치된 시스템 사이에 설치되어 상기 시스템으로부터 상기 반도체 소자로의 구동전류의 공급여부를 결정하는 스위치, 상기 스위치의 온-오프(on-off) 동작을 제어하는 스위치 제어기, 상기 스위치 제어기에 의해 상기 스위치가 오프된 경우 상기 반도체 소자로 상기 반도체 소자를 진단하기 위한 진단 입력신호를 공급하는 진단신호 공급기 및 상기 진단 입력신호를 공급받은 반도체 소자가 출력하는 진단 출력신호에 따라 상기 반도체 소자의 상태를 진단하는 상태 진단기를 포함하여 구성된다. 본 발명에 따르면, 시스템 내에서 부품으로 사용되는 반도체 소자를 시스템으로부터 분리하지 않은 상태에서 그 동작 상태를 신뢰성있게 진단할 수 있는 효과가 있다. |
format | Patent |
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본 발명은 반도체 소자 진단장치에 관한 것이다. 본 발명은 진단 대상인 반도체 소자와 상기 반도체 소자가 설치된 시스템 사이에 설치되어 상기 시스템으로부터 상기 반도체 소자로의 구동전류의 공급여부를 결정하는 스위치, 상기 스위치의 온-오프(on-off) 동작을 제어하는 스위치 제어기, 상기 스위치 제어기에 의해 상기 스위치가 오프된 경우 상기 반도체 소자로 상기 반도체 소자를 진단하기 위한 진단 입력신호를 공급하는 진단신호 공급기 및 상기 진단 입력신호를 공급받은 반도체 소자가 출력하는 진단 출력신호에 따라 상기 반도체 소자의 상태를 진단하는 상태 진단기를 포함하여 구성된다. 본 발명에 따르면, 시스템 내에서 부품으로 사용되는 반도체 소자를 시스템으로부터 분리하지 않은 상태에서 그 동작 상태를 신뢰성있게 진단할 수 있는 효과가 있다.</description><language>eng ; kor</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2016</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20161116&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20160131709A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76294</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20161116&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20160131709A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>CHOI, SUNG SOON</creatorcontrib><title>DIAGNOSTIC APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE</title><description>The present invention relates to an apparatus to diagnose a semiconductor device. According to the present invention, the apparatus comprises: a switch installed between a semiconductor device to be diagnosed and a system where the semiconductor device is installed, so as to determine supplying driving current to the semiconductor device from the system; a switch controller to control on-off operation of the switch; a diagnostic signal provider to provide the semiconductor device with a diagnostic input signal for diagnosing the semiconductor device when the switch is turned off by the switch controller; and a state diagnostic device to diagnose a state of the semiconductor device according to a diagnostic output signal outputted from the semiconductor device receiving the diagnostic input signal. According to the present invention, an operation state of a semiconductor device can be reliably diagnosed in a state not separating the semiconductor device used as a part in a system from the system.
본 발명은 반도체 소자 진단장치에 관한 것이다. 본 발명은 진단 대상인 반도체 소자와 상기 반도체 소자가 설치된 시스템 사이에 설치되어 상기 시스템으로부터 상기 반도체 소자로의 구동전류의 공급여부를 결정하는 스위치, 상기 스위치의 온-오프(on-off) 동작을 제어하는 스위치 제어기, 상기 스위치 제어기에 의해 상기 스위치가 오프된 경우 상기 반도체 소자로 상기 반도체 소자를 진단하기 위한 진단 입력신호를 공급하는 진단신호 공급기 및 상기 진단 입력신호를 공급받은 반도체 소자가 출력하는 진단 출력신호에 따라 상기 반도체 소자의 상태를 진단하는 상태 진단기를 포함하여 구성된다. 본 발명에 따르면, 시스템 내에서 부품으로 사용되는 반도체 소자를 시스템으로부터 분리하지 않은 상태에서 그 동작 상태를 신뢰성있게 진단할 수 있는 효과가 있다.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNBx8XR09_MPDvF0VnAMCHAMcgwJDVbwd1MIdvX1dPb3cwl1DvEPUnBxDfN0duVhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHeQUYGhmYGhsaG5gaWjsbEqQIAOa8mJQ</recordid><startdate>20161116</startdate><enddate>20161116</enddate><creator>CHOI, SUNG SOON</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20161116</creationdate><title>DIAGNOSTIC APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE</title><author>CHOI, SUNG SOON</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20160131709A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2016</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>CHOI, SUNG SOON</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>CHOI, SUNG SOON</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DIAGNOSTIC APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE</title><date>2016-11-16</date><risdate>2016</risdate><abstract>The present invention relates to an apparatus to diagnose a semiconductor device. According to the present invention, the apparatus comprises: a switch installed between a semiconductor device to be diagnosed and a system where the semiconductor device is installed, so as to determine supplying driving current to the semiconductor device from the system; a switch controller to control on-off operation of the switch; a diagnostic signal provider to provide the semiconductor device with a diagnostic input signal for diagnosing the semiconductor device when the switch is turned off by the switch controller; and a state diagnostic device to diagnose a state of the semiconductor device according to a diagnostic output signal outputted from the semiconductor device receiving the diagnostic input signal. According to the present invention, an operation state of a semiconductor device can be reliably diagnosed in a state not separating the semiconductor device used as a part in a system from the system.
본 발명은 반도체 소자 진단장치에 관한 것이다. 본 발명은 진단 대상인 반도체 소자와 상기 반도체 소자가 설치된 시스템 사이에 설치되어 상기 시스템으로부터 상기 반도체 소자로의 구동전류의 공급여부를 결정하는 스위치, 상기 스위치의 온-오프(on-off) 동작을 제어하는 스위치 제어기, 상기 스위치 제어기에 의해 상기 스위치가 오프된 경우 상기 반도체 소자로 상기 반도체 소자를 진단하기 위한 진단 입력신호를 공급하는 진단신호 공급기 및 상기 진단 입력신호를 공급받은 반도체 소자가 출력하는 진단 출력신호에 따라 상기 반도체 소자의 상태를 진단하는 상태 진단기를 포함하여 구성된다. 본 발명에 따르면, 시스템 내에서 부품으로 사용되는 반도체 소자를 시스템으로부터 분리하지 않은 상태에서 그 동작 상태를 신뢰성있게 진단할 수 있는 효과가 있다.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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