SENSOR SELECTION BASED ON CONTEXT AND POLICY
여기서 논의된 실시형태들은, 여러 가지 상이한 센서 유형들 및 구성들을 위하여 그리고 여러 가지 상이한 현상들을 검출하기 위하여 제공하는 컨텍스트 및 정책에 기초하여 센서 선택을 가능하게 한다. 적어도 일부 실시형태들에 있어서, 센서 허브는, 센서 선택을 위한 파라미터들을 지정하는 정책들에 대한 컨텍스트의 애플리케이션에 기초하여 여러 가지 기능들로부터의 센서 데이터에 대한 요청들을 수신하고, 그 센서 데이터를 제공하기 위하여 센서들을 선택하는데 사용된다. Embodiments discussed herein enable sensor...
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| Format: | Patent |
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| creator | SESHAN NATARAJAN KURIAN HALLMAN KIMBERLY D. A PARKER MATTHEW JAMES BLUMING JASON B |
| description | 여기서 논의된 실시형태들은, 여러 가지 상이한 센서 유형들 및 구성들을 위하여 그리고 여러 가지 상이한 현상들을 검출하기 위하여 제공하는 컨텍스트 및 정책에 기초하여 센서 선택을 가능하게 한다. 적어도 일부 실시형태들에 있어서, 센서 허브는, 센서 선택을 위한 파라미터들을 지정하는 정책들에 대한 컨텍스트의 애플리케이션에 기초하여 여러 가지 기능들로부터의 센서 데이터에 대한 요청들을 수신하고, 그 센서 데이터를 제공하기 위하여 센서들을 선택하는데 사용된다.
Embodiments discussed herein enable sensor selection based on context and policy to provide for a variety of different sensor types and configurations, and for detecting a variety of different phenomena. In at least some embodiments, a sensor hub is employed to receive requests for sensor data from various functionalities and to select sensors to provide the sensor data based on application of context to policies that specify parameters for sensor selection. |
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Embodiments discussed herein enable sensor selection based on context and policy to provide for a variety of different sensor types and configurations, and for detecting a variety of different phenomena. In at least some embodiments, a sensor hub is employed to receive requests for sensor data from various functionalities and to select sensors to provide the sensor data based on application of context to policies that specify parameters for sensor selection.</description><language>eng ; kor</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; MEASURING ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2016</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20160708&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20160082592A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,777,882,25545,76296</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20160708&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20160082592A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SESHAN NATARAJAN KURIAN</creatorcontrib><creatorcontrib>HALLMAN KIMBERLY D. A</creatorcontrib><creatorcontrib>PARKER MATTHEW JAMES</creatorcontrib><creatorcontrib>BLUMING JASON B</creatorcontrib><title>SENSOR SELECTION BASED ON CONTEXT AND POLICY</title><description>여기서 논의된 실시형태들은, 여러 가지 상이한 센서 유형들 및 구성들을 위하여 그리고 여러 가지 상이한 현상들을 검출하기 위하여 제공하는 컨텍스트 및 정책에 기초하여 센서 선택을 가능하게 한다. 적어도 일부 실시형태들에 있어서, 센서 허브는, 센서 선택을 위한 파라미터들을 지정하는 정책들에 대한 컨텍스트의 애플리케이션에 기초하여 여러 가지 기능들로부터의 센서 데이터에 대한 요청들을 수신하고, 그 센서 데이터를 제공하기 위하여 센서들을 선택하는데 사용된다.
Embodiments discussed herein enable sensor selection based on context and policy to provide for a variety of different sensor types and configurations, and for detecting a variety of different phenomena. In at least some embodiments, a sensor hub is employed to receive requests for sensor data from various functionalities and to select sensors to provide the sensor data based on application of context to policies that specify parameters for sensor selection.</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNAJdvUL9g9SCHb1cXUO8fT3U3ByDHZ1UQAynP39QlwjQhQc_VwUAvx9PJ0jeRhY0xJzilN5oTQ3g7Kba4izh25qQX58anFBYnJqXmpJvHeQkYGhmYGBhZGppZGjMXGqACQVJfk</recordid><startdate>20160708</startdate><enddate>20160708</enddate><creator>SESHAN NATARAJAN KURIAN</creator><creator>HALLMAN KIMBERLY D. A</creator><creator>PARKER MATTHEW JAMES</creator><creator>BLUMING JASON B</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20160708</creationdate><title>SENSOR SELECTION BASED ON CONTEXT AND POLICY</title><author>SESHAN NATARAJAN KURIAN ; HALLMAN KIMBERLY D. A ; PARKER MATTHEW JAMES ; BLUMING JASON B</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20160082592A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2016</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SESHAN NATARAJAN KURIAN</creatorcontrib><creatorcontrib>HALLMAN KIMBERLY D. A</creatorcontrib><creatorcontrib>PARKER MATTHEW JAMES</creatorcontrib><creatorcontrib>BLUMING JASON B</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SESHAN NATARAJAN KURIAN</au><au>HALLMAN KIMBERLY D. A</au><au>PARKER MATTHEW JAMES</au><au>BLUMING JASON B</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SENSOR SELECTION BASED ON CONTEXT AND POLICY</title><date>2016-07-08</date><risdate>2016</risdate><abstract>여기서 논의된 실시형태들은, 여러 가지 상이한 센서 유형들 및 구성들을 위하여 그리고 여러 가지 상이한 현상들을 검출하기 위하여 제공하는 컨텍스트 및 정책에 기초하여 센서 선택을 가능하게 한다. 적어도 일부 실시형태들에 있어서, 센서 허브는, 센서 선택을 위한 파라미터들을 지정하는 정책들에 대한 컨텍스트의 애플리케이션에 기초하여 여러 가지 기능들로부터의 센서 데이터에 대한 요청들을 수신하고, 그 센서 데이터를 제공하기 위하여 센서들을 선택하는데 사용된다.
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