A TESTER WITH MIXED PROTOCOL ENGINE IN A FPGA BLOCK

반도체 디바이스의 고속 시험을 수행하는 것이 가능한 자동화된 시험 장비(Automated Test Equipment: ATE)가 제시된다. 자동화된 시험 장비는 시험 프로그램을 제어하기 위한 시스템 제어기를 포함하고, 시스템 제어기는 버스에 연결된다. 시험기 시스템은 버스에 또한 연결된 복수의 모듈을 더 포함하고, 각 모듈은 복수의 DUT를 시험하도록 작동가능하다. 모듈의 각각은 버스에 연결된 시험기 프로세서 및 시험기 프로세서에 통신가능하게 연결된 복수의 구성가능한 블록을 포함한다. 구성가능한 블록의 각각은 연관된 DUT와 통신하도록 작동가능하고 연관된 피시험 디바이스로 그리고 이로부터 시험 데이터를 전달하기 위한 통신 프로토콜로 프로그래밍되도록 더 작동가능하다. Automated test equipment capable of performing a high-speed test of semiconductor devices is presented. The automated test equipment comprises a system controller for controlling a test program, wherein the system controller is coupled to a bus. The tester system further comprises a plurality of modules also coupled to the bus, where each module is operable to test a plurality of DUTs. Each of the modules comprises a tester processor coupled to the bus and a plurality of configurable blocks communicatively coupled to the tester processor. Each of the configurable blocks is operable to communicate with an associated DUT and further operable to be programmed with a communication protocol for communicating test data to and from said associated device under test.