BEAM POSITION CONTROL FOR AN EXTREME ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE

극자외(extreme ultraviolet) 광원용 시스템은, 타겟 재료와 상호작용하는 조사 증폭 광빔(irradiating amplified light beam)의 적어도 일부분의 반사를 포함하는 반사 증폭 광빔을 수신하고 반사 증폭 광빔을 제1 채널, 제2 채널, 및 제3 채널로 지향시키도록 위치된 하나 이상의 광학 요소와, 제1 채널로부터의 광을 감지하는 제1 센서와, 제2 채널 및 제3 채널로부터의 광을 감지하며, 제1 센서보다 낮은 획득률을 갖는 제2 센서를 포함한다. A system for an extreme ultrav...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	FOMENKOV IGOR V, FLEUROV VLADIMIR B
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY X-RAY TECHNIQUE
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