WAVEGUIDE TESTER FOR MEASURING SURFACE REFLECTION CHARACTERISTICS
A technical objective of the present invention is to provide a waveguide tester for measuring surface reflection properties capable of testing unit array elements at different intervals. The waveguide tester for measuring surface reflection properties comprises a connector; a waveguide connected to...
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| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; kor |
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| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | MOON, SANG MAN KIM, IN KYU |
| description | A technical objective of the present invention is to provide a waveguide tester for measuring surface reflection properties capable of testing unit array elements at different intervals. The waveguide tester for measuring surface reflection properties comprises a connector; a waveguide connected to the connector to guide waves. The waveguide comprises a standard tube part having a first internal tube pipe of the same size lengthwise, which is connected to the connector; and an extended tube part extending from one end of the standard pipe. The extended tube part has a second internal tube pipe, which increases in size toward the other end.
본 발명은 하나의 도판관 시험기로 소자 간 거리를 다양하게 갖는 단위 배열소자를 검사할 수 있는 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기를 제공하는 것이 그 기술적 과제이다. 이를 위해, 본 발명의 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기는, 커넥터를 포함하는 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기에 있어서, 상기 커넥터에 연결되며 파를 안내하는 도파관을 포함하고, 상기 도파관은, 상기 커넥터에 연결되며 길이 방향을 따라 동일한 크기의 제1 내부 관로를 갖는 표준 관부; 및 상기 표준 관부에 일단이 연장되어 타단으로 갈수록 크기가 점점 커지는 제2 내부 관로를 갖는 확장 관부를 포함한다. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_KR20150057494A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>KR20150057494A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_KR20150057494A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZHAMdwxzdQ_1dHFVCHENDnENUnDzD1LwdXUMDg3y9HNXAFJujs6uCkGubj6uziGe_n4Kzh6OQY7OQKWewSGezsE8DKxpiTnFqbxQmptB2c01xNlDN7UgPz61uCAxOTUvtSTeO8jIwNDUwMDU3MTSxNGYOFUAqJMsKA</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>WAVEGUIDE TESTER FOR MEASURING SURFACE REFLECTION CHARACTERISTICS</title><source>esp@cenet</source><creator>MOON, SANG MAN ; KIM, IN KYU</creator><creatorcontrib>MOON, SANG MAN ; KIM, IN KYU</creatorcontrib><description>A technical objective of the present invention is to provide a waveguide tester for measuring surface reflection properties capable of testing unit array elements at different intervals. The waveguide tester for measuring surface reflection properties comprises a connector; a waveguide connected to the connector to guide waves. The waveguide comprises a standard tube part having a first internal tube pipe of the same size lengthwise, which is connected to the connector; and an extended tube part extending from one end of the standard pipe. The extended tube part has a second internal tube pipe, which increases in size toward the other end.
본 발명은 하나의 도판관 시험기로 소자 간 거리를 다양하게 갖는 단위 배열소자를 검사할 수 있는 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기를 제공하는 것이 그 기술적 과제이다. 이를 위해, 본 발명의 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기는, 커넥터를 포함하는 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기에 있어서, 상기 커넥터에 연결되며 파를 안내하는 도파관을 포함하고, 상기 도파관은, 상기 커넥터에 연결되며 길이 방향을 따라 동일한 크기의 제1 내부 관로를 갖는 표준 관부; 및 상기 표준 관부에 일단이 연장되어 타단으로 갈수록 크기가 점점 커지는 제2 내부 관로를 갖는 확장 관부를 포함한다.</description><language>eng ; kor</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; ELECTRICITY ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE ; TESTING ; WAVEGUIDES</subject><creationdate>2015</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20150528&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20150057494A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20150528&DB=EPODOC&CC=KR&NR=20150057494A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>MOON, SANG MAN</creatorcontrib><creatorcontrib>KIM, IN KYU</creatorcontrib><title>WAVEGUIDE TESTER FOR MEASURING SURFACE REFLECTION CHARACTERISTICS</title><description>A technical objective of the present invention is to provide a waveguide tester for measuring surface reflection properties capable of testing unit array elements at different intervals. The waveguide tester for measuring surface reflection properties comprises a connector; a waveguide connected to the connector to guide waves. The waveguide comprises a standard tube part having a first internal tube pipe of the same size lengthwise, which is connected to the connector; and an extended tube part extending from one end of the standard pipe. The extended tube part has a second internal tube pipe, which increases in size toward the other end.
본 발명은 하나의 도판관 시험기로 소자 간 거리를 다양하게 갖는 단위 배열소자를 검사할 수 있는 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기를 제공하는 것이 그 기술적 과제이다. 이를 위해, 본 발명의 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기는, 커넥터를 포함하는 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기에 있어서, 상기 커넥터에 연결되며 파를 안내하는 도파관을 포함하고, 상기 도파관은, 상기 커넥터에 연결되며 길이 방향을 따라 동일한 크기의 제1 내부 관로를 갖는 표준 관부; 및 상기 표준 관부에 일단이 연장되어 타단으로 갈수록 크기가 점점 커지는 제2 내부 관로를 갖는 확장 관부를 포함한다.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE</subject><subject>TESTING</subject><subject>WAVEGUIDES</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2015</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHAMdwxzdQ_1dHFVCHENDnENUnDzD1LwdXUMDg3y9HNXAFJujs6uCkGubj6uziGe_n4Kzh6OQY7OQKWewSGezsE8DKxpiTnFqbxQmptB2c01xNlDN7UgPz61uCAxOTUvtSTeO8jIwNDUwMDU3MTSxNGYOFUAqJMsKA</recordid><startdate>20150528</startdate><enddate>20150528</enddate><creator>MOON, SANG MAN</creator><creator>KIM, IN KYU</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20150528</creationdate><title>WAVEGUIDE TESTER FOR MEASURING SURFACE REFLECTION CHARACTERISTICS</title><author>MOON, SANG MAN ; KIM, IN KYU</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_KR20150057494A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; kor</language><creationdate>2015</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE</topic><topic>TESTING</topic><topic>WAVEGUIDES</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>MOON, SANG MAN</creatorcontrib><creatorcontrib>KIM, IN KYU</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>MOON, SANG MAN</au><au>KIM, IN KYU</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>WAVEGUIDE TESTER FOR MEASURING SURFACE REFLECTION CHARACTERISTICS</title><date>2015-05-28</date><risdate>2015</risdate><abstract>A technical objective of the present invention is to provide a waveguide tester for measuring surface reflection properties capable of testing unit array elements at different intervals. The waveguide tester for measuring surface reflection properties comprises a connector; a waveguide connected to the connector to guide waves. The waveguide comprises a standard tube part having a first internal tube pipe of the same size lengthwise, which is connected to the connector; and an extended tube part extending from one end of the standard pipe. The extended tube part has a second internal tube pipe, which increases in size toward the other end.
본 발명은 하나의 도판관 시험기로 소자 간 거리를 다양하게 갖는 단위 배열소자를 검사할 수 있는 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기를 제공하는 것이 그 기술적 과제이다. 이를 위해, 본 발명의 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기는, 커넥터를 포함하는 표면반사 특성 측정용 도파관 시험기에 있어서, 상기 커넥터에 연결되며 파를 안내하는 도파관을 포함하고, 상기 도파관은, 상기 커넥터에 연결되며 길이 방향을 따라 동일한 크기의 제1 내부 관로를 갖는 표준 관부; 및 상기 표준 관부에 일단이 연장되어 타단으로 갈수록 크기가 점점 커지는 제2 내부 관로를 갖는 확장 관부를 포함한다.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | eng ; kor |
| recordid | cdi_epo_espacenet_KR20150057494A |
| source | esp@cenet |
| subjects | BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRICITY MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE TESTING WAVEGUIDES |
| title | WAVEGUIDE TESTER FOR MEASURING SURFACE REFLECTION CHARACTERISTICS |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-25T20%3A18%3A10IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=MOON,%20SANG%20MAN&rft.date=2015-05-28&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EKR20150057494A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |