DEVICE FOR EVALUATING SURFACE STATE OF METAL MATERIAL, DEVICE FOR EVALUATING VISIBILITY OF TRANSPARENT SUBSTRATE, EVALUATION PROGRAM THEREOF, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM RECORDING SAME

금속 재료의 표면 상태를 효율적으로 정확하게 평가한다. 금속 재료의 표면 상태 평가 장치는, 금속 재료의 표면을 투명 기재의 적어도 일방의 면에 접합한 후에, 금속 재료의 적어도 일부를 에칭에 의해 제거하고, 투명 기재 아래에 존재하는 마크를 투명 기재 너머로 촬영하는 촬영 수단과, 얻어진 화상에 대해 관찰된 마크를 가로지르는 방향을 따라 관찰 지점마다의 명도를 측정하여 관찰 지점-명도 그래프를 제작하는 관찰 지점-명도 그래프 제작 수단과, 마크의 단부로부터 마크가 없는 부분에 걸쳐 생기는 명도 곡선의 기울기에 의해 투명 기재의 시...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	ARAI HIDETA, ARAI KOHSUKE, NAKAMURO KAICHIRO, MIKI ATSUSHI
Format:	Patent
Sprache:	eng ; kor
Schlagworte:	CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS MEASURING PHYSICS PRINTED CIRCUITS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	금속 재료의 표면 상태를 효율적으로 정확하게 평가한다. 금속 재료의 표면 상태 평가 장치는, 금속 재료의 표면을 투명 기재의 적어도 일방의 면에 접합한 후에, 금속 재료의 적어도 일부를 에칭에 의해 제거하고, 투명 기재 아래에 존재하는 마크를 투명 기재 너머로 촬영하는 촬영 수단과, 얻어진 화상에 대해 관찰된 마크를 가로지르는 방향을 따라 관찰 지점마다의 명도를 측정하여 관찰 지점-명도 그래프를 제작하는 관찰 지점-명도 그래프 제작 수단과, 마크의 단부로부터 마크가 없는 부분에 걸쳐 생기는 명도 곡선의 기울기에 의해 투명 기재의 시인성을 평가하고, 평가 결과에 기초하여 금속 재료의 표면 상태를 평가하는 금속 재료 표면 상태 평가 수단을 구비한다. 금속 재료 표면 상태 평가 수단은, 관찰 지점-명도 그래프에 있어서, (1) 식으로 정의되는 Sv 를 이용하여 시인성 평가를 실시하고, 시인성의 평가 결과에 기초하여 금속 재료의 표면 상태를 평가한다. Sv = (ΔB × 0.1) / (t1 － t2) (1)