Multi-probe unit for display inspection

The present invention relates to a multi-probe unit for display inspection. According to the present invention, the positions of probe blocks can be individually aligned in accordance with the position of contact. The present invention includes: a base plate (100); a transfer block (200) moving in t...

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Hauptverfasser: LEE SUK WOO, OH SEUNG HYUK, LEE SANG YUN, MOON YOUNG HO, PARK KUM SUNG
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
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creator LEE SUK WOO
OH SEUNG HYUK
LEE SANG YUN
MOON YOUNG HO
PARK KUM SUNG
description The present invention relates to a multi-probe unit for display inspection. According to the present invention, the positions of probe blocks can be individually aligned in accordance with the position of contact. The present invention includes: a base plate (100); a transfer block (200) moving in the left-right direction along the base plate; probe blocks (300) coupled to the base plate so as to be movable in the left-right direction in front of the transfer block; a sensor module (400) provided on the transfer block and measuring the height and position in the left-right direction of the probe block; a first align unit (340) provided on the probe block and aligning the contact position of the probe block in the up-down direction; a second align unit (210) provided on the transfer block and aligning the contact position of the facing probe block in the left-right direction; and a control unit (500) receiving height and position information on each probe block from the sensor module and controlling the driving of the transfer block, the first align unit, and the second align unit. 본 발명은 컨택 위치에 따라 프로브블럭들의 위치를 개별적으로 정렬시킬 수 있도록 된 디스플레이 검사용 멀티 프로브 유닛에 관한 것이다. 본 발명의 디스플레이 검사용 멀티 프로브 유닛은 베이스플레이트(100)와, 상기 베이스플레이트를 따라 좌우방향으로 이동하는 이송블럭(200)과, 상기 이송블럭의 전방에서 상기 베이스플레이트에 좌우방향으로 이동가능하게 결합되는 다수의 프로브블럭(300)과, 상기 이송블럭에 구비되어 상기 프로브블럭의 높이와 좌우방향 위치를 측정하는 센서모듈(400)과, 상기 프로브블럭에 구비되어 프로브블럭의 컨택 위치를 상하방향으로 정렬시키는 제1얼라인유닛(340)과, 상기 이송블럭에 구비되어 마주하는 프로브블럭의 컨택 위치를 좌우방향으로 정렬시키는 제2얼라인유닛(210)과, 상기 센서모듈로부터 각 프로브블럭의 높이와 위치정보를 전달받아 상기 이송블럭과 제1얼라인유닛과 제2얼라인유닛의 구동을 제어하는 제어부(500)를 포함한다.
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According to the present invention, the positions of probe blocks can be individually aligned in accordance with the position of contact. The present invention includes: a base plate (100); a transfer block (200) moving in the left-right direction along the base plate; probe blocks (300) coupled to the base plate so as to be movable in the left-right direction in front of the transfer block; a sensor module (400) provided on the transfer block and measuring the height and position in the left-right direction of the probe block; a first align unit (340) provided on the probe block and aligning the contact position of the probe block in the up-down direction; a second align unit (210) provided on the transfer block and aligning the contact position of the facing probe block in the left-right direction; and a control unit (500) receiving height and position information on each probe block from the sensor module and controlling the driving of the transfer block, the first align unit, and the second align unit. 본 발명은 컨택 위치에 따라 프로브블럭들의 위치를 개별적으로 정렬시킬 수 있도록 된 디스플레이 검사용 멀티 프로브 유닛에 관한 것이다. 본 발명의 디스플레이 검사용 멀티 프로브 유닛은 베이스플레이트(100)와, 상기 베이스플레이트를 따라 좌우방향으로 이동하는 이송블럭(200)과, 상기 이송블럭의 전방에서 상기 베이스플레이트에 좌우방향으로 이동가능하게 결합되는 다수의 프로브블럭(300)과, 상기 이송블럭에 구비되어 상기 프로브블럭의 높이와 좌우방향 위치를 측정하는 센서모듈(400)과, 상기 프로브블럭에 구비되어 프로브블럭의 컨택 위치를 상하방향으로 정렬시키는 제1얼라인유닛(340)과, 상기 이송블럭에 구비되어 마주하는 프로브블럭의 컨택 위치를 좌우방향으로 정렬시키는 제2얼라인유닛(210)과, 상기 센서모듈로부터 각 프로브블럭의 높이와 위치정보를 전달받아 상기 이송블럭과 제1얼라인유닛과 제2얼라인유닛의 구동을 제어하는 제어부(500)를 포함한다.</description><language>eng ; kor</language><subject>ADVERTISING ; ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICESUSING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION ; CRYPTOGRAPHY ; DISPLAY ; EDUCATION ; MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; SEALS ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210906&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=102298183B1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20210906&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=102298183B1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>LEE SUK WOO</creatorcontrib><creatorcontrib>OH SEUNG HYUK</creatorcontrib><creatorcontrib>LEE SANG YUN</creatorcontrib><creatorcontrib>MOON YOUNG HO</creatorcontrib><creatorcontrib>PARK KUM SUNG</creatorcontrib><title>Multi-probe unit for display inspection</title><description>The present invention relates to a multi-probe unit for display inspection. 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The present invention includes: a base plate (100); a transfer block (200) moving in the left-right direction along the base plate; probe blocks (300) coupled to the base plate so as to be movable in the left-right direction in front of the transfer block; a sensor module (400) provided on the transfer block and measuring the height and position in the left-right direction of the probe block; a first align unit (340) provided on the probe block and aligning the contact position of the probe block in the up-down direction; a second align unit (210) provided on the transfer block and aligning the contact position of the facing probe block in the left-right direction; and a control unit (500) receiving height and position information on each probe block from the sensor module and controlling the driving of the transfer block, the first align unit, and the second align unit. 본 발명은 컨택 위치에 따라 프로브블럭들의 위치를 개별적으로 정렬시킬 수 있도록 된 디스플레이 검사용 멀티 프로브 유닛에 관한 것이다. 본 발명의 디스플레이 검사용 멀티 프로브 유닛은 베이스플레이트(100)와, 상기 베이스플레이트를 따라 좌우방향으로 이동하는 이송블럭(200)과, 상기 이송블럭의 전방에서 상기 베이스플레이트에 좌우방향으로 이동가능하게 결합되는 다수의 프로브블럭(300)과, 상기 이송블럭에 구비되어 상기 프로브블럭의 높이와 좌우방향 위치를 측정하는 센서모듈(400)과, 상기 프로브블럭에 구비되어 프로브블럭의 컨택 위치를 상하방향으로 정렬시키는 제1얼라인유닛(340)과, 상기 이송블럭에 구비되어 마주하는 프로브블럭의 컨택 위치를 좌우방향으로 정렬시키는 제2얼라인유닛(210)과, 상기 센서모듈로부터 각 프로브블럭의 높이와 위치정보를 전달받아 상기 이송블럭과 제1얼라인유닛과 제2얼라인유닛의 구동을 제어하는 제어부(500)를 포함한다.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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