APPARATUS AND METHOD FOR SENSING TEMPERATURE

APPARATUS AND METHOD FOR SENSING TEMPERATURE

온도 감지 장치 및 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 온도 감지 장치는, 펄스 신호를 포함하는 입사광의 주파수를 변경하면서 상기 입사광을 감지 광섬유로 입사하는 광 발생기; 상기 감지 광섬유의 제1 위치에 포함된 브래그 격자 구조; 상기 입사광을 통과시키고, 상기 감지 광섬유로부터 되돌아오는 출력광을 광 필터로 전달하는 광 순환기; 상기 출력광으로부터 스토크스 광, 안티-스토크스 광 및 브래그 반사광을 분리하는 광 필터; 및 상기 스토크스 광 및 상기 안티-스토크스 광을 기초로 상기 제1 위치의 제1 온도를 결정하고, 상기 브래그...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: YONG JAE CHUL, LEE BONG WAN
Format: Patent
Sprache:eng ; kor
Schlagworte:
MEASURING
MEASURING QUANTITY OF HEAT
MEASURING TEMPERATURE
PHYSICS
TESTING
THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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creator YONG JAE CHUL
LEE BONG WAN
description 온도 감지 장치 및 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 온도 감지 장치는, 펄스 신호를 포함하는 입사광의 주파수를 변경하면서 상기 입사광을 감지 광섬유로 입사하는 광 발생기; 상기 감지 광섬유의 제1 위치에 포함된 브래그 격자 구조; 상기 입사광을 통과시키고, 상기 감지 광섬유로부터 되돌아오는 출력광을 광 필터로 전달하는 광 순환기; 상기 출력광으로부터 스토크스 광, 안티-스토크스 광 및 브래그 반사광을 분리하는 광 필터; 및 상기 스토크스 광 및 상기 안티-스토크스 광을 기초로 상기 제1 위치의 제1 온도를 결정하고, 상기 브래그 반사광을 기초로 상기 제1 위치의 제2 온도를 결정하고, 상기 제1 온도와 상기 제2 온도를 비교하여 상기 광섬유의 제2 위치의 온도 오차를 보정하는 신호처리기를 포함하고, 상기 출력광은 상기 입사광 중에서 상기 브래그 파장의 광이 상기 브래그 격자 구조에 의해 반사되어 생성된 상기 브래그 반사광과 라만 산란에 의한 산란광을 포함한다.
format Patent
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및 상기 스토크스 광 및 상기 안티-스토크스 광을 기초로 상기 제1 위치의 제1 온도를 결정하고, 상기 브래그 반사광을 기초로 상기 제1 위치의 제2 온도를 결정하고, 상기 제1 온도와 상기 제2 온도를 비교하여 상기 광섬유의 제2 위치의 온도 오차를 보정하는 신호처리기를 포함하고, 상기 출력광은 상기 입사광 중에서 상기 브래그 파장의 광이 상기 브래그 격자 구조에 의해 반사되어 생성된 상기 브래그 반사광과 라만 산란에 의한 산란광을 포함한다.</description><language>eng ; kor</language><subject>MEASURING ; MEASURING QUANTITY OF HEAT ; MEASURING TEMPERATURE ; PHYSICS ; TESTING ; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20201124&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=102182220B1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20201124&amp;DB=EPODOC&amp;CC=KR&amp;NR=102182220B1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>YONG JAE CHUL</creatorcontrib><creatorcontrib>LEE BONG WAN</creatorcontrib><title>APPARATUS AND METHOD FOR SENSING TEMPERATURE</title><description>온도 감지 장치 및 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 온도 감지 장치는, 펄스 신호를 포함하는 입사광의 주파수를 변경하면서 상기 입사광을 감지 광섬유로 입사하는 광 발생기; 상기 감지 광섬유의 제1 위치에 포함된 브래그 격자 구조; 상기 입사광을 통과시키고, 상기 감지 광섬유로부터 되돌아오는 출력광을 광 필터로 전달하는 광 순환기; 상기 출력광으로부터 스토크스 광, 안티-스토크스 광 및 브래그 반사광을 분리하는 광 필터; 및 상기 스토크스 광 및 상기 안티-스토크스 광을 기초로 상기 제1 위치의 제1 온도를 결정하고, 상기 브래그 반사광을 기초로 상기 제1 위치의 제2 온도를 결정하고, 상기 제1 온도와 상기 제2 온도를 비교하여 상기 광섬유의 제2 위치의 온도 오차를 보정하는 신호처리기를 포함하고, 상기 출력광은 상기 입사광 중에서 상기 브래그 파장의 광이 상기 브래그 격자 구조에 의해 반사되어 생성된 상기 브래그 반사광과 라만 산란에 의한 산란광을 포함한다.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING QUANTITY OF HEAT</subject><subject>MEASURING TEMPERATURE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><subject>THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNBxDAhwDHIMCQ1WcPRzUfB1DfHwd1Fw8w9SCHb1C_b0c1cIcfUNcAWpCHLlYWBNS8wpTuWF0twMym6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXx3kGGBkaGFkZGRgZOTobGxKkCADPKJiw</recordid><startdate>20201124</startdate><enddate>20201124</enddate><creator>YONG JAE CHUL</creator><creator>LEE BONG WAN</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20201124</creationdate><title>APPARATUS AND METHOD FOR SENSING TEMPERATURE</title><author>YONG JAE CHUL ; 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