METHOD FOR REDUCING TIME FOR PERFORMING BURN-IN TEST PROCESS

PURPOSE: A method for reducing time for performing a burn-in test process is provided to read a track where test data patterns are written, in many times through one-time read sequence while performing a burn-in test process, and to detect a defect from the track, thereby reducing time for performing the burn-in test process. CONSTITUTION: A micro controller writes test data patterns on entire tracks of a disk(100), and initializes a read frequency count value for one track(102). The micro controller reads from the first data sector of the first track on the disk(104). If an error is generated while the controller performs the reading, the micro controller registers a data sector of an error-produced position in a defect list(106-108), and continues reading from a next data sector(110). The micro controller decides whether the reading is completed up to a final data sector(112). If so, the micro controller decides whether the frequency of reading the final data sector is bigger than N(116). If so, the micro controller decides whether the number of data sectors read at a time is identical with a value stored in an end servo segment(120). If so, the micro controller decides whether the reading-completed track is a final track(124). If so, the micro controller completes the procedure. 가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야: 하드 디스크 드라이브 제조공정 나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제: 하드 디스크 드라이브의 번-인 테스트공정 시간 단축방법 다. 그 발명의 해결방법의 요지: 본 발명은, 하드 디스크 드라이브 번-인 테스트 공정을 단축하기 위한 방법에 있어서, 번-인 테스트 공정시 테스트용 데이타 패턴이 기록된 트랙을 한번의 리드 시퀀스에서 다수번 읽어 해당 트랙에서의 디펙을 검출한다. 라. 발명의 중요한 용도: 하드 디스크 드라이브