FOUR FREQUENCY MEASURING PROCESS FOUR COUPLED-DUAL RESONATOR CRYSTALS
이중 결합 공진자 크리스탈을 정확히 측정하는데 유용한 4개의 임계 주파수를 얻는 제3케이스 또는 방식으로써, 이전에 공지된 케이스에서의 단일 포트가 아닌 크리스탈 구조체의 두 포트가 모니터된다. 여기서, 예컨대 B 포트는 A-측을 개방 회로로 한 상태 또는 자체에 캐패시터를 병렬로 연결한 상태에서 모니터되며, A포트는 B-측을 단락 회로로 한 상태에서 모니터된다. A third case or manner of obtaining the four critical frequencies useful in accurately measurin...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; kor |
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Zusammenfassung: | 이중 결합 공진자 크리스탈을 정확히 측정하는데 유용한 4개의 임계 주파수를 얻는 제3케이스 또는 방식으로써, 이전에 공지된 케이스에서의 단일 포트가 아닌 크리스탈 구조체의 두 포트가 모니터된다. 여기서, 예컨대 B 포트는 A-측을 개방 회로로 한 상태 또는 자체에 캐패시터를 병렬로 연결한 상태에서 모니터되며, A포트는 B-측을 단락 회로로 한 상태에서 모니터된다.
A third case or manner of obtaining the four critical frequencies useful in accurately measuring coupled-dual resonator crystals, wherein both ports of the crystal structure are monitored, rather than a single port in the previously known cases. Here the B port, for example, is monitored with the A-side open-circuited or with a capacitor in parallel with it, and the A port is monitored with the B-side short-circuited. |
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