METHOD, DEVICE, AND SYSTEM FOR CALIBRATION

To provide a method, a device, and a system for calibration that can increase the freedom of a location.SOLUTION: The method for calibration includes the steps of: creating corrected drawing data corrected according to a projection surface by a calibration device; outputting the corrected drawing da...

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1. Verfasser: IWAMURA HIDESHI
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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creator IWAMURA HIDESHI
description To provide a method, a device, and a system for calibration that can increase the freedom of a location.SOLUTION: The method for calibration includes the steps of: creating corrected drawing data corrected according to a projection surface by a calibration device; outputting the corrected drawing data and projecting a projection drawing to the projection surface by a projection device; imaging the projection drawing by the imaging device; and performing a calibration in a monitoring system on the basis of the taken projection drawing by the calibration device.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】キャリブレーション方法、キャリブレーション装置、及びキャリブレーションシステムにおいて、場所的な自由度を向上させることを目的とする。【解決手段】キャリブレーション方法は、キャリブレーション装置によって、投影面に合わせて補正された補正図形データを作成するステップと、投影装置によって、補正図形データを出力して、投影面に投影図形を投影するステップと、撮影装置によって、投影図形を撮影するステップと、キャリブレーション装置によって、撮影された投影図形に基づいて、モニタリングシステムにおけるキャリブレーションを行うステップと、を備える。【選択図】図2
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outputting the corrected drawing data and projecting a projection drawing to the projection surface by a projection device; imaging the projection drawing by the imaging device; and performing a calibration in a monitoring system on the basis of the taken projection drawing by the calibration device.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】キャリブレーション方法、キャリブレーション装置、及びキャリブレーションシステムにおいて、場所的な自由度を向上させることを目的とする。【解決手段】キャリブレーション方法は、キャリブレーション装置によって、投影面に合わせて補正された補正図形データを作成するステップと、投影装置によって、補正図形データを出力して、投影面に投影図形を投影するステップと、撮影装置によって、投影図形を撮影するステップと、キャリブレーション装置によって、撮影された投影図形に基づいて、モニタリングシステムにおけるキャリブレーションを行うステップと、を備える。【選択図】図2</description><language>eng ; jpn</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; COUNTING ; IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220907&amp;DB=EPODOC&amp;CC=JP&amp;NR=2022130981A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20220907&amp;DB=EPODOC&amp;CC=JP&amp;NR=2022130981A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>IWAMURA HIDESHI</creatorcontrib><title>METHOD, DEVICE, AND SYSTEM FOR CALIBRATION</title><description>To provide a method, a device, and a system for calibration that can increase the freedom of a location.SOLUTION: The method for calibration includes the steps of: creating corrected drawing data corrected according to a projection surface by a calibration device; 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