PROBE CARD

To provide a probe card comprising a region on which an electronic component can be mounted.SOLUTION: A probe card for coupling a test machine and a number of probe needles is provided. The probe card comprises a circuit board 25 and 26 having a first surface 2a and a second surface 2b on both sides...

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Hauptverfasser: LIN CHANGNG, CHEN JYUN-JI, LEE TSUNG-JUN, LU YEN-HUNG
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
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Beschreibung
Zusammenfassung:To provide a probe card comprising a region on which an electronic component can be mounted.SOLUTION: A probe card for coupling a test machine and a number of probe needles is provided. The probe card comprises a circuit board 25 and 26 having a first surface 2a and a second surface 2b on both sides of the circuit board in an axial direction. The circuit board has a plurality of first connection portions 21 and a plurality of second connection portions 22. The first connection portions are electrically connected with the test machine. The second connection portions are electrically connected with probe needles. The first surface faces a direction of the testing machine. The second surface faces a direction of the probe needles. The circuit board comprises a housing space R on the second surface. Then, an electronic element 1 is arranged in the housing space. The housing space is arranged on the second surface of the circuit board, so that the circuit board can have a larger usable surface.SELECTED DRAWING: Figure 3 【課題】電子部品を実装することが可能な領域を設けたプローブカードを提供する。【解決手段】試験機と多数のプローブ針とを接続するためのプローブカードであって、前記プローブカードは、軸方向の両面に、第1の表面2a及び第2の表面2bを有する回路基板25,26を備える。前記回路基板は、複数の第1の接続部21及び複数の第2の接続部22を有する。第1の接続部は、試験機に電気的に接続される。第2の接続部は、プローブ針に電気的に接続される。第1の表面は、試験機の方向に対向する。第2の表面は、プローブ針の方向に対向する。回路基板は、第2の表面上に収容スペースRを備える。そして、この収容スペースに、電子部品1が配置される。回路基板の第2の表面に収容スペースを設けることによって、使用可能な表面を大きくすることができる。【選択図】図3