CONTACT PROBE AND INSPECTION SOCKET HAVING THE SAME

CONTACT PROBE AND INSPECTION SOCKET HAVING THE SAME

To provide a contact probe which has a simple shape and can be manufactured at a low cost.SOLUTION: The present invention includes: a barrel 15; an upper plunger 16; a lower plunger 17; and a coil spring 18. The upper plunger 16 is a moving terminal, which moves in a direction of a center axis line...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SUZUKI KATSUMI, YAMAMOTO SEIYA
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
Schlagworte:
MEASURING
MEASURING ELECTRIC VARIABLES
MEASURING MAGNETIC VARIABLES
PHYSICS
TESTING
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creator SUZUKI KATSUMI
YAMAMOTO SEIYA
description To provide a contact probe which has a simple shape and can be manufactured at a low cost.SOLUTION: The present invention includes: a barrel 15; an upper plunger 16; a lower plunger 17; and a coil spring 18. The upper plunger 16 is a moving terminal, which moves in a direction of a center axis line L1 to the barrel 15, and the lower plunger 17 is a fixed terminal fixed to the barrel 15. The lower plunger 17 has a contact shaft part extending in the direction of the center axis line L1 and has a large-diameter part with a larger diameter than the contact shaft part. The barrel 15 has a swage part for fixing both sides of the large-diameter part in the direction of the center axis line L1.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】簡易な形状とされ低コストで製作することができるコンタクトプローブを提供する。【解決手段】バレル１５と、上プランジャ１６と、下プランジャ１７と、コイルバネ１８とを備えている。上プランジャ１６がバレル１５に対して中心軸線Ｌ１方向に進退する進退端子とされ、下プランジャ１７がバレル１５に対して固定された固定端子とされている。下プランジャ１７は、中心軸線Ｌ１方向に延在する接触軸部と、接触軸部よりも大径とされた大径部とを有する。バレル１５には、大径部の中心軸線Ｌ１方向における両側を固定するように形成されたカシメ部が設けられている。【選択図】図２
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The upper plunger 16 is a moving terminal, which moves in a direction of a center axis line L1 to the barrel 15, and the lower plunger 17 is a fixed terminal fixed to the barrel 15. The lower plunger 17 has a contact shaft part extending in the direction of the center axis line L1 and has a large-diameter part with a larger diameter than the contact shaft part. The barrel 15 has a swage part for fixing both sides of the large-diameter part in the direction of the center axis line L1.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】簡易な形状とされ低コストで製作することができるコンタクトプローブを提供する。【解決手段】バレル１５と、上プランジャ１６と、下プランジャ１７と、コイルバネ１８とを備えている。上プランジャ１６がバレル１５に対して中心軸線Ｌ１方向に進退する進退端子とされ、下プランジャ１７がバレル１５に対して固定された固定端子とされている。下プランジャ１７は、中心軸線Ｌ１方向に延在する接触軸部と、接触軸部よりも大径とされた大径部とを有する。バレル１５には、大径部の中心軸線Ｌ１方向における両側を固定するように形成されたカシメ部が設けられている。【選択図】図２</description><language>eng ; jpn</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20201008&amp;DB=EPODOC&amp;CC=JP&amp;NR=2020165803A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25543,76293</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20201008&amp;DB=EPODOC&amp;CC=JP&amp;NR=2020165803A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SUZUKI KATSUMI</creatorcontrib><creatorcontrib>YAMAMOTO SEIYA</creatorcontrib><title>CONTACT PROBE AND INSPECTION SOCKET HAVING THE SAME</title><description>To provide a contact probe which has a simple shape and can be manufactured at a low cost.SOLUTION: The present invention includes: a barrel 15; an upper plunger 16; a lower plunger 17; and a coil spring 18. The upper plunger 16 is a moving terminal, which moves in a direction of a center axis line L1 to the barrel 15, and the lower plunger 17 is a fixed terminal fixed to the barrel 15. The lower plunger 17 has a contact shaft part extending in the direction of the center axis line L1 and has a large-diameter part with a larger diameter than the contact shaft part. The barrel 15 has a swage part for fixing both sides of the large-diameter part in the direction of the center axis line L1.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】簡易な形状とされ低コストで製作することができるコンタクトプローブを提供する。【解決手段】バレル１５と、上プランジャ１６と、下プランジャ１７と、コイルバネ１８とを備えている。上プランジャ１６がバレル１５に対して中心軸線Ｌ１方向に進退する進退端子とされ、下プランジャ１７がバレル１５に対して固定された固定端子とされている。下プランジャ１７は、中心軸線Ｌ１方向に延在する接触軸部と、接触軸部よりも大径とされた大径部とを有する。バレル１５には、大径部の中心軸線Ｌ１方向における両側を固定するように形成されたカシメ部が設けられている。【選択図】図２</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDB29vcLcXQOUQgI8ndyVXD0c1Hw9AsOcHUO8fT3Uwj2d_Z2DVHwcAzz9HNXCPFwVQh29HXlYWBNS8wpTuWF0twMSm6uIc4euqkF-fGpxQWJyal5qSXxXgFGBkYGhmamFgbGjsZEKQIA0uQnRA</recordid><startdate>20201008</startdate><enddate>20201008</enddate><creator>SUZUKI KATSUMI</creator><creator>YAMAMOTO SEIYA</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20201008</creationdate><title>CONTACT PROBE AND INSPECTION SOCKET HAVING THE SAME</title><author>SUZUKI KATSUMI ; YAMAMOTO SEIYA</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_JP2020165803A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; jpn</language><creationdate>2020</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SUZUKI KATSUMI</creatorcontrib><creatorcontrib>YAMAMOTO SEIYA</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SUZUKI KATSUMI</au><au>YAMAMOTO SEIYA</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>CONTACT PROBE AND INSPECTION SOCKET HAVING THE SAME</title><date>2020-10-08</date><risdate>2020</risdate><abstract>To provide a contact probe which has a simple shape and can be manufactured at a low cost.SOLUTION: The present invention includes: a barrel 15; an upper plunger 16; a lower plunger 17; and a coil spring 18. The upper plunger 16 is a moving terminal, which moves in a direction of a center axis line L1 to the barrel 15, and the lower plunger 17 is a fixed terminal fixed to the barrel 15. The lower plunger 17 has a contact shaft part extending in the direction of the center axis line L1 and has a large-diameter part with a larger diameter than the contact shaft part. The barrel 15 has a swage part for fixing both sides of the large-diameter part in the direction of the center axis line L1.SELECTED DRAWING: Figure 2 【課題】簡易な形状とされ低コストで製作することができるコンタクトプローブを提供する。【解決手段】バレル１５と、上プランジャ１６と、下プランジャ１７と、コイルバネ１８とを備えている。上プランジャ１６がバレル１５に対して中心軸線Ｌ１方向に進退する進退端子とされ、下プランジャ１７がバレル１５に対して固定された固定端子とされている。下プランジャ１７は、中心軸線Ｌ１方向に延在する接触軸部と、接触軸部よりも大径とされた大径部とを有する。バレル１５には、大径部の中心軸線Ｌ１方向における両側を固定するように形成されたカシメ部が設けられている。【選択図】図２</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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