SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE PROCESSING METHOD
To improve positional accuracy of a substrate carried into a processing unit.SOLUTION: In a substrate processing apparatus, a mounting unit 40 comprises a substrate support part 411 and a measurement part 413. The substrate support part 411 supports a substrate 9 in a horizontal state. The measureme...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | To improve positional accuracy of a substrate carried into a processing unit.SOLUTION: In a substrate processing apparatus, a mounting unit 40 comprises a substrate support part 411 and a measurement part 413. The substrate support part 411 supports a substrate 9 in a horizontal state. The measurement part 413 measures an edge position being a position in a horizontal direction of a peripheral edge of a substrate 9 supported by the substrate support part 411. A center robot receives the substrate 9 supported by the substrate support part 411 of the mounting unit 40 and carries it into a processing unit. A calculation section of a control section calculates a center position of the substrate 9 on the basis of the edge position measured by the measurement part 413. Before a hand of the center robot receives the substrate 9 from the substrate support part 411, a carrying robot control section adjusts a position of the hand at the mounting unit 40 on the basis of the center position of the substrate 9. Thereby, positional accuracy of the substrate 9 carried into the processing unit is improved.SELECTED DRAWING: Figure 4
【課題】処理ユニットに搬入される基板の位置精度を向上する。【解決手段】基板処理装置の載置ユニット40は、基板支持部411と、測定部413とを備える。基板支持部411は、基板9を水平状態で支持する。測定部413は、基板支持部411に支持された基板9の周縁の水平方向における位置であるエッジ位置を測定する。センターロボットは、載置ユニット40の基板支持部411に支持された基板9を受け取り、処理ユニットへと搬入する。制御部の演算部は、測定部413により測定されたエッジ位置に基づいて基板9の中心位置を求める。搬送ロボット制御部は、センターロボットのハンドが基板支持部411から基板9を受け取る前に、基板9の中心位置に基づいて、載置ユニット40におけるハンドの位置を調整する。これにより、処理ユニットに搬入される基板9の位置精度を向上することができる。【選択図】図4 |
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