DESIGN PARAMETER EVALUATION SUPPORT METHOD AND PROGRAM THEREOF
To provide a design parameter evaluation support method capable of retrieving an input parameter value combination that is an optimized design solution simply and stably in designing a product or a system.SOLUTION: A design parameter evaluation support method of the present invention is configured t...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; jpn |
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| creator | SUMI YUJI |
| description | To provide a design parameter evaluation support method capable of retrieving an input parameter value combination that is an optimized design solution simply and stably in designing a product or a system.SOLUTION: A design parameter evaluation support method of the present invention is configured to get a score using a deviation value for a target set for each of a plurality of design objectives from output parameter values corresponding to each of the plurality of design objectives. Since the score uses the deviation value, it is possible to simply compare a plurality of types of output parameter values with numerical values.SELECTED DRAWING: Figure 2
【課題】製品やシステムの設計において、簡便かつ安定的に、最適化された設計解である入力パラメータ値組み合わせを探索することが可能な設計パラメータ評価支援方法を提供する。【解決手段】本発明の設計パラメータ評価支援方法は、複数の設計目的のそれぞれに対応する出力パラメータ値から複数の設計目的のそれぞれに対して設定した目標に対する、偏差値を利用したスコアを求めるように構成される。スコアは、偏差値を利用したものであるため、複数の種類の出力パラメータ値を数値で単純に比較することが可能である。【選択図】図２ |
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【課題】製品やシステムの設計において、簡便かつ安定的に、最適化された設計解である入力パラメータ値組み合わせを探索することが可能な設計パラメータ評価支援方法を提供する。【解決手段】本発明の設計パラメータ評価支援方法は、複数の設計目的のそれぞれに対応する出力パラメータ値から複数の設計目的のそれぞれに対して設定した目標に対する、偏差値を利用したスコアを求めるように構成される。スコアは、偏差値を利用したものであるため、複数の種類の出力パラメータ値を数値で単純に比較することが可能である。【選択図】図２</description><language>eng ; jpn</language><subject>CALCULATING ; COMPUTING ; CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; COUNTING ; ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING</subject><creationdate>2020</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20200416&DB=EPODOC&CC=JP&NR=2020061065A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20200416&DB=EPODOC&CC=JP&NR=2020061065A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SUMI YUJI</creatorcontrib><title>DESIGN PARAMETER EVALUATION SUPPORT METHOD AND PROGRAM THEREOF</title><description>To provide a design parameter evaluation support method capable of retrieving an input parameter value combination that is an optimized design solution simply and stably in designing a product or a system.SOLUTION: A design parameter evaluation support method of the present invention is configured to get a score using a deviation value for a target set for each of a plurality of design objectives from output parameter values corresponding to each of the plurality of design objectives. Since the score uses the deviation value, it is possible to simply compare a plurality of types of output parameter values with numerical values.SELECTED DRAWING: Figure 2
【課題】製品やシステムの設計において、簡便かつ安定的に、最適化された設計解である入力パラメータ値組み合わせを探索することが可能な設計パラメータ評価支援方法を提供する。【解決手段】本発明の設計パラメータ評価支援方法は、複数の設計目的のそれぞれに対応する出力パラメータ値から複数の設計目的のそれぞれに対して設定した目標に対する、偏差値を利用したスコアを求めるように構成される。スコアは、偏差値を利用したものであるため、複数の種類の出力パラメータ値を数値で単純に比較することが可能である。【選択図】図２</description><subject>CALCULATING</subject><subject>COMPUTING</subject><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>COUNTING</subject><subject>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2020</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZLBzcQ32dPdTCHAMcvR1DXENUnANc_QJdQzx9PdTCA4NCPAPClEASnj4uyg4-rkoBAT5uwNVKoR4uAa5-rvxMLCmJeYUp_JCaW4GJTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JJ4rwAjAyMDAzNDAzNTR2OiFAEAw8wqrg</recordid><startdate>20200416</startdate><enddate>20200416</enddate><creator>SUMI YUJI</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20200416</creationdate><title>DESIGN PARAMETER EVALUATION SUPPORT METHOD AND PROGRAM THEREOF</title><author>SUMI YUJI</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_JP2020061065A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; jpn</language><creationdate>2020</creationdate><topic>CALCULATING</topic><topic>COMPUTING</topic><topic>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>COUNTING</topic><topic>ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING</topic><topic>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</topic><topic>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SUMI YUJI</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SUMI YUJI</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>DESIGN PARAMETER EVALUATION SUPPORT METHOD AND PROGRAM THEREOF</title><date>2020-04-16</date><risdate>2020</risdate><abstract>To provide a design parameter evaluation support method capable of retrieving an input parameter value combination that is an optimized design solution simply and stably in designing a product or a system.SOLUTION: A design parameter evaluation support method of the present invention is configured to get a score using a deviation value for a target set for each of a plurality of design objectives from output parameter values corresponding to each of the plurality of design objectives. Since the score uses the deviation value, it is possible to simply compare a plurality of types of output parameter values with numerical values.SELECTED DRAWING: Figure 2
【課題】製品やシステムの設計において、簡便かつ安定的に、最適化された設計解である入力パラメータ値組み合わせを探索することが可能な設計パラメータ評価支援方法を提供する。【解決手段】本発明の設計パラメータ評価支援方法は、複数の設計目的のそれぞれに対応する出力パラメータ値から複数の設計目的のそれぞれに対して設定した目標に対する、偏差値を利用したスコアを求めるように構成される。スコアは、偏差値を利用したものであるため、複数の種類の出力パラメータ値を数値で単純に比較することが可能である。【選択図】図２</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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