SYSTEM AND METHOD FOR MALFUNCTION DETECTION AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT

To provide a system and method for a malfunction event or error event in a processing environment, by mounting a centralized sorter model and a sorter model based on an edge node.SOLUTION: A system for malfunction detection comprises: receiving a first pair of information from a first pair of field...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SUNIL RAMANNA KERI, NABIL AHMED SYED, SUBRAMANIAN PERIASWAMY
Format: Patent
Sprache:eng ; jpn
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator SUNIL RAMANNA KERI
NABIL AHMED SYED
SUBRAMANIAN PERIASWAMY
description To provide a system and method for a malfunction event or error event in a processing environment, by mounting a centralized sorter model and a sorter model based on an edge node.SOLUTION: A system for malfunction detection comprises: receiving a first pair of information from a first pair of field devices placed in a process control environment; transmitting a first input vector, generated on the basis of the first pair of information, to a first malfunction detector mounted in an edge node configured to provide a gate way access to the process control environment, a first sorter model being mounted in the first malfunction detector; transmitting a second input vector to a second malfunction detector mounted in a server based on cloud, in response to detection of a malfunction event based on the first input vector transmitted by the first malfunction detector; and generating a malfunction event alert in response to detection of the malfunction event by at least one of the first malfunction detector and the second malfunction detector.SELECTED DRAWING: Figure 3 【課題】集中型分類器モデルおよびエッジノードに基づく分類器モデルを実装することによってプロセス環境内の異常イベントまたはエラーイベントの検出のためのシステムおよび方法を提供する。【解決手段】プロセス制御環境内に置かれたフィールドデバイスの第1の組から情報の第1の組を受信、前記プロセス制御環境へのゲートウェイアクセスを提供するように構成されたエッジノード内に実装された第1の異常検出器に情報の第1の組に基づいて生成された第1の入力ベクトルを送信、前記第1の異常検出器が第1の分類器モデルを実装し、第1の異常検出器が送信された第1の入力ベクトルに基づいて異常イベントを検出することに応じて、クラウドに基づくサーバ内に実装された第2の異常検出器に第2の入力ベクトルを送信、第1の異常検出器および第2の異常検出器のうちの少なくとも1つが異常イベントを検出することに応じて異常イベントアラートを生成する。【選択図】図3
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_JP2019067387A</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>JP2019067387A</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_JP2019067387A3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZPAIjgwOcfVVcPRzUfB1DfHwd1Fw8w9S8HX0cQv1cw7x9PdTcHENcYWwQIqc_X0DQkNcgxQCgvzdgxx9QbRLqHMIDwNrWmJOcSovlOZmUHJzDXH20E0tyI9PLS5ITE7NSy2J9wowMjC0NDAzN7YwdzQmShEAdTktkw</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SYSTEM AND METHOD FOR MALFUNCTION DETECTION AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT</title><source>esp@cenet</source><creator>SUNIL RAMANNA KERI ; NABIL AHMED SYED ; SUBRAMANIAN PERIASWAMY</creator><creatorcontrib>SUNIL RAMANNA KERI ; NABIL AHMED SYED ; SUBRAMANIAN PERIASWAMY</creatorcontrib><description>To provide a system and method for a malfunction event or error event in a processing environment, by mounting a centralized sorter model and a sorter model based on an edge node.SOLUTION: A system for malfunction detection comprises: receiving a first pair of information from a first pair of field devices placed in a process control environment; transmitting a first input vector, generated on the basis of the first pair of information, to a first malfunction detector mounted in an edge node configured to provide a gate way access to the process control environment, a first sorter model being mounted in the first malfunction detector; transmitting a second input vector to a second malfunction detector mounted in a server based on cloud, in response to detection of a malfunction event based on the first input vector transmitted by the first malfunction detector; and generating a malfunction event alert in response to detection of the malfunction event by at least one of the first malfunction detector and the second malfunction detector.SELECTED DRAWING: Figure 3 【課題】集中型分類器モデルおよびエッジノードに基づく分類器モデルを実装することによってプロセス環境内の異常イベントまたはエラーイベントの検出のためのシステムおよび方法を提供する。【解決手段】プロセス制御環境内に置かれたフィールドデバイスの第1の組から情報の第1の組を受信、前記プロセス制御環境へのゲートウェイアクセスを提供するように構成されたエッジノード内に実装された第1の異常検出器に情報の第1の組に基づいて生成された第1の入力ベクトルを送信、前記第1の異常検出器が第1の分類器モデルを実装し、第1の異常検出器が送信された第1の入力ベクトルに基づいて異常イベントを検出することに応じて、クラウドに基づくサーバ内に実装された第2の異常検出器に第2の入力ベクトルを送信、第1の異常検出器および第2の異常検出器のうちの少なくとも1つが異常イベントを検出することに応じて異常イベントアラートを生成する。【選択図】図3</description><language>eng ; jpn</language><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING</subject><creationdate>2019</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20190425&amp;DB=EPODOC&amp;CC=JP&amp;NR=2019067387A$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20190425&amp;DB=EPODOC&amp;CC=JP&amp;NR=2019067387A$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>SUNIL RAMANNA KERI</creatorcontrib><creatorcontrib>NABIL AHMED SYED</creatorcontrib><creatorcontrib>SUBRAMANIAN PERIASWAMY</creatorcontrib><title>SYSTEM AND METHOD FOR MALFUNCTION DETECTION AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT</title><description>To provide a system and method for a malfunction event or error event in a processing environment, by mounting a centralized sorter model and a sorter model based on an edge node.SOLUTION: A system for malfunction detection comprises: receiving a first pair of information from a first pair of field devices placed in a process control environment; transmitting a first input vector, generated on the basis of the first pair of information, to a first malfunction detector mounted in an edge node configured to provide a gate way access to the process control environment, a first sorter model being mounted in the first malfunction detector; transmitting a second input vector to a second malfunction detector mounted in a server based on cloud, in response to detection of a malfunction event based on the first input vector transmitted by the first malfunction detector; and generating a malfunction event alert in response to detection of the malfunction event by at least one of the first malfunction detector and the second malfunction detector.SELECTED DRAWING: Figure 3 【課題】集中型分類器モデルおよびエッジノードに基づく分類器モデルを実装することによってプロセス環境内の異常イベントまたはエラーイベントの検出のためのシステムおよび方法を提供する。【解決手段】プロセス制御環境内に置かれたフィールドデバイスの第1の組から情報の第1の組を受信、前記プロセス制御環境へのゲートウェイアクセスを提供するように構成されたエッジノード内に実装された第1の異常検出器に情報の第1の組に基づいて生成された第1の入力ベクトルを送信、前記第1の異常検出器が第1の分類器モデルを実装し、第1の異常検出器が送信された第1の入力ベクトルに基づいて異常イベントを検出することに応じて、クラウドに基づくサーバ内に実装された第2の異常検出器に第2の入力ベクトルを送信、第1の異常検出器および第2の異常検出器のうちの少なくとも1つが異常イベントを検出することに応じて異常イベントアラートを生成する。【選択図】図3</description><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2019</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZPAIjgwOcfVVcPRzUfB1DfHwd1Fw8w9S8HX0cQv1cw7x9PdTcHENcYWwQIqc_X0DQkNcgxQCgvzdgxx9QbRLqHMIDwNrWmJOcSovlOZmUHJzDXH20E0tyI9PLS5ITE7NSy2J9wowMjC0NDAzN7YwdzQmShEAdTktkw</recordid><startdate>20190425</startdate><enddate>20190425</enddate><creator>SUNIL RAMANNA KERI</creator><creator>NABIL AHMED SYED</creator><creator>SUBRAMANIAN PERIASWAMY</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20190425</creationdate><title>SYSTEM AND METHOD FOR MALFUNCTION DETECTION AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT</title><author>SUNIL RAMANNA KERI ; NABIL AHMED SYED ; SUBRAMANIAN PERIASWAMY</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_JP2019067387A3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; jpn</language><creationdate>2019</creationdate><topic>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</topic><topic>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>SUNIL RAMANNA KERI</creatorcontrib><creatorcontrib>NABIL AHMED SYED</creatorcontrib><creatorcontrib>SUBRAMANIAN PERIASWAMY</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>SUNIL RAMANNA KERI</au><au>NABIL AHMED SYED</au><au>SUBRAMANIAN PERIASWAMY</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEM AND METHOD FOR MALFUNCTION DETECTION AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT</title><date>2019-04-25</date><risdate>2019</risdate><abstract>To provide a system and method for a malfunction event or error event in a processing environment, by mounting a centralized sorter model and a sorter model based on an edge node.SOLUTION: A system for malfunction detection comprises: receiving a first pair of information from a first pair of field devices placed in a process control environment; transmitting a first input vector, generated on the basis of the first pair of information, to a first malfunction detector mounted in an edge node configured to provide a gate way access to the process control environment, a first sorter model being mounted in the first malfunction detector; transmitting a second input vector to a second malfunction detector mounted in a server based on cloud, in response to detection of a malfunction event based on the first input vector transmitted by the first malfunction detector; and generating a malfunction event alert in response to detection of the malfunction event by at least one of the first malfunction detector and the second malfunction detector.SELECTED DRAWING: Figure 3 【課題】集中型分類器モデルおよびエッジノードに基づく分類器モデルを実装することによってプロセス環境内の異常イベントまたはエラーイベントの検出のためのシステムおよび方法を提供する。【解決手段】プロセス制御環境内に置かれたフィールドデバイスの第1の組から情報の第1の組を受信、前記プロセス制御環境へのゲートウェイアクセスを提供するように構成されたエッジノード内に実装された第1の異常検出器に情報の第1の組に基づいて生成された第1の入力ベクトルを送信、前記第1の異常検出器が第1の分類器モデルを実装し、第1の異常検出器が送信された第1の入力ベクトルに基づいて異常イベントを検出することに応じて、クラウドに基づくサーバ内に実装された第2の異常検出器に第2の入力ベクトルを送信、第1の異常検出器および第2の異常検出器のうちの少なくとも1つが異常イベントを検出することに応じて異常イベントアラートを生成する。【選択図】図3</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; jpn
recordid cdi_epo_espacenet_JP2019067387A
source esp@cenet
subjects CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL
CONTROLLING
FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS
MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS
PHYSICS
REGULATING
title SYSTEM AND METHOD FOR MALFUNCTION DETECTION AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-02-06T00%3A22%3A25IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=SUNIL%20RAMANNA%20KERI&rft.date=2019-04-25&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EJP2019067387A%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true