TEST PROBE CHIP

To connect two pins on a DUT to a coaxial signal acquisition system while maintaining frequency response.SOLUTION: A differential test probe tip 100 comprises a socket 110 of conductive material at a proximate end 101 of the probe tip 100. The socket 110 includes a concavity 111 to receive a signal pin. The probe tip 100 also comprises a reference body 132 of conductive material surrounding the socket 110. The probe tip 100 further comprises an insulating spacer element 140 of non-conductive material surrounding the reference body 132 at the proximate end of the probe tip 100. The insulating spacer element 140 includes a signal port 141 to receive the signal pin into the socket 110. The insulating spacer element 140 further includes a reference port 142 to receive a reference pin and maintain the reference pin in a state of electrical communication with a proximate end of the reference body 132.SELECTED DRAWING: Figure 1 【課題】ＤＵＴ上の２つのピンを、周波数応答を維持しながら同軸信号アクイジション・システムに接続する。【解決手段】差動プローブ・チップ１００は、プローブ・チップ１００の近接端１０１において、導電性材料のソケット１１０を有している。ソケット１１０には、信号ピンを受ける凹部１１１がある。プローブ・チップ１００には、ソケット１１０の周りを囲む導電性材料の基準胴体１３２もある。プローブ・チップ１００には、プローブ・チップ１００の近接端において、基準胴体１３２の周りを囲む非導電性材料の絶縁スペーサ要素１４０を更に具えている。絶縁スペーサ要素１４０には、信号ピンをソケット１１０中で受ける信号ポート１４１がある。絶縁スペーサ要素１４０には、更に、基準ピンを受けて、基準胴体１３２の近接端と電気的コミュニケーションをする状態で基準ピンを維持する基準ポート１４２がある。【選択図】図１