AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automatic analysis device capable of preventing the deterioration of processing capability while securing the reliability of an inspection result even when a processing process causing the increase of the cycle time of an automatic analysis device exists.SOLUTION:...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: TSUTANAGA AKIO
Format: Patent
Sprache:eng
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