Procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X ou gamma

L'invention est basée sur un procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X et gamma, acquis par un dispositif de spectrométrie (1). Le procédé de traitement prend en compte une matrice de dispersion spectrale (). La matrice de dispersion spectrale modélise la réponse en énergi...

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Hauptverfasser: THIS, Kélian, FRIGERIO, Adrien, COLAS, Sébastien
Format: Patent
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creator THIS, Kélian
FRIGERIO, Adrien
COLAS, Sébastien
description L'invention est basée sur un procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X et gamma, acquis par un dispositif de spectrométrie (1). Le procédé de traitement prend en compte une matrice de dispersion spectrale (). La matrice de dispersion spectrale modélise la réponse en énergie du dispositif. Le procédé comporte l'établissement d'une matrice de passage (), en utilisant la matrice de dispersion spectrale. La matrice de passage est ensuite utilisée pour établir un modèle direct, reliant des grandeurs mesurées, formant un vecteur d'entrée (), et des grandeurs à estimer, formant un vecteur de sortie. L'invention du modèle direct permet une estimation du vecteur de sortie (). L'invention peut s'appliquer à une quantification de l'activité d'un objet à contrôler ou pour effectuer un étalonnage en énergie, ou en efficacité, du dispositif de spectrométrie. Figure 2B. The invention is based on a method for processing an X-ray and gamma ray spectrum acquired by a spectrometry device (1). The processing method takes into account a spectral dispersion matrix (D). The spectral dispersion matrix models the energy response of the device. The method comprises establishing a change-of-basis matrix (U, U', D') using the spectral dispersion matrix. The change-of-basis matrix is then used to establish a direct model linking measured quantities, forming an input vector (m), and quantities to be estimated, forming an output vector. The invention of the direct model makes it possible to estimate the output vector (a, s, h, ε). The invention can be applied to quantifying the activity of an object to be monitored or performing an energy or efficiency calibration on the spectrometry device.
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Le procédé de traitement prend en compte une matrice de dispersion spectrale (). La matrice de dispersion spectrale modélise la réponse en énergie du dispositif. Le procédé comporte l'établissement d'une matrice de passage (), en utilisant la matrice de dispersion spectrale. La matrice de passage est ensuite utilisée pour établir un modèle direct, reliant des grandeurs mesurées, formant un vecteur d'entrée (), et des grandeurs à estimer, formant un vecteur de sortie. L'invention du modèle direct permet une estimation du vecteur de sortie (). L'invention peut s'appliquer à une quantification de l'activité d'un objet à contrôler ou pour effectuer un étalonnage en énergie, ou en efficacité, du dispositif de spectrométrie. Figure 2B. The invention is based on a method for processing an X-ray and gamma ray spectrum acquired by a spectrometry device (1). The processing method takes into account a spectral dispersion matrix (D). The spectral dispersion matrix models the energy response of the device. The method comprises establishing a change-of-basis matrix (U, U', D') using the spectral dispersion matrix. The change-of-basis matrix is then used to establish a direct model linking measured quantities, forming an input vector (m), and quantities to be estimated, forming an output vector. The invention of the direct model makes it possible to estimate the output vector (a, s, h, ε). The invention can be applied to quantifying the activity of an object to be monitored or performing an energy or efficiency calibration on the spectrometry device.</description><language>fre</language><subject>MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240920&amp;DB=EPODOC&amp;CC=FR&amp;NR=3131642B1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240920&amp;DB=EPODOC&amp;CC=FR&amp;NR=3131642B1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>THIS, Kélian</creatorcontrib><creatorcontrib>FRIGERIO, Adrien</creatorcontrib><creatorcontrib>COLAS, Sébastien</creatorcontrib><title>Procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X ou gamma</title><description>L'invention est basée sur un procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X et gamma, acquis par un dispositif de spectrométrie (1). Le procédé de traitement prend en compte une matrice de dispersion spectrale (). La matrice de dispersion spectrale modélise la réponse en énergie du dispositif. Le procédé comporte l'établissement d'une matrice de passage (), en utilisant la matrice de dispersion spectrale. La matrice de passage est ensuite utilisée pour établir un modèle direct, reliant des grandeurs mesurées, formant un vecteur d'entrée (), et des grandeurs à estimer, formant un vecteur de sortie. L'invention du modèle direct permet une estimation du vecteur de sortie (). L'invention peut s'appliquer à une quantification de l'activité d'un objet à contrôler ou pour effectuer un étalonnage en énergie, ou en efficacité, du dispositif de spectrométrie. Figure 2B. The invention is based on a method for processing an X-ray and gamma ray spectrum acquired by a spectrometry device (1). The processing method takes into account a spectral dispersion matrix (D). The spectral dispersion matrix models the energy response of the device. The method comprises establishing a change-of-basis matrix (U, U', D') using the spectral dispersion matrix. The change-of-basis matrix is then used to establish a direct model linking measured quantities, forming an input vector (m), and quantities to be estimated, forming an output vector. The invention of the direct model makes it possible to estimate the output vector (a, s, h, ε). The invention can be applied to quantifying the activity of an object to be monitored or performing an energy or efficiency calibration on the spectrometry device.</description><subject>MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHAIKMpPPrwy5fBKhZRUhZKixMyS1NzUvBKFFPXSPIXigtTkkqJUCKcosTI_Lw8iG6GQX6qQnpibm8jDwJqWmFOcyguluRkU3FxDnD10Uwvy41OLCxKTU_NSS-LdgowNjQ3NTIycDI2JUAIA1oMxdg</recordid><startdate>20240920</startdate><enddate>20240920</enddate><creator>THIS, Kélian</creator><creator>FRIGERIO, Adrien</creator><creator>COLAS, Sébastien</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240920</creationdate><title>Procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X ou gamma</title><author>THIS, Kélian ; FRIGERIO, Adrien ; COLAS, Sébastien</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_FR3131642B13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>fre</language><creationdate>2024</creationdate><topic>MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>THIS, Kélian</creatorcontrib><creatorcontrib>FRIGERIO, Adrien</creatorcontrib><creatorcontrib>COLAS, Sébastien</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>THIS, Kélian</au><au>FRIGERIO, Adrien</au><au>COLAS, Sébastien</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X ou gamma</title><date>2024-09-20</date><risdate>2024</risdate><abstract>L'invention est basée sur un procédé de traitement d'un spectre d'un rayonnement X et gamma, acquis par un dispositif de spectrométrie (1). Le procédé de traitement prend en compte une matrice de dispersion spectrale (). La matrice de dispersion spectrale modélise la réponse en énergie du dispositif. Le procédé comporte l'établissement d'une matrice de passage (), en utilisant la matrice de dispersion spectrale. La matrice de passage est ensuite utilisée pour établir un modèle direct, reliant des grandeurs mesurées, formant un vecteur d'entrée (), et des grandeurs à estimer, formant un vecteur de sortie. L'invention du modèle direct permet une estimation du vecteur de sortie (). L'invention peut s'appliquer à une quantification de l'activité d'un objet à contrôler ou pour effectuer un étalonnage en énergie, ou en efficacité, du dispositif de spectrométrie. Figure 2B. The invention is based on a method for processing an X-ray and gamma ray spectrum acquired by a spectrometry device (1). The processing method takes into account a spectral dispersion matrix (D). 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