Surveillance du vieillissement d'un composant

Surveillance du vieillissement d'un composant La présente description concerne un circuit (5) de surveillance du fonctionnement d'un composant (1) associé à un équipement (3), comportant : au moins un dispositif (100) de mesure d'une ou plusieurs grandeurs physiques associées au fonct...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	BERGOGNE, Dominique, FANGIER, Lionel, FANGIER, Jérôme, HAMMAL, Redouane, WILLEMIN, Jérôme
Format:	Patent
Sprache:	fre
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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creator	BERGOGNE, Dominique FANGIER, Lionel FANGIER, Jérôme HAMMAL, Redouane WILLEMIN, Jérôme
description	Surveillance du vieillissement d'un composant La présente description concerne un circuit (5) de surveillance du fonctionnement d'un composant (1) associé à un équipement (3), comportant : au moins un dispositif (100) de mesure d'une ou plusieurs grandeurs physiques associées au fonctionnement du composant ; et un circuit de calcul d'une valeur représentative d'une durée de vie restante du composant, ledit circuit de surveillance (5) étant lié à l'équipement. Figure pour l'abrégé : Fig. 1 The present description concerns a circuit (5) for monitoring the operation of a component (1) associated with equipment (3), comprising: at least one device (100) for measuring one or a plurality of physical quantities associated with the operation of the component; and a circuit for calculating a value representative of a remaining lifetime of a component, said monitoring circuit (5) being linked to the equipment.
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Figure pour l'abrégé : Fig. 1 The present description concerns a circuit (5) for monitoring the operation of a component (1) associated with equipment (3), comprising: at least one device (100) for measuring one or a plurality of physical quantities associated with the operation of the component; and a circuit for calculating a value representative of a remaining lifetime of a component, said monitoring circuit (5) being linked to the equipment.</description><language>fre</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2021</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20210618&DB=EPODOC&CC=FR&NR=3104727A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76516</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20210618&DB=EPODOC&CC=FR&NR=3104727A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>BERGOGNE, Dominique</creatorcontrib><creatorcontrib>FANGIER, Lionel</creatorcontrib><creatorcontrib>FANGIER, Jérôme</creatorcontrib><creatorcontrib>HAMMAL, Redouane</creatorcontrib><creatorcontrib>WILLEMIN, Jérôme</creatorcontrib><title>Surveillance du vieillissement d'un composant</title><description>Surveillance du vieillissement d'un composant La présente description concerne un circuit (5) de surveillance du fonctionnement d'un composant (1) associé à un équipement (3), comportant : au moins un dispositif (100) de mesure d'une ou plusieurs grandeurs physiques associées au fonctionnement du composant ; et un circuit de calcul d'une valeur représentative d'une durée de vie restante du composant, ledit circuit de surveillance (5) étant lié à l'équipement. Figure pour l'abrégé : Fig. 1 The present description concerns a circuit (5) for monitoring the operation of a component (1) associated with equipment (3), comprising: at least one device (100) for measuring one or a plurality of physical quantities associated with the operation of the component; and a circuit for calculating a value representative of a remaining lifetime of a component, said monitoring circuit (5) being linked to the equipment.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2021</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNANLi0qS83MyUnMS05VSClVKMsE8TKLi1NzU_NKFFLUS_MUkvNzC_KLE_NKeBhY0xJzilN5oTQ3g4Kba4izh25qQX58anFBYnJqXmpJvFuQsaGBibmRuaOhMRFKAKHMKic</recordid><startdate>20210618</startdate><enddate>20210618</enddate><creator>BERGOGNE, Dominique</creator><creator>FANGIER, Lionel</creator><creator>FANGIER, Jérôme</creator><creator>HAMMAL, Redouane</creator><creator>WILLEMIN, Jérôme</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20210618</creationdate><title>Surveillance du vieillissement d'un composant</title><author>BERGOGNE, Dominique ; FANGIER, Lionel ; FANGIER, Jérôme ; HAMMAL, Redouane ; WILLEMIN, Jérôme</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_FR3104727A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>fre</language><creationdate>2021</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>BERGOGNE, Dominique</creatorcontrib><creatorcontrib>FANGIER, Lionel</creatorcontrib><creatorcontrib>FANGIER, Jérôme</creatorcontrib><creatorcontrib>HAMMAL, Redouane</creatorcontrib><creatorcontrib>WILLEMIN, Jérôme</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>BERGOGNE, Dominique</au><au>FANGIER, Lionel</au><au>FANGIER, Jérôme</au><au>HAMMAL, Redouane</au><au>WILLEMIN, Jérôme</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Surveillance du vieillissement d'un composant</title><date>2021-06-18</date><risdate>2021</risdate><abstract>Surveillance du vieillissement d'un composant La présente description concerne un circuit (5) de surveillance du fonctionnement d'un composant (1) associé à un équipement (3), comportant : au moins un dispositif (100) de mesure d'une ou plusieurs grandeurs physiques associées au fonctionnement du composant ; et un circuit de calcul d'une valeur représentative d'une durée de vie restante du composant, ledit circuit de surveillance (5) étant lié à l'équipement. Figure pour l'abrégé : Fig. 1 The present description concerns a circuit (5) for monitoring the operation of a component (1) associated with equipment (3), comprising: at least one device (100) for measuring one or a plurality of physical quantities associated with the operation of the component; and a circuit for calculating a value representative of a remaining lifetime of a component, said monitoring circuit (5) being linked to the equipment.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
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