Electro-optic micrometer for measuring physical magnitude, has control device controlling coherently optical source, detector and processing unit, which process voltage detection signal to provide measurement signal, based on magnitude
The micrometer has an optical source (EM) electrically controlled to emit light beams comprising wavelengths. An optical detector (DEC) detects a light signal at the wavelengths to provide an electric voltage detection signal that is processed by a processing unit (UT) to provide a measurement signa...
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| creator | JOFFRE PASCAL YVON |
| description | The micrometer has an optical source (EM) electrically controlled to emit light beams comprising wavelengths. An optical detector (DEC) detects a light signal at the wavelengths to provide an electric voltage detection signal that is processed by a processing unit (UT) to provide a measurement signal. A control device (CC) controls in coherence the source, detector and unit (UT) based on magnitude to be measured.
L'invention concerne un multimètre électro-optique permettant la mesure de différentes grandeurs physiques à l'aide d'un ou plusieurs faisceaux optiques.Il comporte :- au moins une source optique (EM) commandable électriquement et capable d'émettre au moins un faisceau lumineux comportant une ou plusieurs longueurs d'ondes,- au moins un détecteur optique (DEC) capable de détecter un signal lumineux aux dites longueurs d'ondes et de fournir au moins un signal de tension électrique de détection,- une base de temps permettant de cadencer et mettre en phase les sources et les détecteurs.- une unité de traitement (UT) permettant de traiter ledit signal électrique de détection et de fournir un signal de mesure,- un dispositif de commande (CC) permettant de commander en cohérence la source optique, le détecteur optique et l'unité de traitement en fonction de la grandeur à mesurer.Applications: Mesures physiques |
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L'invention concerne un multimètre électro-optique permettant la mesure de différentes grandeurs physiques à l'aide d'un ou plusieurs faisceaux optiques.Il comporte :- au moins une source optique (EM) commandable électriquement et capable d'émettre au moins un faisceau lumineux comportant une ou plusieurs longueurs d'ondes,- au moins un détecteur optique (DEC) capable de détecter un signal lumineux aux dites longueurs d'ondes et de fournir au moins un signal de tension électrique de détection,- une base de temps permettant de cadencer et mettre en phase les sources et les détecteurs.- une unité de traitement (UT) permettant de traiter ledit signal électrique de détection et de fournir un signal de mesure,- un dispositif de commande (CC) permettant de commander en cohérence la source optique, le détecteur optique et l'unité de traitement en fonction de la grandeur à mesurer.Applications: Mesures physiques</description><language>eng ; fre</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; MEASURING ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2006</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20060421&DB=EPODOC&CC=FR&NR=2876791A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20060421&DB=EPODOC&CC=FR&NR=2876791A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>JOFFRE PASCAL YVON</creatorcontrib><title>Electro-optic micrometer for measuring physical magnitude, has control device controlling coherently optical source, detector and processing unit, which process voltage detection signal to provide measurement signal, based on magnitude</title><description>The micrometer has an optical source (EM) electrically controlled to emit light beams comprising wavelengths. An optical detector (DEC) detects a light signal at the wavelengths to provide an electric voltage detection signal that is processed by a processing unit (UT) to provide a measurement signal. A control device (CC) controls in coherence the source, detector and unit (UT) based on magnitude to be measured.
L'invention concerne un multimètre électro-optique permettant la mesure de différentes grandeurs physiques à l'aide d'un ou plusieurs faisceaux optiques.Il comporte :- au moins une source optique (EM) commandable électriquement et capable d'émettre au moins un faisceau lumineux comportant une ou plusieurs longueurs d'ondes,- au moins un détecteur optique (DEC) capable de détecter un signal lumineux aux dites longueurs d'ondes et de fournir au moins un signal de tension électrique de détection,- une base de temps permettant de cadencer et mettre en phase les sources et les détecteurs.- une unité de traitement (UT) permettant de traiter ledit signal électrique de détection et de fournir un signal de mesure,- un dispositif de commande (CC) permettant de commander en cohérence la source optique, le détecteur optique et l'unité de traitement en fonction de la grandeur à mesurer.Applications: Mesures physiques</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2006</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNjsFOAzEMRPfCAQH_4A_YHgoShSNCrTgj7lVwphtLSbyKs4v6zfwEWbTlzMmyPW9mrrvvfQTXohsdqzAl4aIJFYVOWijB2VQkDzSGswm7SMkNWerk0VNwRqy50ZE8ZmFc1rggrAEFucYz_Zo32HQq3EjfEri2AJc9jUUZZgsyNeuevoJwuJxp1ljdgJURzWQy5GZWddHM4rH2RGpp67enT2fw1OR_jW-7q5OLhrt13nR02H-8vm0w6hE2OkZGPR7e7592j7vn7cv24R-SH4SJcrU</recordid><startdate>20060421</startdate><enddate>20060421</enddate><creator>JOFFRE PASCAL YVON</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20060421</creationdate><title>Electro-optic micrometer for measuring physical magnitude, has control device controlling coherently optical source, detector and processing unit, which process voltage detection signal to provide measurement signal, based on magnitude</title><author>JOFFRE PASCAL YVON</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_FR2876791A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2006</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>JOFFRE PASCAL YVON</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>JOFFRE PASCAL YVON</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Electro-optic micrometer for measuring physical magnitude, has control device controlling coherently optical source, detector and processing unit, which process voltage detection signal to provide measurement signal, based on magnitude</title><date>2006-04-21</date><risdate>2006</risdate><abstract>The micrometer has an optical source (EM) electrically controlled to emit light beams comprising wavelengths. An optical detector (DEC) detects a light signal at the wavelengths to provide an electric voltage detection signal that is processed by a processing unit (UT) to provide a measurement signal. A control device (CC) controls in coherence the source, detector and unit (UT) based on magnitude to be measured.
L'invention concerne un multimètre électro-optique permettant la mesure de différentes grandeurs physiques à l'aide d'un ou plusieurs faisceaux optiques.Il comporte :- au moins une source optique (EM) commandable électriquement et capable d'émettre au moins un faisceau lumineux comportant une ou plusieurs longueurs d'ondes,- au moins un détecteur optique (DEC) capable de détecter un signal lumineux aux dites longueurs d'ondes et de fournir au moins un signal de tension électrique de détection,- une base de temps permettant de cadencer et mettre en phase les sources et les détecteurs.- une unité de traitement (UT) permettant de traiter ledit signal électrique de détection et de fournir un signal de mesure,- un dispositif de commande (CC) permettant de commander en cohérence la source optique, le détecteur optique et l'unité de traitement en fonction de la grandeur à mesurer.Applications: Mesures physiques</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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| subjects | ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING |
| title | Electro-optic micrometer for measuring physical magnitude, has control device controlling coherently optical source, detector and processing unit, which process voltage detection signal to provide measurement signal, based on magnitude |
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