SONDE DE TENSION A CONCORDANCE D'IMPEDANCE

L'invention concerne une sonde analogique (106) de tension comprenant plusieurs canaux (340) de sonde. Chaque canal comprend une entrée (107) de sonde, un circuit amplificateur (342) de sonde, et un conducteur (110) qui connecte l'entrée (107) de sonde au circuit amplificateur (342) de son...

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1. Verfasser: DASCHER DAVID J
Format: Patent
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creator DASCHER DAVID J
description L'invention concerne une sonde analogique (106) de tension comprenant plusieurs canaux (340) de sonde. Chaque canal comprend une entrée (107) de sonde, un circuit amplificateur (342) de sonde, et un conducteur (110) qui connecte l'entrée (107) de sonde au circuit amplificateur (342) de sonde; et un moyen de réduction (270) de signal inverse pour réduire le signal inverse dans lesdits canaux de sonde. De préférence, ledit moyen de réduction (270) de signal inverse comprend dans chacun des canaux (340) un moyen de concordance (212) d'impédance de signal inverse en vue d'une concordance avec l'impédance dudit conducteur (110) dans le sens inverse et comprend en outre un condensateur (216), en série avec ladite résistance (212), qui réalise pour celle-ci une connexion à haute fréquence à la masse (206). An analog test probe includes an integrated circuit having a large number of separate channels, each connected to one of its inputs. There is a plurality of probe tips and 100 ohm coaxial cables, each cable connecting one of said probe tips and one of the IC inputs. This structure introduces reverse signals into the channels that would seriously degrade probe operation if not removed. A capacitor and resistor in each probe tip, and in series with the coaxial cable and ground, match the impedance of the coaxial cable in the reverse direction, so that reverse signals are dissipated in the resistance and capacitance and do not reflect into the probe channels.
format Patent
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Chaque canal comprend une entrée (107) de sonde, un circuit amplificateur (342) de sonde, et un conducteur (110) qui connecte l'entrée (107) de sonde au circuit amplificateur (342) de sonde; et un moyen de réduction (270) de signal inverse pour réduire le signal inverse dans lesdits canaux de sonde. De préférence, ledit moyen de réduction (270) de signal inverse comprend dans chacun des canaux (340) un moyen de concordance (212) d'impédance de signal inverse en vue d'une concordance avec l'impédance dudit conducteur (110) dans le sens inverse et comprend en outre un condensateur (216), en série avec ladite résistance (212), qui réalise pour celle-ci une connexion à haute fréquence à la masse (206). An analog test probe includes an integrated circuit having a large number of separate channels, each connected to one of its inputs. There is a plurality of probe tips and 100 ohm coaxial cables, each cable connecting one of said probe tips and one of the IC inputs. This structure introduces reverse signals into the channels that would seriously degrade probe operation if not removed. A capacitor and resistor in each probe tip, and in series with the coaxial cable and ground, match the impedance of the coaxial cable in the reverse direction, so that reverse signals are dissipated in the resistance and capacitance and do not reflect into the probe channels.</description><edition>6</edition><language>fre</language><subject>MEASURING ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>1996</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19961031&amp;DB=EPODOC&amp;CC=FR&amp;NR=2733599A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19961031&amp;DB=EPODOC&amp;CC=FR&amp;NR=2733599A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>DASCHER DAVID J</creatorcontrib><title>SONDE DE TENSION A CONCORDANCE D'IMPEDANCE</title><description>L'invention concerne une sonde analogique (106) de tension comprenant plusieurs canaux (340) de sonde. Chaque canal comprend une entrée (107) de sonde, un circuit amplificateur (342) de sonde, et un conducteur (110) qui connecte l'entrée (107) de sonde au circuit amplificateur (342) de sonde; et un moyen de réduction (270) de signal inverse pour réduire le signal inverse dans lesdits canaux de sonde. De préférence, ledit moyen de réduction (270) de signal inverse comprend dans chacun des canaux (340) un moyen de concordance (212) d'impédance de signal inverse en vue d'une concordance avec l'impédance dudit conducteur (110) dans le sens inverse et comprend en outre un condensateur (216), en série avec ladite résistance (212), qui réalise pour celle-ci une connexion à haute fréquence à la masse (206). An analog test probe includes an integrated circuit having a large number of separate channels, each connected to one of its inputs. There is a plurality of probe tips and 100 ohm coaxial cables, each cable connecting one of said probe tips and one of the IC inputs. This structure introduces reverse signals into the channels that would seriously degrade probe operation if not removed. 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