Métodos y aparatos para microscopía de dispersión interferométrica optimizada

La solicitud divulga un método y un aparato para obtener imágenes de una muestra mediante microscopía de dispersión interferométrica, comprendiendo el método iluminar una muestra con al menos una fuente de luz coherente, sosteniéndose la muestra en una ubicación de muestra que comprende una interfaz...

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Hauptverfasser: COLE, Daniel Richard, PRIEST, Lee, LANGHORST, Matthias Karl Franz, GRAHAM, David John Lehar, KUKURA, Philipp
Format: Patent
Sprache:spa
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creator COLE, Daniel Richard
PRIEST, Lee
LANGHORST, Matthias Karl Franz
GRAHAM, David John Lehar
KUKURA, Philipp
description La solicitud divulga un método y un aparato para obtener imágenes de una muestra mediante microscopía de dispersión interferométrica, comprendiendo el método iluminar una muestra con al menos una fuente de luz coherente, sosteniéndose la muestra en una ubicación de muestra que comprende una interfaz que tiene un cambio de índice de refracción, iluminar la muestra con radiación de iluminación para generar una señal de retropropagación a partir de la muestra que comprende luz reflejada en la interfaz y luz dispersada por la muestra, dividir la señal de retropropagación en primera y segunda señales, modificar la segunda señal utilizando un elemento modificador de tal manera que la segunda señal difiera de la primera señal, dirigir la primera y segunda señales hacia primer y segundo detectores para generar, respectivamente, primera y segunda imágenes y comparar, mediante un procesador, la primera y segunda imágenes para determinar una o más características de la muestra. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal) The application discloses a method and apparatus for imaging a sample by interferometric scattering microscopy, the method comprising illuminating a sample with at least one coherent light source, the sample being held at a sample location comprising an interface having a refractive index change, illuminating the sample with illuminating radiation to generate a backpropagating signal from the sample comprising light reflected at the interface and light scattered by the sample, splitting the backpropagating signal into first and second signals, modifying the second signal using a modifying element such that the second signal differs from the first signal, directing the first and second signals onto first and second detectors to generate, respectively, first and second images and comparing, by a processor, the first and second images to determine one or more characteristics of the sample.
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(Traducción automática con Google Translate, sin valor legal) The application discloses a method and apparatus for imaging a sample by interferometric scattering microscopy, the method comprising illuminating a sample with at least one coherent light source, the sample being held at a sample location comprising an interface having a refractive index change, illuminating the sample with illuminating radiation to generate a backpropagating signal from the sample comprising light reflected at the interface and light scattered by the sample, splitting the backpropagating signal into first and second signals, modifying the second signal using a modifying element such that the second signal differs from the first signal, directing the first and second signals onto first and second detectors to generate, respectively, first and second images and comparing, by a processor, the first and second images to determine one or more characteristics of the sample.</description><language>spa</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS ; OPTICS ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20241107&amp;DB=EPODOC&amp;CC=ES&amp;NR=2985958T3$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20241107&amp;DB=EPODOC&amp;CC=ES&amp;NR=2985958T3$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>COLE, Daniel Richard</creatorcontrib><creatorcontrib>PRIEST, Lee</creatorcontrib><creatorcontrib>LANGHORST, Matthias Karl Franz</creatorcontrib><creatorcontrib>GRAHAM, David John Lehar</creatorcontrib><creatorcontrib>KUKURA, Philipp</creatorcontrib><title>Métodos y aparatos para microscopía de dispersión interferométrica optimizada</title><description>La solicitud divulga un método y un aparato para obtener imágenes de una muestra mediante microscopía de dispersión interferométrica, comprendiendo el método iluminar una muestra con al menos una fuente de luz coherente, sosteniéndose la muestra en una ubicación de muestra que comprende una interfaz que tiene un cambio de índice de refracción, iluminar la muestra con radiación de iluminación para generar una señal de retropropagación a partir de la muestra que comprende luz reflejada en la interfaz y luz dispersada por la muestra, dividir la señal de retropropagación en primera y segunda señales, modificar la segunda señal utilizando un elemento modificador de tal manera que la segunda señal difiera de la primera señal, dirigir la primera y segunda señales hacia primer y segundo detectores para generar, respectivamente, primera y segunda imágenes y comparar, mediante un procesador, la primera y segunda imágenes para determinar una o más características de la muestra. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal) The application discloses a method and apparatus for imaging a sample by interferometric scattering microscopy, the method comprising illuminating a sample with at least one coherent light source, the sample being held at a sample location comprising an interface having a refractive index change, illuminating the sample with illuminating radiation to generate a backpropagating signal from the sample comprising light reflected at the interface and light scattered by the sample, splitting the backpropagating signal into first and second signals, modifying the second signal using a modifying element such that the second signal differs from the first signal, directing the first and second signals onto first and second detectors to generate, respectively, first and second images and comparing, by a processor, the first and second images to determine one or more characteristics of the sample.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</subject><subject>OPTICS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZAj0PbyyJD8lv1ihUiGxILEosQTIBNEKuZnJRfnFyfkFh9cmKqSkKqRkFhekFhVnHt6cp5CZV5JalJZalJ8L1F2UmZyokF9QkpmbWZWYksjDwJqWmFOcyguluRkU3VxDnD10Uwvy41OLCxKTU_NSS-Jdg40sLUwtTS1CQoyNiVEDAJ9GO8w</recordid><startdate>20241107</startdate><enddate>20241107</enddate><creator>COLE, Daniel Richard</creator><creator>PRIEST, Lee</creator><creator>LANGHORST, Matthias Karl Franz</creator><creator>GRAHAM, David John Lehar</creator><creator>KUKURA, Philipp</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20241107</creationdate><title>Métodos y aparatos para microscopía de dispersión interferométrica optimizada</title><author>COLE, Daniel Richard ; PRIEST, Lee ; LANGHORST, Matthias Karl Franz ; GRAHAM, David John Lehar ; KUKURA, Philipp</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_ES2985958TT33</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>spa</language><creationdate>2024</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</topic><topic>OPTICS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>COLE, Daniel Richard</creatorcontrib><creatorcontrib>PRIEST, Lee</creatorcontrib><creatorcontrib>LANGHORST, Matthias Karl Franz</creatorcontrib><creatorcontrib>GRAHAM, David John Lehar</creatorcontrib><creatorcontrib>KUKURA, Philipp</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>COLE, Daniel Richard</au><au>PRIEST, Lee</au><au>LANGHORST, Matthias Karl Franz</au><au>GRAHAM, David John Lehar</au><au>KUKURA, Philipp</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Métodos y aparatos para microscopía de dispersión interferométrica optimizada</title><date>2024-11-07</date><risdate>2024</risdate><abstract>La solicitud divulga un método y un aparato para obtener imágenes de una muestra mediante microscopía de dispersión interferométrica, comprendiendo el método iluminar una muestra con al menos una fuente de luz coherente, sosteniéndose la muestra en una ubicación de muestra que comprende una interfaz que tiene un cambio de índice de refracción, iluminar la muestra con radiación de iluminación para generar una señal de retropropagación a partir de la muestra que comprende luz reflejada en la interfaz y luz dispersada por la muestra, dividir la señal de retropropagación en primera y segunda señales, modificar la segunda señal utilizando un elemento modificador de tal manera que la segunda señal difiera de la primera señal, dirigir la primera y segunda señales hacia primer y segundo detectores para generar, respectivamente, primera y segunda imágenes y comparar, mediante un procesador, la primera y segunda imágenes para determinar una o más características de la muestra. 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