Procedimiento para caracterizar un material con una estructura en capas y sistema de medición

Un método para caracterizar un material con una estructura en capas usando terahercios. Un método para caracterizar un material con una estructura en capas usando radiación de terahercios que comprende determinar información de caracterización del material con estructura en capas mediante la implementación de un enfoque de aprendizaje automático y un sistema de medición para obtener información de caracterización de dicho material con una estructura en capas, comprendiendo el sistema de medición un emisor de terahercios asociado con una fuente de luz láser y adaptado para generar un haz emitido en THz para ser irradiado sobre el material, un detector de terahercios asociado con la fuente de luz láser y adaptado para detectar un Haz reflejado en THz del material, y un sistema óptico diseñado para guiar y enfocar el haz emitido en THz en el material y para guiar y recoger el haz reflejado en THz del material. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal) A method for characterising a material with a layered structure using terahertz A method for characterising a material with a layered structure using terahertz radiation comprising determining characterising information of the material with layered structure by implementing a machine learning approach and a measuring system for obtaining characterising information of such material with a layered structure, the measuring system comprising a terahertz emitter associated with a laser light source and adapted to generate a THz-emitted beam to be irradiated on the material, a terahertz detector associated with the laser light source and adapted to detect a THz-reflected beam from the material, and an optical system designed to guide and focus the THz-emitted beam on the material and to guide and collect the THz-reflected beam from the material.