Espectrofotómetro
Se da a conocer un espectrofotómetro, en particular, a un espectrofotómetro con capacidad de análisis simultáneo en diferentes puntos de una misma muestra (4) disponiendo de una alta resolución espacial y sin requerir un sistema mecánico de barrido físico a lo largo de la muestra. Esto se consigue m...
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Format: | Patent |
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creator | MONTEIRO KOSAKA, Priscila RAMOS VEGA, Daniel RUZ MARTINEZ, Jose Jaime PINI, Valerio CALLEJA GOMEZ, Montserrat ENCINAR DEL POZO, Mario TAMAYO DE MIGUEL, Francisco MALVAR VIDAL, Oscar |
description | Se da a conocer un espectrofotómetro, en particular, a un espectrofotómetro con capacidad de análisis simultáneo en diferentes puntos de una misma muestra (4) disponiendo de una alta resolución espacial y sin requerir un sistema mecánico de barrido físico a lo largo de la muestra. Esto se consigue mediante la disposición de medios de procesamiento de la luz recibida por los fotodetectores (5) disponiendo dichos medios de procesamiento de una correlación en la que cada uno de los fotodetectores (5) corresponde a un punto espacial de la muestra (4). La presente invención garantiza en el caso de aplicaciones de campo oscuro la normalización de los datos utilizando la misma medida.
The invention relates to a spectrophotometer, especially a spectrophotometer that can carry out simultaneous analysis at different points on the same sample (4), with a high spatial resolution and without requiring a mechanical system for physical scanning along the sample. This is obtained by the provision of means for processing the light received by the photodetectors (5), said processing means having a correlation wherein each of the photodetectors (5) corresponds to a spatial point on the sample (4). In the case of dark field applications, the present invention ensures the standardization of the data using the same measure. |
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The invention relates to a spectrophotometer, especially a spectrophotometer that can carry out simultaneous analysis at different points on the same sample (4), with a high spatial resolution and without requiring a mechanical system for physical scanning along the sample. This is obtained by the provision of means for processing the light received by the photodetectors (5), said processing means having a correlation wherein each of the photodetectors (5) corresponds to a spatial point on the sample (4). In the case of dark field applications, the present invention ensures the standardization of the data using the same measure.</description><language>spa</language><subject>COLORIMETRY ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT ; MEASURING ; OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS ; OPTICS ; PHYSICS ; RADIATION PYROMETRY ; TESTING</subject><creationdate>2022</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220520&DB=EPODOC&CC=ES&NR=2911722T3$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20220520&DB=EPODOC&CC=ES&NR=2911722T3$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>MONTEIRO KOSAKA, Priscila</creatorcontrib><creatorcontrib>RAMOS VEGA, Daniel</creatorcontrib><creatorcontrib>RUZ MARTINEZ, Jose Jaime</creatorcontrib><creatorcontrib>PINI, Valerio</creatorcontrib><creatorcontrib>CALLEJA GOMEZ, Montserrat</creatorcontrib><creatorcontrib>ENCINAR DEL POZO, Mario</creatorcontrib><creatorcontrib>TAMAYO DE MIGUEL, Francisco</creatorcontrib><creatorcontrib>MALVAR VIDAL, Oscar</creatorcontrib><title>Espectrofotómetro</title><description>Se da a conocer un espectrofotómetro, en particular, a un espectrofotómetro con capacidad de análisis simultáneo en diferentes puntos de una misma muestra (4) disponiendo de una alta resolución espacial y sin requerir un sistema mecánico de barrido físico a lo largo de la muestra. Esto se consigue mediante la disposición de medios de procesamiento de la luz recibida por los fotodetectores (5) disponiendo dichos medios de procesamiento de una correlación en la que cada uno de los fotodetectores (5) corresponde a un punto espacial de la muestra (4). La presente invención garantiza en el caso de aplicaciones de campo oscuro la normalización de los datos utilizando la misma medida.
The invention relates to a spectrophotometer, especially a spectrophotometer that can carry out simultaneous analysis at different points on the same sample (4), with a high spatial resolution and without requiring a mechanical system for physical scanning along the sample. This is obtained by the provision of means for processing the light received by the photodetectors (5), said processing means having a correlation wherein each of the photodetectors (5) corresponds to a spatial point on the sample (4). In the case of dark field applications, the present invention ensures the standardization of the data using the same measure.</description><subject>COLORIMETRY</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</subject><subject>MEASURING</subject><subject>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</subject><subject>OPTICS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>RADIATION PYROMETRY</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2022</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZBByLS5ITS4pyk_LLzm8OTcVyOJhYE1LzClO5YXS3AyKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfGuwUaWhobmRkYhIcbGxKgBAHJwIZY</recordid><startdate>20220520</startdate><enddate>20220520</enddate><creator>MONTEIRO KOSAKA, Priscila</creator><creator>RAMOS VEGA, Daniel</creator><creator>RUZ MARTINEZ, Jose Jaime</creator><creator>PINI, Valerio</creator><creator>CALLEJA GOMEZ, Montserrat</creator><creator>ENCINAR DEL POZO, Mario</creator><creator>TAMAYO DE MIGUEL, Francisco</creator><creator>MALVAR VIDAL, Oscar</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20220520</creationdate><title>Espectrofotómetro</title><author>MONTEIRO KOSAKA, Priscila ; RAMOS VEGA, Daniel ; RUZ MARTINEZ, Jose Jaime ; PINI, Valerio ; CALLEJA GOMEZ, Montserrat ; ENCINAR DEL POZO, Mario ; TAMAYO DE MIGUEL, Francisco ; MALVAR VIDAL, Oscar</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_ES2911722TT33</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>spa</language><creationdate>2022</creationdate><topic>COLORIMETRY</topic><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT,POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED,VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT</topic><topic>MEASURING</topic><topic>OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS</topic><topic>OPTICS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>RADIATION PYROMETRY</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>MONTEIRO KOSAKA, Priscila</creatorcontrib><creatorcontrib>RAMOS VEGA, Daniel</creatorcontrib><creatorcontrib>RUZ MARTINEZ, Jose Jaime</creatorcontrib><creatorcontrib>PINI, Valerio</creatorcontrib><creatorcontrib>CALLEJA GOMEZ, Montserrat</creatorcontrib><creatorcontrib>ENCINAR DEL POZO, Mario</creatorcontrib><creatorcontrib>TAMAYO DE MIGUEL, Francisco</creatorcontrib><creatorcontrib>MALVAR VIDAL, Oscar</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>MONTEIRO KOSAKA, Priscila</au><au>RAMOS VEGA, Daniel</au><au>RUZ MARTINEZ, Jose Jaime</au><au>PINI, Valerio</au><au>CALLEJA GOMEZ, Montserrat</au><au>ENCINAR DEL POZO, Mario</au><au>TAMAYO DE MIGUEL, Francisco</au><au>MALVAR VIDAL, Oscar</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Espectrofotómetro</title><date>2022-05-20</date><risdate>2022</risdate><abstract>Se da a conocer un espectrofotómetro, en particular, a un espectrofotómetro con capacidad de análisis simultáneo en diferentes puntos de una misma muestra (4) disponiendo de una alta resolución espacial y sin requerir un sistema mecánico de barrido físico a lo largo de la muestra. Esto se consigue mediante la disposición de medios de procesamiento de la luz recibida por los fotodetectores (5) disponiendo dichos medios de procesamiento de una correlación en la que cada uno de los fotodetectores (5) corresponde a un punto espacial de la muestra (4). La presente invención garantiza en el caso de aplicaciones de campo oscuro la normalización de los datos utilizando la misma medida.
The invention relates to a spectrophotometer, especially a spectrophotometer that can carry out simultaneous analysis at different points on the same sample (4), with a high spatial resolution and without requiring a mechanical system for physical scanning along the sample. This is obtained by the provision of means for processing the light received by the photodetectors (5), said processing means having a correlation wherein each of the photodetectors (5) corresponds to a spatial point on the sample (4). In the case of dark field applications, the present invention ensures the standardization of the data using the same measure.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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