Equipo de medición de posición y procedimiento de funcionamiento de un equipo de medición de posición

Equipo de medición de posición con - un soporte de graduación (12) en el que está dispuesta una graduación de medición (14), - al menos un sensor de posición (20), configurado para generar señales de medición dependientes de la posición (M, MP) mediante exploración de la graduación de medición (14),...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	LENZ, Sebastian, GEISLER, Thomas, JOACHIMSTHALER, Ingo, SOIER, Johannes
Format:	Patent
Sprache:	spa
Schlagworte:	ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS MEASURING MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING
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