Dispositivo de muestreo de gas

Método de muestreo de gases que comprende etapas de: extraer gases mediante una sonda (1) que tiene una boquilla de expansión (12), transmitir los gases extraídos a un dispositivo de análisis de gas extraído (EXD) a través de una primera tubería (2), Disminuir la presión de los gases extraídos en la...

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Hauptverfasser: CHOLAT, Pierre, LONIGRO, Lucien
Format: Patent
Sprache:spa
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Beschreibung
Zusammenfassung:Método de muestreo de gases que comprende etapas de: extraer gases mediante una sonda (1) que tiene una boquilla de expansión (12), transmitir los gases extraídos a un dispositivo de análisis de gas extraído (EXD) a través de una primera tubería (2), Disminuir la presión de los gases extraídos en la primera tubería y en el dispositivo de análisis, disminuir la presión de los gases extraídos que se realiza aspirando los gases extraídos en la primera tubería por una segunda tubería (4) que se comunica con la primera tubería a través del dispositivo de análisis, disminuir la presión de los gases extraídos que se realiza para mantener en la primera y segunda tubería y en el dispositivo de análisis una presión capaz de mantener el punto de rocío de los gases extraídos en un valor inferior a la temperatura de la primera y segunda tubería y del dispositivo de análisis, caracterizado porque la boquilla de expansión (12) es una boquilla calibrada de tipo sónico, el dispositivo comprende etapas de: calentar la primera y segunda tubería y el dispositivo de análisis para alcanzar una primera temperatura igual a un máximo de dos docenas de grados Celsius si la temperatura de la primera y segunda tubería y del dispositivo de análisis es inferior a la primera temperatura, y Regular una potencia de aspiración de los gases extraídos, aplicada a la segunda tubería, para mantener la presión en la primera tubería constante en un valor inferior al tercio de la presión de los gases extraídos aguas arriba de la boquilla de expansión. The invention relates to a gas sampling device comprising a probe for sampling gas, an exploiting device for exploiting the gases sampled, a pipe for transmitting the gases sampled by the probe to the exploiting device, and means for lowering the pressure of the gases sampled in the pipe, to lower the dew point of the gases sampled, the means for lowering the pressure comprising an expansion nozzle arranged in the probe and communicating with the pipe, and a suction device for sucking the gases sampled in the pipe through the exploiting device. Application of the invention to the analysis of hot gases loaded with water vapor.