TEMPERATURE MEASURING DEVICE

Die Erfindung betrifft eine Temperaturmesseinrichtung (100) zur Bestimmung einer Mediums-Temperatur (MT) eines Mediums (M) über eine erste Temperatur (T1) und eine zweite Temperatur (T2) an einer Messstelle (MS) in unmittelbarer Umgebung einer das Medium (M) umschließenden Oberfläche (O), umfassend...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: VON DOSKY, Stefan, SCHERER, Tim, BIERWEILER, Thomas
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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creator VON DOSKY, Stefan
SCHERER, Tim
BIERWEILER, Thomas
description Die Erfindung betrifft eine Temperaturmesseinrichtung (100) zur Bestimmung einer Mediums-Temperatur (MT) eines Mediums (M) über eine erste Temperatur (T1) und eine zweite Temperatur (T2) an einer Messstelle (MS) in unmittelbarer Umgebung einer das Medium (M) umschließenden Oberfläche (O), umfassend einen ersten Sensor (S1) zur Ermittlung der ersten Temperatur (T1) und einen zweiten Sensor (S2) zur Ermittlung der zweiten Temperatur (T2) sowie ein Messwertverarbeitungsmittel (10), welches über eine erste Zuleitung (L1) mit dem ersten Sensor (S1) und über eine zweite Zuleitung (L2) mit dem zweiten Sensor (S2) verbunden ist und in einem Messintervall (ti) zyklisch über die Zeit (t) die erste Temperatur (T1) und die zweite Temperatur (T2) als Messwert zur Bestimmung der Mediums-Temperatur (MT) bereitstellt, wobei ein Bewertungsmittel (11), welches dazu ausgestaltet ist eine Änderungsrate (dT/dt) aus einer Differenz aus der ersten Temperatur (T1) und der zweiten Temperatur (T2) zu ermitteln und in Abhängigkeit von ihrem Wert ein Qualitätsmerkmal (QC) bereitzustellen, weiterhin ausgestaltet das Qualitätsmerkmal (QC) als Bewertung einer Messgenauigkeit der Mediums-Temperatur (MT) zusammen mit dem Messwert für die Mediums-Temperatur (MT) zu einem übergeordneten System (101) zu übertragen. A temperature measurement facility for determining a medium temperature of a medium from first and second temperatures at a location immediately around a surface surrounding the medium includes a first and second sensors for determining the first and second temperatures, and a measured value processor connected to the first and second sensors by a first and second feed lines and which provides, cyclically over time, at a measurement interval the first and second temperatures as the measured value for determining the medium temperature, wherein an evaluator is configured to determine a rate of change, from a difference between the first and second temperatures, and depending on its value configured to provide a quality feature, and is further configured to transmit the quality feature, as an evaluation of a measurement accuracy of the medium temperature, together with the measured value of the medium temperature, to a higher-level system.
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A temperature measurement facility for determining a medium temperature of a medium from first and second temperatures at a location immediately around a surface surrounding the medium includes a first and second sensors for determining the first and second temperatures, and a measured value processor connected to the first and second sensors by a first and second feed lines and which provides, cyclically over time, at a measurement interval the first and second temperatures as the measured value for determining the medium temperature, wherein an evaluator is configured to determine a rate of change, from a difference between the first and second temperatures, and depending on its value configured to provide a quality feature, and is further configured to transmit the quality feature, as an evaluation of a measurement accuracy of the medium temperature, together with the measured value of the medium temperature, to a higher-level system.</description><language>eng ; fre ; ger</language><subject>MEASURING ; MEASURING QUANTITY OF HEAT ; MEASURING TEMPERATURE ; PHYSICS ; TESTING ; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><creationdate>2024</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240313&amp;DB=EPODOC&amp;CC=EP&amp;NR=4336158A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20240313&amp;DB=EPODOC&amp;CC=EP&amp;NR=4336158A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>VON DOSKY, Stefan</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHERER, Tim</creatorcontrib><creatorcontrib>BIERWEILER, Thomas</creatorcontrib><title>TEMPERATURE MEASURING DEVICE</title><description>Die Erfindung betrifft eine Temperaturmesseinrichtung (100) zur Bestimmung einer Mediums-Temperatur (MT) eines Mediums (M) über eine erste Temperatur (T1) und eine zweite Temperatur (T2) an einer Messstelle (MS) in unmittelbarer Umgebung einer das Medium (M) umschließenden Oberfläche (O), umfassend einen ersten Sensor (S1) zur Ermittlung der ersten Temperatur (T1) und einen zweiten Sensor (S2) zur Ermittlung der zweiten Temperatur (T2) sowie ein Messwertverarbeitungsmittel (10), welches über eine erste Zuleitung (L1) mit dem ersten Sensor (S1) und über eine zweite Zuleitung (L2) mit dem zweiten Sensor (S2) verbunden ist und in einem Messintervall (ti) zyklisch über die Zeit (t) die erste Temperatur (T1) und die zweite Temperatur (T2) als Messwert zur Bestimmung der Mediums-Temperatur (MT) bereitstellt, wobei ein Bewertungsmittel (11), welches dazu ausgestaltet ist eine Änderungsrate (dT/dt) aus einer Differenz aus der ersten Temperatur (T1) und der zweiten Temperatur (T2) zu ermitteln und in Abhängigkeit von ihrem Wert ein Qualitätsmerkmal (QC) bereitzustellen, weiterhin ausgestaltet das Qualitätsmerkmal (QC) als Bewertung einer Messgenauigkeit der Mediums-Temperatur (MT) zusammen mit dem Messwert für die Mediums-Temperatur (MT) zu einem übergeordneten System (101) zu übertragen. A temperature measurement facility for determining a medium temperature of a medium from first and second temperatures at a location immediately around a surface surrounding the medium includes a first and second sensors for determining the first and second temperatures, and a measured value processor connected to the first and second sensors by a first and second feed lines and which provides, cyclically over time, at a measurement interval the first and second temperatures as the measured value for determining the medium temperature, wherein an evaluator is configured to determine a rate of change, from a difference between the first and second temperatures, and depending on its value configured to provide a quality feature, and is further configured to transmit the quality feature, as an evaluation of a measurement accuracy of the medium temperature, together with the measured value of the medium temperature, to a higher-level system.</description><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING QUANTITY OF HEAT</subject><subject>MEASURING TEMPERATURE</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><subject>THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2024</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZJAJcfUNcA1yDAkNclXwdXUMDg3y9HNXcHEN83R25WFgTUvMKU7lhdLcDApuriHOHrqpBfnxqcUFicmpeakl8a4BJsbGZoamFo6GxkQoAQBEZyCQ</recordid><startdate>20240313</startdate><enddate>20240313</enddate><creator>VON DOSKY, Stefan</creator><creator>SCHERER, Tim</creator><creator>BIERWEILER, Thomas</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20240313</creationdate><title>TEMPERATURE MEASURING DEVICE</title><author>VON DOSKY, Stefan ; SCHERER, Tim ; BIERWEILER, Thomas</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_EP4336158A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; ger</language><creationdate>2024</creationdate><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING QUANTITY OF HEAT</topic><topic>MEASURING TEMPERATURE</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><topic>THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>VON DOSKY, Stefan</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHERER, Tim</creatorcontrib><creatorcontrib>BIERWEILER, Thomas</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>VON DOSKY, Stefan</au><au>SCHERER, Tim</au><au>BIERWEILER, Thomas</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>TEMPERATURE MEASURING DEVICE</title><date>2024-03-13</date><risdate>2024</risdate><abstract>Die Erfindung betrifft eine Temperaturmesseinrichtung (100) zur Bestimmung einer Mediums-Temperatur (MT) eines Mediums (M) über eine erste Temperatur (T1) und eine zweite Temperatur (T2) an einer Messstelle (MS) in unmittelbarer Umgebung einer das Medium (M) umschließenden Oberfläche (O), umfassend einen ersten Sensor (S1) zur Ermittlung der ersten Temperatur (T1) und einen zweiten Sensor (S2) zur Ermittlung der zweiten Temperatur (T2) sowie ein Messwertverarbeitungsmittel (10), welches über eine erste Zuleitung (L1) mit dem ersten Sensor (S1) und über eine zweite Zuleitung (L2) mit dem zweiten Sensor (S2) verbunden ist und in einem Messintervall (ti) zyklisch über die Zeit (t) die erste Temperatur (T1) und die zweite Temperatur (T2) als Messwert zur Bestimmung der Mediums-Temperatur (MT) bereitstellt, wobei ein Bewertungsmittel (11), welches dazu ausgestaltet ist eine Änderungsrate (dT/dt) aus einer Differenz aus der ersten Temperatur (T1) und der zweiten Temperatur (T2) zu ermitteln und in Abhängigkeit von ihrem Wert ein Qualitätsmerkmal (QC) bereitzustellen, weiterhin ausgestaltet das Qualitätsmerkmal (QC) als Bewertung einer Messgenauigkeit der Mediums-Temperatur (MT) zusammen mit dem Messwert für die Mediums-Temperatur (MT) zu einem übergeordneten System (101) zu übertragen. 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