NANOSCALE DYNAMIC MECHANICAL ANALYSIS VIA ATOMIC FORCE MICROSCOPY

An atomic-force-microscope-based apparatus and method including hardware and software, configured to collect, in a dynamic fashion, and analyze data representing mechanical properties of soft materials on a nanoscale, to map viscoelastic properties of a soft-material sample. The use of the apparatus...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: RUITER, Anthonius, SYED-AMANULLA, Syed-Asif, Osechinskiy, Sergey, PITTENGER, Bede
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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