MEASURING DEVICE FOR INTERFEROMETRIC SHAPE MEASUREMENT

A measuring device (10) for the interferometric shape measurement of a surface (12) of a test object (14-1; 14-2)includes (i) a diffractive optical element (26-1; 26-2) that generates a test wave (28) from incoming measurement radiation (18), wherein the diffractive optical element radiates the test...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: HETZLER, Jochen
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
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