Method for determining a distance and an integrated magnetic field measuring apparatus
The device (10) has a semiconductor body (50) arranged on a metal substrate (70) and comprising a first magnetic field sensor (20) with a sensor signal, a second magnetic field sensor (30) and a current-carrying conductor. A third magnetic field sensor (40) with a sensor signal is formed in the semi...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre ; ger |
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| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | HEBERLE, KLAUS |
| description | The device (10) has a semiconductor body (50) arranged on a metal substrate (70) and comprising a first magnetic field sensor (20) with a sensor signal, a second magnetic field sensor (30) and a current-carrying conductor. A third magnetic field sensor (40) with a sensor signal is formed in the semiconductor body. The magnetic field sensors have identical orientation to Earth's magnetic field and a different distance to the conductor, and the magnetic field of the conductor simultaneously penetrates magnetic field sensors.
Integrierte Magnetfeldmessvorrichtung, mit einem auf einem Metallträger angeordneten Halbleiterkörper, aufweisend eine erste Oberfläche und mehreren auf der Oberfläche ausgebildeten Metallflächen, einem in dem Halbleiterkörper ausgebildeten ersten Magnetfeldsensor mit einem ersten Sensorsignal und zweiten Magnetfeldsensor mit einem zweiten Sensorsignal, einem stromdurchflossenen ersten Leiter, wobei ein dritter Magnetfeldsensor mit einem dritten Sensorsignal in dem Halbleiterkörper ausgebildet ist und der erste Magnetfeldsensor, der zweite Magnetfeldsensor und der dritte Magnetfeldsensor eine im Wesentlichen gleiche Ausrichtung zu dem Erdmagnetfeld und einen unterschiedlichen Abstand zu dem ersten Leiter aufweisen und das Magnetfeld des ersten Leiters gleichzeitig den ersten Magnetfeldsensor, den zweiten Magnetfeldsensor und den dritten Magnetfeldsensor durchdringt. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_EP2584304A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>EP2584304A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_EP2584304A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNjEEKwjAURLNxIeod_gUEtRXcilTcCC7Ebfkkk_qhTULye3-DeAAXw2PgzSzN6w59R0c-ZnJQ5EmChIGYnBTlYEEcXA1JUAyZFY4mHgJULHnBWCu4zPm7SomrMpe1WXgeCzY_rgxdu-fltkWKPUpii_rQd4_D8dQ2u_a8b_5QPqEIOTQ</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Method for determining a distance and an integrated magnetic field measuring apparatus</title><source>esp@cenet</source><creator>HEBERLE, KLAUS</creator><creatorcontrib>HEBERLE, KLAUS</creatorcontrib><description>The device (10) has a semiconductor body (50) arranged on a metal substrate (70) and comprising a first magnetic field sensor (20) with a sensor signal, a second magnetic field sensor (30) and a current-carrying conductor. A third magnetic field sensor (40) with a sensor signal is formed in the semiconductor body. The magnetic field sensors have identical orientation to Earth's magnetic field and a different distance to the conductor, and the magnetic field of the conductor simultaneously penetrates magnetic field sensors.
Integrierte Magnetfeldmessvorrichtung, mit einem auf einem Metallträger angeordneten Halbleiterkörper, aufweisend eine erste Oberfläche und mehreren auf der Oberfläche ausgebildeten Metallflächen, einem in dem Halbleiterkörper ausgebildeten ersten Magnetfeldsensor mit einem ersten Sensorsignal und zweiten Magnetfeldsensor mit einem zweiten Sensorsignal, einem stromdurchflossenen ersten Leiter, wobei ein dritter Magnetfeldsensor mit einem dritten Sensorsignal in dem Halbleiterkörper ausgebildet ist und der erste Magnetfeldsensor, der zweite Magnetfeldsensor und der dritte Magnetfeldsensor eine im Wesentlichen gleiche Ausrichtung zu dem Erdmagnetfeld und einen unterschiedlichen Abstand zu dem ersten Leiter aufweisen und das Magnetfeld des ersten Leiters gleichzeitig den ersten Magnetfeldsensor, den zweiten Magnetfeldsensor und den dritten Magnetfeldsensor durchdringt.</description><language>eng ; fre ; ger</language><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ; ELECTRICITY ; MEASURING ; MEASURING ANGLES ; MEASURING AREAS ; MEASURING ELECTRIC VARIABLES ; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS ; MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS ; MEASURING MAGNETIC VARIABLES ; MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE ; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; PHYSICS ; TARIFF METERING APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>2013</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130424&DB=EPODOC&CC=EP&NR=2584304A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130424&DB=EPODOC&CC=EP&NR=2584304A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>HEBERLE, KLAUS</creatorcontrib><title>Method for determining a distance and an integrated magnetic field measuring apparatus</title><description>The device (10) has a semiconductor body (50) arranged on a metal substrate (70) and comprising a first magnetic field sensor (20) with a sensor signal, a second magnetic field sensor (30) and a current-carrying conductor. A third magnetic field sensor (40) with a sensor signal is formed in the semiconductor body. The magnetic field sensors have identical orientation to Earth's magnetic field and a different distance to the conductor, and the magnetic field of the conductor simultaneously penetrates magnetic field sensors.
Integrierte Magnetfeldmessvorrichtung, mit einem auf einem Metallträger angeordneten Halbleiterkörper, aufweisend eine erste Oberfläche und mehreren auf der Oberfläche ausgebildeten Metallflächen, einem in dem Halbleiterkörper ausgebildeten ersten Magnetfeldsensor mit einem ersten Sensorsignal und zweiten Magnetfeldsensor mit einem zweiten Sensorsignal, einem stromdurchflossenen ersten Leiter, wobei ein dritter Magnetfeldsensor mit einem dritten Sensorsignal in dem Halbleiterkörper ausgebildet ist und der erste Magnetfeldsensor, der zweite Magnetfeldsensor und der dritte Magnetfeldsensor eine im Wesentlichen gleiche Ausrichtung zu dem Erdmagnetfeld und einen unterschiedlichen Abstand zu dem ersten Leiter aufweisen und das Magnetfeld des ersten Leiters gleichzeitig den ersten Magnetfeldsensor, den zweiten Magnetfeldsensor und den dritten Magnetfeldsensor durchdringt.</description><subject>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MEASURING ANGLES</subject><subject>MEASURING AREAS</subject><subject>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</subject><subject>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</subject><subject>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</subject><subject>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</subject><subject>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TARIFF METERING APPARATUS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2013</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNjEEKwjAURLNxIeod_gUEtRXcilTcCC7Ebfkkk_qhTULye3-DeAAXw2PgzSzN6w59R0c-ZnJQ5EmChIGYnBTlYEEcXA1JUAyZFY4mHgJULHnBWCu4zPm7SomrMpe1WXgeCzY_rgxdu-fltkWKPUpii_rQd4_D8dQ2u_a8b_5QPqEIOTQ</recordid><startdate>20130424</startdate><enddate>20130424</enddate><creator>HEBERLE, KLAUS</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20130424</creationdate><title>Method for determining a distance and an integrated magnetic field measuring apparatus</title><author>HEBERLE, KLAUS</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_EP2584304A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; ger</language><creationdate>2013</creationdate><topic>ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MEASURING ANGLES</topic><topic>MEASURING AREAS</topic><topic>MEASURING ELECTRIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS</topic><topic>MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS</topic><topic>MEASURING MAGNETIC VARIABLES</topic><topic>MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE</topic><topic>MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TARIFF METERING APPARATUS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>HEBERLE, KLAUS</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>HEBERLE, KLAUS</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Method for determining a distance and an integrated magnetic field measuring apparatus</title><date>2013-04-24</date><risdate>2013</risdate><abstract>The device (10) has a semiconductor body (50) arranged on a metal substrate (70) and comprising a first magnetic field sensor (20) with a sensor signal, a second magnetic field sensor (30) and a current-carrying conductor. A third magnetic field sensor (40) with a sensor signal is formed in the semiconductor body. The magnetic field sensors have identical orientation to Earth's magnetic field and a different distance to the conductor, and the magnetic field of the conductor simultaneously penetrates magnetic field sensors.
Integrierte Magnetfeldmessvorrichtung, mit einem auf einem Metallträger angeordneten Halbleiterkörper, aufweisend eine erste Oberfläche und mehreren auf der Oberfläche ausgebildeten Metallflächen, einem in dem Halbleiterkörper ausgebildeten ersten Magnetfeldsensor mit einem ersten Sensorsignal und zweiten Magnetfeldsensor mit einem zweiten Sensorsignal, einem stromdurchflossenen ersten Leiter, wobei ein dritter Magnetfeldsensor mit einem dritten Sensorsignal in dem Halbleiterkörper ausgebildet ist und der erste Magnetfeldsensor, der zweite Magnetfeldsensor und der dritte Magnetfeldsensor eine im Wesentlichen gleiche Ausrichtung zu dem Erdmagnetfeld und einen unterschiedlichen Abstand zu dem ersten Leiter aufweisen und das Magnetfeld des ersten Leiters gleichzeitig den ersten Magnetfeldsensor, den zweiten Magnetfeldsensor und den dritten Magnetfeldsensor durchdringt.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | eng ; fre ; ger |
| recordid | cdi_epo_espacenet_EP2584304A1 |
| source | esp@cenet |
| subjects | ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVEREDIN A SINGLE OTHER SUBCLASS ELECTRICITY MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS MEASURING MAGNETIC VARIABLES MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR PHYSICS TARIFF METERING APPARATUS TESTING |
| title | Method for determining a distance and an integrated magnetic field measuring apparatus |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-11T20%3A18%3A07IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=HEBERLE,%20KLAUS&rft.date=2013-04-24&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EEP2584304A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |