METHOD OF MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING A POROUS DIELECTRIC LAYER AND AIR GAPS
The invention relates to a method of manufacturing a semiconductor device, comprising the provision of a dual damascene structure (20). This dual damascene structure (20) comprises a metal layer (1) with thereon a first dielectric layer (2) provided with a via (3). A second dielectric layer (5) is a...
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Hauptverfasser: | , , |
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre ; ger |
Schlagworte: | |
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