DEVICE FOR GENERATING AND DETECTING MAGNETIC MATERIAL STRUCTURES AT ATOMIC LEVELS
Un dispositif à microscope à tunnel pour le balayage à l'échelle atomique de la surface d'un matériau par un détecteur comprend un detecteur (2) ayant une pointe détectrice (3) magnétiquement active qui sert à générer et à détecter des structures magnétiques à la surface du matériau. En ou...
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre ; ger |
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| creator | GRUETTER, PETER WIESENDANGER, ROLAND MEYER, ERNST ROSENTHALER, LUKAS GARCIA, NICO AUTONOME UNIVERSITAT MADRID GUENTHERODT, HANS-JOACHIM HIDBER, HANS, RUDOLF HEINZELMANN, HARALD |
| description | Un dispositif à microscope à tunnel pour le balayage à l'échelle atomique de la surface d'un matériau par un détecteur comprend un detecteur (2) ayant une pointe détectrice (3) magnétiquement active qui sert à générer et à détecter des structures magnétiques à la surface du matériau. En outre, des dispositifs réglables d'entraînement et de positionnement (5-10) servent à rapprocher mutuellement la surface du matériau (1) et la pointe détectrice (3) d'une part et une extrémité du tunnel (4) d'autre part jusqu'à des distances nanométriques. Des signaux de mesure de la déviation relative de la pointe détectrice (3) par rapport à la surface du matériau (1) pendant le balayage sont fournis à un ordinateur (40), où les valeurs de mesure sont attribuées à des positions correspondantes de détection. La pointe détectrice magnétique (3) peut être formée par un aimant permanent ou par un élément d'induction électromagnétique. Des structures magnétiques de dimensions atomiques peuvent ainsi être produites et localisées de manière reproductible. |
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En outre, des dispositifs réglables d'entraînement et de positionnement (5-10) servent à rapprocher mutuellement la surface du matériau (1) et la pointe détectrice (3) d'une part et une extrémité du tunnel (4) d'autre part jusqu'à des distances nanométriques. Des signaux de mesure de la déviation relative de la pointe détectrice (3) par rapport à la surface du matériau (1) pendant le balayage sont fournis à un ordinateur (40), où les valeurs de mesure sont attribuées à des positions correspondantes de détection. La pointe détectrice magnétique (3) peut être formée par un aimant permanent ou par un élément d'induction électromagnétique. Des structures magnétiques de dimensions atomiques peuvent ainsi être produites et localisées de manière reproductible.</description><edition>4</edition><language>eng ; fre ; ger</language><subject>APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] ; INFORMATION STORAGE ; INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORDCARRIER AND TRANSDUCER ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS ; TESTING</subject><creationdate>1988</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=19881117&DB=EPODOC&CC=EP&NR=0290522A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76290</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=19881117&DB=EPODOC&CC=EP&NR=0290522A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>GRUETTER, PETER</creatorcontrib><creatorcontrib>WIESENDANGER, ROLAND</creatorcontrib><creatorcontrib>MEYER, ERNST</creatorcontrib><creatorcontrib>ROSENTHALER, LUKAS</creatorcontrib><creatorcontrib>GARCIA, NICO AUTONOME UNIVERSITAT MADRID</creatorcontrib><creatorcontrib>GUENTHERODT, HANS-JOACHIM</creatorcontrib><creatorcontrib>HIDBER, HANS, RUDOLF</creatorcontrib><creatorcontrib>HEINZELMANN, HARALD</creatorcontrib><title>DEVICE FOR GENERATING AND DETECTING MAGNETIC MATERIAL STRUCTURES AT ATOMIC LEVELS</title><description>Un dispositif à microscope à tunnel pour le balayage à l'échelle atomique de la surface d'un matériau par un détecteur comprend un detecteur (2) ayant une pointe détectrice (3) magnétiquement active qui sert à générer et à détecter des structures magnétiques à la surface du matériau. 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En outre, des dispositifs réglables d'entraînement et de positionnement (5-10) servent à rapprocher mutuellement la surface du matériau (1) et la pointe détectrice (3) d'une part et une extrémité du tunnel (4) d'autre part jusqu'à des distances nanométriques. Des signaux de mesure de la déviation relative de la pointe détectrice (3) par rapport à la surface du matériau (1) pendant le balayage sont fournis à un ordinateur (40), où les valeurs de mesure sont attribuées à des positions correspondantes de détection. La pointe détectrice magnétique (3) peut être formée par un aimant permanent ou par un élément d'induction électromagnétique. Des structures magnétiques de dimensions atomiques peuvent ainsi être produites et localisées de manière reproductible.</abstract><edition>4</edition><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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