METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING PARTICULATE MATTER

METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING PARTICULATE MATTER

Une plaque témoin (12) récupère la poussière ou autre matière particulaire dans un environnement contrôlé. La plaque est éclairée par une source lumineuse (14) de sorte que seule la poussière brille, et provoque la focalisation de spots brillants sur un plan focal (25) défini par un réseau CCD (24)....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: CHAMPETIER, ROBERT, J
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; ger
Schlagworte:
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator CHAMPETIER, ROBERT, J
description Une plaque témoin (12) récupère la poussière ou autre matière particulaire dans un environnement contrôlé. La plaque est éclairée par une source lumineuse (14) de sorte que seule la poussière brille, et provoque la focalisation de spots brillants sur un plan focal (25) défini par un réseau CCD (24). Le plan focal est lu sur un ordinateur (32) qui est programmé pour déterminer les dimensions et le nombre des particules de poussière. A witness plate (12) collects dust or other particulate matter in a controlled environment. The plate is illuminated by a light source (14) so that only the dust appears bright, and causes bright spots to be focussed on a focal plane (25), defined by a CCD array (24). The focal plane is read out on a computer (32) which is programmed to provide sizes and count of the dust particles.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_EP0264427A1</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>EP0264427A1</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_EP0264427A13</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZDD3dQ3x8HdRcPQD4oAAxyDHkNBgBTf_IAVPF1e_EE-3SE8_dwWgeIinc6iPY4irgq9jSIhrEA8Da1piTnEqL5TmZlBwcw1x9tBNLciPTy0uSExOzUstiXcNMDAyMzExMnc0NCZCCQD3_ifp</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING PARTICULATE MATTER</title><source>esp@cenet</source><creator>CHAMPETIER, ROBERT, J</creator><creatorcontrib>CHAMPETIER, ROBERT, J</creatorcontrib><description>Une plaque témoin (12) récupère la poussière ou autre matière particulaire dans un environnement contrôlé. La plaque est éclairée par une source lumineuse (14) de sorte que seule la poussière brille, et provoque la focalisation de spots brillants sur un plan focal (25) défini par un réseau CCD (24). Le plan focal est lu sur un ordinateur (32) qui est programmé pour déterminer les dimensions et le nombre des particules de poussière. A witness plate (12) collects dust or other particulate matter in a controlled environment. The plate is illuminated by a light source (14) so that only the dust appears bright, and causes bright spots to be focussed on a focal plane (25), defined by a CCD array (24). The focal plane is read out on a computer (32) which is programmed to provide sizes and count of the dust particles.</description><language>eng ; fre ; ger</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>1988</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19880427&amp;DB=EPODOC&amp;CC=EP&amp;NR=0264427A1$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=19880427&amp;DB=EPODOC&amp;CC=EP&amp;NR=0264427A1$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>CHAMPETIER, ROBERT, J</creatorcontrib><title>METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING PARTICULATE MATTER</title><description>Une plaque témoin (12) récupère la poussière ou autre matière particulaire dans un environnement contrôlé. La plaque est éclairée par une source lumineuse (14) de sorte que seule la poussière brille, et provoque la focalisation de spots brillants sur un plan focal (25) défini par un réseau CCD (24). Le plan focal est lu sur un ordinateur (32) qui est programmé pour déterminer les dimensions et le nombre des particules de poussière. A witness plate (12) collects dust or other particulate matter in a controlled environment. The plate is illuminated by a light source (14) so that only the dust appears bright, and causes bright spots to be focussed on a focal plane (25), defined by a CCD array (24). The focal plane is read out on a computer (32) which is programmed to provide sizes and count of the dust particles.</description><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>1988</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDD3dQ3x8HdRcPQD4oAAxyDHkNBgBTf_IAVPF1e_EE-3SE8_dwWgeIinc6iPY4irgq9jSIhrEA8Da1piTnEqL5TmZlBwcw1x9tBNLciPTy0uSExOzUstiXcNMDAyMzExMnc0NCZCCQD3_ifp</recordid><startdate>19880427</startdate><enddate>19880427</enddate><creator>CHAMPETIER, ROBERT, J</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>19880427</creationdate><title>METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING PARTICULATE MATTER</title><author>CHAMPETIER, ROBERT, J</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_EP0264427A13</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre ; ger</language><creationdate>1988</creationdate><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>CHAMPETIER, ROBERT, J</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>CHAMPETIER, ROBERT, J</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING PARTICULATE MATTER</title><date>1988-04-27</date><risdate>1988</risdate><abstract>Une plaque témoin (12) récupère la poussière ou autre matière particulaire dans un environnement contrôlé. La plaque est éclairée par une source lumineuse (14) de sorte que seule la poussière brille, et provoque la focalisation de spots brillants sur un plan focal (25) défini par un réseau CCD (24). Le plan focal est lu sur un ordinateur (32) qui est programmé pour déterminer les dimensions et le nombre des particules de poussière. A witness plate (12) collects dust or other particulate matter in a controlled environment. The plate is illuminated by a light source (14) so that only the dust appears bright, and causes bright spots to be focussed on a focal plane (25), defined by a CCD array (24). The focal plane is read out on a computer (32) which is programmed to provide sizes and count of the dust particles.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre ; ger
recordid cdi_epo_espacenet_EP0264427A1
source esp@cenet
subjects INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
PHYSICS
TESTING
title METHOD AND APPARATUS FOR IDENTIFYING PARTICULATE MATTER
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-11T16%3A39%3A05IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=CHAMPETIER,%20ROBERT,%20J&rft.date=1988-04-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EEP0264427A1%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true