DEVICE FOR IDENTIFYING A DIAMOND

A diamond identification device relates to the field of examining natural and synthetic diamonds. The claimed device for identifying a cut diamond comprises a measurement location with a measuring aperture at which the cut diamond to be examined is fixedly positioned; a movable optical system including a spectrometer, two sources of radiation at wavelengths of 250-280 nm and 350-380 nm, respectively, said two sources of radiation and the spectrometer being connected to the measurement location by optical fibres for inputting radiation into the cut diamond and by an optical fibre for outputting radiation from the cut diamond; and also a source of laser radiation at a wavelength of 532 nm and a microcontroller, wherein the cut diamond is positioned at the measurement location in such a way that the table of the diamond faces the measuring aperture of the measurement location, and the culet of the diamond is situated directly above the measuring aperture to which the optical fibres for inputting radiation and the optical fibre for outputting radiation are connected, and wherein the microcontroller is configured to control the alternate operation of the sources of radiation in a set time sequence, the movement of the optical system to allow the input of radiation into the cut diamond, and the processing of the spectrometer data. Устройство для идентификации алмаза относится к области исследования природных и синтетических алмазов. Заявленное устройство для идентификации ограненного алмаза содержит место для измерения с измерительным отверстием, на котором размещают с возможностью фиксации ограненный алмаз, подлежащий исследованию, оптическую систему, выполненную с возможностью перемещения, включающую спектрометр, два источника излучения с длинами волн 250-280 нм и 350-380 нм соответственно, причём указанные два источника излучения и спектрометр соединены с местом для измерения оптическими волокнами для ввода излучения в ограненный алмаз и оптическим волокном для вывода излучения в ограненный алмаз; и также источник лазерного излучения с длиной волны 532 нм и микроконтроллер, при этом ограненный алмаз размещают в месте для измерения таким образом, чтобы площадка алмаза была обращена к измерительному отверстию места для измерения, а калетта алмаза находилась непосредственно над измерительным отверстием, к которому подводятся оптические волокна для ввода излучения и оптическое волокно для вывода излучения, при этом микроконтроллер выполнен с возможностью управлен