Optische Analysenvorrichtung

Um eine Mehrzahl von Proben in einem Abbildungsfeld in einer SPR-Abbildungsvorrichtung zur Analyse einer Mehrzahl von Proben aufzunehmen, bestand die Notwendigkeit, ein optisches System mit großer Apertur herzustellen. Infolgedessen war die Anzahl der Proben, die gleichzeitig analysiert werden konnt...

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Hauptverfasser: Maeshima, Muneo, Imai, Kazumichi, Hanazaki, Yohei, Obara, Takayuki
Format: Patent
Sprache:ger
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creator Maeshima, Muneo
Imai, Kazumichi
Hanazaki, Yohei
Obara, Takayuki
description Um eine Mehrzahl von Proben in einem Abbildungsfeld in einer SPR-Abbildungsvorrichtung zur Analyse einer Mehrzahl von Proben aufzunehmen, bestand die Notwendigkeit, ein optisches System mit großer Apertur herzustellen. Infolgedessen war die Anzahl der Proben, die gleichzeitig analysiert werden konnten, begrenzt. Somit war es schwierig, den Durchsatz bei der Analyse einer Mehrzahl von Proben zu erhöhen. Die vorliegende optische Analysenvorrichtung ist mit einer Lichtquelle, einem Detektor, einem Substrat mit einem Metallfilm auf mindestens einer seiner Oberflächen und einem optischen Element zum Zuführen eines Lichtstrahls aus der Lichtquelle zum Substrat und zum Ausleiten des Lichtstrahls vom Substrat zum Detektor versehen. Eine Mehrzahl von Probenbereichen zur Aufnahme von Proben ist auf dem Metallfilm vorgesehen. Ein Teil des Lichtstrahls aus der Lichtquelle wird auf einen beliebigen der Probenbereiche gerichtet, mindestens einmal an der Oberfläche des Substrats, die der Seite, auf der die Probenbereiche vorgesehen sind, gegenüber liegt, reflektiert und nicht auf andere Probenbereiche, abgesehen vom vorerwähnten Probenbereich im optischen Pfad, gerichtet, bis der Teil des Lichtstrahls durch das optische Element ausgeleitet wird. This optical analyzing device is provided with a light source, a detector, a substrate having a metal film on at least one surface thereof, and an optical element for introducing a light beam from the light source to the substrate and delivering the light beam from the substrate toward the detector. A plurality of sample regions for holding samples are provided on the metal film; and a portion of the light beam from the light source is irradiated to any one of the sample regions, is reflected, at least once, by the surface of the substrate on the opposite side of the side on which the sample regions are provided, and is not irradiated to a sample region other than the aforementioned sample region in the path thereof until the portion of the light beam is delivered by the optical element.
format Patent
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Infolgedessen war die Anzahl der Proben, die gleichzeitig analysiert werden konnten, begrenzt. Somit war es schwierig, den Durchsatz bei der Analyse einer Mehrzahl von Proben zu erhöhen. Die vorliegende optische Analysenvorrichtung ist mit einer Lichtquelle, einem Detektor, einem Substrat mit einem Metallfilm auf mindestens einer seiner Oberflächen und einem optischen Element zum Zuführen eines Lichtstrahls aus der Lichtquelle zum Substrat und zum Ausleiten des Lichtstrahls vom Substrat zum Detektor versehen. Eine Mehrzahl von Probenbereichen zur Aufnahme von Proben ist auf dem Metallfilm vorgesehen. Ein Teil des Lichtstrahls aus der Lichtquelle wird auf einen beliebigen der Probenbereiche gerichtet, mindestens einmal an der Oberfläche des Substrats, die der Seite, auf der die Probenbereiche vorgesehen sind, gegenüber liegt, reflektiert und nicht auf andere Probenbereiche, abgesehen vom vorerwähnten Probenbereich im optischen Pfad, gerichtet, bis der Teil des Lichtstrahls durch das optische Element ausgeleitet wird. This optical analyzing device is provided with a light source, a detector, a substrate having a metal film on at least one surface thereof, and an optical element for introducing a light beam from the light source to the substrate and delivering the light beam from the substrate toward the detector. A plurality of sample regions for holding samples are provided on the metal film; and a portion of the light beam from the light source is irradiated to any one of the sample regions, is reflected, at least once, by the surface of the substrate on the opposite side of the side on which the sample regions are provided, and is not irradiated to a sample region other than the aforementioned sample region in the path thereof until the portion of the light beam is delivered by the optical element.</description><language>ger</language><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; PHYSICS ; TESTING</subject><creationdate>2017</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170914&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=112015005746T5$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76318</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20170914&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=112015005746T5$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Maeshima, Muneo</creatorcontrib><creatorcontrib>Imai, Kazumichi</creatorcontrib><creatorcontrib>Hanazaki, Yohei</creatorcontrib><creatorcontrib>Obara, Takayuki</creatorcontrib><title>Optische Analysenvorrichtung</title><description>Um eine Mehrzahl von Proben in einem Abbildungsfeld in einer SPR-Abbildungsvorrichtung zur Analyse einer Mehrzahl von Proben aufzunehmen, bestand die Notwendigkeit, ein optisches System mit großer Apertur herzustellen. Infolgedessen war die Anzahl der Proben, die gleichzeitig analysiert werden konnten, begrenzt. Somit war es schwierig, den Durchsatz bei der Analyse einer Mehrzahl von Proben zu erhöhen. Die vorliegende optische Analysenvorrichtung ist mit einer Lichtquelle, einem Detektor, einem Substrat mit einem Metallfilm auf mindestens einer seiner Oberflächen und einem optischen Element zum Zuführen eines Lichtstrahls aus der Lichtquelle zum Substrat und zum Ausleiten des Lichtstrahls vom Substrat zum Detektor versehen. Eine Mehrzahl von Probenbereichen zur Aufnahme von Proben ist auf dem Metallfilm vorgesehen. Ein Teil des Lichtstrahls aus der Lichtquelle wird auf einen beliebigen der Probenbereiche gerichtet, mindestens einmal an der Oberfläche des Substrats, die der Seite, auf der die Probenbereiche vorgesehen sind, gegenüber liegt, reflektiert und nicht auf andere Probenbereiche, abgesehen vom vorerwähnten Probenbereich im optischen Pfad, gerichtet, bis der Teil des Lichtstrahls durch das optische Element ausgeleitet wird. This optical analyzing device is provided with a light source, a detector, a substrate having a metal film on at least one surface thereof, and an optical element for introducing a light beam from the light source to the substrate and delivering the light beam from the substrate toward the detector. 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Ein Teil des Lichtstrahls aus der Lichtquelle wird auf einen beliebigen der Probenbereiche gerichtet, mindestens einmal an der Oberfläche des Substrats, die der Seite, auf der die Probenbereiche vorgesehen sind, gegenüber liegt, reflektiert und nicht auf andere Probenbereiche, abgesehen vom vorerwähnten Probenbereich im optischen Pfad, gerichtet, bis der Teil des Lichtstrahls durch das optische Element ausgeleitet wird. This optical analyzing device is provided with a light source, a detector, a substrate having a metal film on at least one surface thereof, and an optical element for introducing a light beam from the light source to the substrate and delivering the light beam from the substrate toward the detector. 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