Auf Galliumnitrid basierende Vorrichtungen und Herstellungsverfahren

Eine Halbleiterstruktur, die folgendes aufweist: (a) ein Siliziumsubstrat; (b) eine Aluminiumschicht direkt über einer Oberfläche des Substrats liegend; (c) eine polykristalline Kernbildungsschicht aus einem Nitridhalbleiter direkt über der Aluminiumschicht liegend; (d) eine Pufferstruktur einschlie...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: PERES, BORIS, ELIASHEVICH, IVAN, MURPHY, MICHEL, SHELTON, BRYAN, CERUZZI, ALEX D, STALL, RICHARD A, POPHRISTIC, MILAN, GUO, SHIPING, GOTTHOLD, DAVID
Format: Patent
Sprache:ger
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container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator PERES, BORIS
ELIASHEVICH, IVAN
MURPHY, MICHEL
SHELTON, BRYAN
CERUZZI, ALEX D
STALL, RICHARD A
POPHRISTIC, MILAN
GUO, SHIPING
GOTTHOLD, DAVID
description Eine Halbleiterstruktur, die folgendes aufweist: (a) ein Siliziumsubstrat; (b) eine Aluminiumschicht direkt über einer Oberfläche des Substrats liegend; (c) eine polykristalline Kernbildungsschicht aus einem Nitridhalbleiter direkt über der Aluminiumschicht liegend; (d) eine Pufferstruktur einschließlich einer oder mehrerer Supergitter über der Kernbildungsschicht liegend, wobei jedes der Supergitter eine Vielzahl von auf Nitrid basierenden Halbleitern unterschiedlicher Zusammensetzungen aufweist; und (e) eine operative oder Betriebsstruktur aus einem oder mehreren auf Galliumnitrid basierenden Halbleitern, die über der erwähnten Pufferstruktur liegen. A nitride semiconductor is grown on a silicon substrate by depositing a few mono-layers of aluminum to protect the silicon substrate from ammonia used during the growth process, and then forming a nucleation layer from aluminum nitride and a buffer structure including multiple superlattices of AlRGa(1-R)N semiconductors having different compositions and an intermediate layer of GaN or other Ga-rich nitride semiconductor. The resulting structure has superior crystal quality. The silicon substrate used in epitaxial growth is removed before completion of the device so as to provide superior electrical properties in devices such as high-electron mobility transistors.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_DE10392313B4</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>DE10392313B4</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_DE10392313B43</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZHBxLE1TcE_Myckszc3LLCnKTFFISizOTC1KzUtJVQjLLyrKTM4oKc1LT81TKM1LUfBILSouSc3JAYoUl6UWpSVmAFXyMLCmJeYUp_JCaW4GRTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JJ4F1dDA2NLI2NDYycTY2LUAAAXyzOq</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>Auf Galliumnitrid basierende Vorrichtungen und Herstellungsverfahren</title><source>esp@cenet</source><creator>PERES, BORIS ; ELIASHEVICH, IVAN ; MURPHY, MICHEL ; SHELTON, BRYAN ; CERUZZI, ALEX D ; STALL, RICHARD A ; POPHRISTIC, MILAN ; GUO, SHIPING ; GOTTHOLD, DAVID</creator><creatorcontrib>PERES, BORIS ; ELIASHEVICH, IVAN ; MURPHY, MICHEL ; SHELTON, BRYAN ; CERUZZI, ALEX D ; STALL, RICHARD A ; POPHRISTIC, MILAN ; GUO, SHIPING ; GOTTHOLD, DAVID</creatorcontrib><description>Eine Halbleiterstruktur, die folgendes aufweist: (a) ein Siliziumsubstrat; (b) eine Aluminiumschicht direkt über einer Oberfläche des Substrats liegend; (c) eine polykristalline Kernbildungsschicht aus einem Nitridhalbleiter direkt über der Aluminiumschicht liegend; (d) eine Pufferstruktur einschließlich einer oder mehrerer Supergitter über der Kernbildungsschicht liegend, wobei jedes der Supergitter eine Vielzahl von auf Nitrid basierenden Halbleitern unterschiedlicher Zusammensetzungen aufweist; und (e) eine operative oder Betriebsstruktur aus einem oder mehreren auf Galliumnitrid basierenden Halbleitern, die über der erwähnten Pufferstruktur liegen. A nitride semiconductor is grown on a silicon substrate by depositing a few mono-layers of aluminum to protect the silicon substrate from ammonia used during the growth process, and then forming a nucleation layer from aluminum nitride and a buffer structure including multiple superlattices of AlRGa(1-R)N semiconductors having different compositions and an intermediate layer of GaN or other Ga-rich nitride semiconductor. The resulting structure has superior crystal quality. The silicon substrate used in epitaxial growth is removed before completion of the device so as to provide superior electrical properties in devices such as high-electron mobility transistors.</description><language>ger</language><subject>AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUSPOLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE ; APPARATUS THEREFOR ; BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; CHEMISTRY ; CRYSTAL GROWTH ; DEVICES USING STIMULATED EMISSION ; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; METALLURGY ; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITHDEFINED STRUCTURE ; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL ; SEMICONDUCTOR DEVICES ; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITHDEFINED STRUCTURE ; SINGLE-CRYSTAL-GROWTH ; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL ORUNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL</subject><creationdate>2014</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20140710&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=10392313B4$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,777,882,25545,76296</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20140710&amp;DB=EPODOC&amp;CC=DE&amp;NR=10392313B4$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>PERES, BORIS</creatorcontrib><creatorcontrib>ELIASHEVICH, IVAN</creatorcontrib><creatorcontrib>MURPHY, MICHEL</creatorcontrib><creatorcontrib>SHELTON, BRYAN</creatorcontrib><creatorcontrib>CERUZZI, ALEX D</creatorcontrib><creatorcontrib>STALL, RICHARD A</creatorcontrib><creatorcontrib>POPHRISTIC, MILAN</creatorcontrib><creatorcontrib>GUO, SHIPING</creatorcontrib><creatorcontrib>GOTTHOLD, DAVID</creatorcontrib><title>Auf Galliumnitrid basierende Vorrichtungen und Herstellungsverfahren</title><description>Eine Halbleiterstruktur, die folgendes aufweist: (a) ein Siliziumsubstrat; (b) eine Aluminiumschicht direkt über einer Oberfläche des Substrats liegend; (c) eine polykristalline Kernbildungsschicht aus einem Nitridhalbleiter direkt über der Aluminiumschicht liegend; (d) eine Pufferstruktur einschließlich einer oder mehrerer Supergitter über der Kernbildungsschicht liegend, wobei jedes der Supergitter eine Vielzahl von auf Nitrid basierenden Halbleitern unterschiedlicher Zusammensetzungen aufweist; und (e) eine operative oder Betriebsstruktur aus einem oder mehreren auf Galliumnitrid basierenden Halbleitern, die über der erwähnten Pufferstruktur liegen. A nitride semiconductor is grown on a silicon substrate by depositing a few mono-layers of aluminum to protect the silicon substrate from ammonia used during the growth process, and then forming a nucleation layer from aluminum nitride and a buffer structure including multiple superlattices of AlRGa(1-R)N semiconductors having different compositions and an intermediate layer of GaN or other Ga-rich nitride semiconductor. The resulting structure has superior crystal quality. The silicon substrate used in epitaxial growth is removed before completion of the device so as to provide superior electrical properties in devices such as high-electron mobility transistors.</description><subject>AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUSPOLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE</subject><subject>APPARATUS THEREFOR</subject><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>CHEMISTRY</subject><subject>CRYSTAL GROWTH</subject><subject>DEVICES USING STIMULATED EMISSION</subject><subject>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>METALLURGY</subject><subject>PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITHDEFINED STRUCTURE</subject><subject>REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL</subject><subject>SEMICONDUCTOR DEVICES</subject><subject>SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITHDEFINED STRUCTURE</subject><subject>SINGLE-CRYSTAL-GROWTH</subject><subject>UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL ORUNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2014</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZHBxLE1TcE_Myckszc3LLCnKTFFISizOTC1KzUtJVQjLLyrKTM4oKc1LT81TKM1LUfBILSouSc3JAYoUl6UWpSVmAFXyMLCmJeYUp_JCaW4GRTfXEGcP3dSC_PjU4oLE5NS81JJ4F1dDA2NLI2NDYycTY2LUAAAXyzOq</recordid><startdate>20140710</startdate><enddate>20140710</enddate><creator>PERES, BORIS</creator><creator>ELIASHEVICH, IVAN</creator><creator>MURPHY, MICHEL</creator><creator>SHELTON, BRYAN</creator><creator>CERUZZI, ALEX D</creator><creator>STALL, RICHARD A</creator><creator>POPHRISTIC, MILAN</creator><creator>GUO, SHIPING</creator><creator>GOTTHOLD, DAVID</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20140710</creationdate><title>Auf Galliumnitrid basierende Vorrichtungen und Herstellungsverfahren</title><author>PERES, BORIS ; ELIASHEVICH, IVAN ; MURPHY, MICHEL ; SHELTON, BRYAN ; CERUZZI, ALEX D ; STALL, RICHARD A ; POPHRISTIC, MILAN ; GUO, SHIPING ; GOTTHOLD, DAVID</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_DE10392313B43</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>ger</language><creationdate>2014</creationdate><topic>AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUSPOLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE</topic><topic>APPARATUS THEREFOR</topic><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>CHEMISTRY</topic><topic>CRYSTAL GROWTH</topic><topic>DEVICES USING STIMULATED EMISSION</topic><topic>ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>METALLURGY</topic><topic>PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITHDEFINED STRUCTURE</topic><topic>REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL</topic><topic>SEMICONDUCTOR DEVICES</topic><topic>SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITHDEFINED STRUCTURE</topic><topic>SINGLE-CRYSTAL-GROWTH</topic><topic>UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL ORUNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>PERES, BORIS</creatorcontrib><creatorcontrib>ELIASHEVICH, IVAN</creatorcontrib><creatorcontrib>MURPHY, MICHEL</creatorcontrib><creatorcontrib>SHELTON, BRYAN</creatorcontrib><creatorcontrib>CERUZZI, ALEX D</creatorcontrib><creatorcontrib>STALL, RICHARD A</creatorcontrib><creatorcontrib>POPHRISTIC, MILAN</creatorcontrib><creatorcontrib>GUO, SHIPING</creatorcontrib><creatorcontrib>GOTTHOLD, DAVID</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>PERES, BORIS</au><au>ELIASHEVICH, IVAN</au><au>MURPHY, MICHEL</au><au>SHELTON, BRYAN</au><au>CERUZZI, ALEX D</au><au>STALL, RICHARD A</au><au>POPHRISTIC, MILAN</au><au>GUO, SHIPING</au><au>GOTTHOLD, DAVID</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>Auf Galliumnitrid basierende Vorrichtungen und Herstellungsverfahren</title><date>2014-07-10</date><risdate>2014</risdate><abstract>Eine Halbleiterstruktur, die folgendes aufweist: (a) ein Siliziumsubstrat; (b) eine Aluminiumschicht direkt über einer Oberfläche des Substrats liegend; (c) eine polykristalline Kernbildungsschicht aus einem Nitridhalbleiter direkt über der Aluminiumschicht liegend; (d) eine Pufferstruktur einschließlich einer oder mehrerer Supergitter über der Kernbildungsschicht liegend, wobei jedes der Supergitter eine Vielzahl von auf Nitrid basierenden Halbleitern unterschiedlicher Zusammensetzungen aufweist; und (e) eine operative oder Betriebsstruktur aus einem oder mehreren auf Galliumnitrid basierenden Halbleitern, die über der erwähnten Pufferstruktur liegen. A nitride semiconductor is grown on a silicon substrate by depositing a few mono-layers of aluminum to protect the silicon substrate from ammonia used during the growth process, and then forming a nucleation layer from aluminum nitride and a buffer structure including multiple superlattices of AlRGa(1-R)N semiconductors having different compositions and an intermediate layer of GaN or other Ga-rich nitride semiconductor. The resulting structure has superior crystal quality. The silicon substrate used in epitaxial growth is removed before completion of the device so as to provide superior electrical properties in devices such as high-electron mobility transistors.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language ger
recordid cdi_epo_espacenet_DE10392313B4
source esp@cenet
subjects AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUSPOLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE
APPARATUS THEREFOR
BASIC ELECTRIC ELEMENTS
CHEMISTRY
CRYSTAL GROWTH
DEVICES USING STIMULATED EMISSION
ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
ELECTRICITY
METALLURGY
PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITHDEFINED STRUCTURE
REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL
SEMICONDUCTOR DEVICES
SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITHDEFINED STRUCTURE
SINGLE-CRYSTAL-GROWTH
UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL ORUNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL
title Auf Galliumnitrid basierende Vorrichtungen und Herstellungsverfahren
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-19T00%3A37%3A31IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=PERES,%20BORIS&rft.date=2014-07-10&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EDE10392313B4%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true