Verfahren zum Testen einer zu testenden Schaltungseinheit und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens

A circuit configuration for testing a circuit using a test device for providing a test mode, where test procedures are performed sequentially. The test procedures involve comparing actual data that are output by the circuit under test with prescribed nominal data in the test device. A combinational...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	THALMANN, ERWIN
Format:	Patent
Sprache:	ger
Schlagworte:	INFORMATION STORAGE MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS STATIC STORES TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!