Verfahren zur Regelung der Dicke extrudierter Folie I
Verfahren zur Regelung der Dicke extrudierter Folie, welches folgende Verfahrensmerkmale umfasst: - die Messung des Dickenprofils gerade extrudierter Folie (8) mit Hilfe einer Dickenmesssonde (12), welche im Wesentlichen quer (x) zur Förderrichtung (z) der extrudierten Folie (8) entlang ihrer Oberfl...
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| Hauptverfasser: | , |
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| Format: | Patent |
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| creator | KOENIG, LOTHAR TROMMELEN, BARTHOLOMEUS |
| description | Verfahren zur Regelung der Dicke extrudierter Folie, welches folgende Verfahrensmerkmale umfasst: - die Messung des Dickenprofils gerade extrudierter Folie (8) mit Hilfe einer Dickenmesssonde (12), welche im Wesentlichen quer (x) zur Förderrichtung (z) der extrudierten Folie (8) entlang ihrer Oberfläche bewegt wird und pro Messzyklus (MZ) ein Dickenprofil (P) der Folie (8) zumindest über Teile der Ausdehnung der Folie (8) quer (x) zu ihrer Förderrichtung (z) aufzeichnet, - die Übermittlung der Messwerte an eine Steuereinheit (14,15,17), - das Speichern der den Dickenprofilen zugrunde liegenden Messwerte in einer Speichervorrichtung (14), - das Bereitstellen statistischer Werte zu der Foliendicke (5) durch eine Rechenvorrichtung (14), wobei die Rechenvorrichtung (14) hierbei Messwerte oder von Messwerten abgeleitete Informationen aus einer bestimmten Anzahl von Messzyklen (MZ) berücksichtigt, - die Ermittlung der Abweichungen der statistischen Werte zu der Foliendicke (5) von einem Sollwert, - das Generieren von Steuerbefehlen an Mittel zum Beeinflussen der Foliendicke (5), dadurch gekennzeichnet, dass - von der Rechenvorrichtung während eines vorbestimmten Zeitraumes zu Beginn des Extrusionsprozesses Messwerte oder von Messwerten abgeleitete Informationen aus oder zu einer größeren Anzahl von Messzyklen zugänglich gemacht werden, als die Dickenmesssonde in einem gleichlangen Zeitraum während des Normalbetriebs aufzeichnet und - dass die Rechenvorrichtung diese Messwerte bei der Bereitstellung der statistischen Werte berücksichtigt - wobei zumindest ein Teil dieser Messwerte von der Speichereinheit (14) stammt, - welche (14) Messwerte oder von Messwerten abgeleitete Informationen der Recheneinheit (14) zugänglich macht - wobei diese Messwerte oder von Messwerten abgeleiteten Informationen aus Messzyklen stammen, welche bei einem anderen Extrusionsprozess aufgezeichnet wurden.
The present invention relates to a process for the automatic control of the thickness of extruded film ( 8 ). The purpose of the invention is to lower the deviations in the thickness of the film more quickly after the start of the extrusion process. The process involves the measurement of the thickness profile of the film just extruded ( 8 ) by means of a thickness-measuring probe ( 12 ). The thickness-measuring probe ( 12 ) is moved along the surface of the film substantially perpendicular (x) to the conveying direction (z) of the extruded film ( 8 ). The thickness-measuring probe ( 1 |
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The present invention relates to a process for the automatic control of the thickness of extruded film ( 8 ). The purpose of the invention is to lower the deviations in the thickness of the film more quickly after the start of the extrusion process. The process involves the measurement of the thickness profile of the film just extruded ( 8 ) by means of a thickness-measuring probe ( 12 ). The thickness-measuring probe ( 12 ) is moved along the surface of the film substantially perpendicular (x) to the conveying direction (z) of the extruded film ( 8 ). The thickness-measuring probe ( 12 ) records for each measuring cycle (MZ) a thickness profile (P) of the film ( 8 ) at least over parts of the expansion of the film ( 8 ) perpendicular (x) to its conveying direction (z). The process pursuant to the present invention is characterized by the fact that during a predetermined time-frame at the start of the extrusion process measured values or information derived therefrom using or for a greater number of measuring cycles is made accessible to the computer ( 14 ) than those recorded by the thickness-measuring probe ( 12 ) in a time-frame of similar length during the normal operation and that the computer ( 14 ) takes into account these measured values while providing the statistical values.</description><language>ger</language><subject>AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING ; CONTROLLING ; PERFORMING OPERATIONS ; PHYSICS ; PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCESIN A PLASTIC STATE ; REGULATING ; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDEDFOR ; SHAPING OR JOINING OF PLASTICS ; SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES ; TRANSPORTING ; WORKING OF PLASTICS ; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE, IN GENERAL</subject><creationdate>2013</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130613&DB=EPODOC&CC=DE&NR=10300375B4$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,776,881,25542,76289</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20130613&DB=EPODOC&CC=DE&NR=10300375B4$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>KOENIG, LOTHAR</creatorcontrib><creatorcontrib>TROMMELEN, BARTHOLOMEUS</creatorcontrib><title>Verfahren zur Regelung der Dicke extrudierter Folie I</title><description>Verfahren zur Regelung der Dicke extrudierter Folie, welches folgende Verfahrensmerkmale umfasst: - die Messung des Dickenprofils gerade extrudierter Folie (8) mit Hilfe einer Dickenmesssonde (12), welche im Wesentlichen quer (x) zur Förderrichtung (z) der extrudierten Folie (8) entlang ihrer Oberfläche bewegt wird und pro Messzyklus (MZ) ein Dickenprofil (P) der Folie (8) zumindest über Teile der Ausdehnung der Folie (8) quer (x) zu ihrer Förderrichtung (z) aufzeichnet, - die Übermittlung der Messwerte an eine Steuereinheit (14,15,17), - das Speichern der den Dickenprofilen zugrunde liegenden Messwerte in einer Speichervorrichtung (14), - das Bereitstellen statistischer Werte zu der Foliendicke (5) durch eine Rechenvorrichtung (14), wobei die Rechenvorrichtung (14) hierbei Messwerte oder von Messwerten abgeleitete Informationen aus einer bestimmten Anzahl von Messzyklen (MZ) berücksichtigt, - die Ermittlung der Abweichungen der statistischen Werte zu der Foliendicke (5) von einem Sollwert, - das Generieren von Steuerbefehlen an Mittel zum Beeinflussen der Foliendicke (5), dadurch gekennzeichnet, dass - von der Rechenvorrichtung während eines vorbestimmten Zeitraumes zu Beginn des Extrusionsprozesses Messwerte oder von Messwerten abgeleitete Informationen aus oder zu einer größeren Anzahl von Messzyklen zugänglich gemacht werden, als die Dickenmesssonde in einem gleichlangen Zeitraum während des Normalbetriebs aufzeichnet und - dass die Rechenvorrichtung diese Messwerte bei der Bereitstellung der statistischen Werte berücksichtigt - wobei zumindest ein Teil dieser Messwerte von der Speichereinheit (14) stammt, - welche (14) Messwerte oder von Messwerten abgeleitete Informationen der Recheneinheit (14) zugänglich macht - wobei diese Messwerte oder von Messwerten abgeleiteten Informationen aus Messzyklen stammen, welche bei einem anderen Extrusionsprozess aufgezeichnet wurden.
The present invention relates to a process for the automatic control of the thickness of extruded film ( 8 ). The purpose of the invention is to lower the deviations in the thickness of the film more quickly after the start of the extrusion process. The process involves the measurement of the thickness profile of the film just extruded ( 8 ) by means of a thickness-measuring probe ( 12 ). The thickness-measuring probe ( 12 ) is moved along the surface of the film substantially perpendicular (x) to the conveying direction (z) of the extruded film ( 8 ). The thickness-measuring probe ( 12 ) records for each measuring cycle (MZ) a thickness profile (P) of the film ( 8 ) at least over parts of the expansion of the film ( 8 ) perpendicular (x) to its conveying direction (z). The process pursuant to the present invention is characterized by the fact that during a predetermined time-frame at the start of the extrusion process measured values or information derived therefrom using or for a greater number of measuring cycles is made accessible to the computer ( 14 ) than those recorded by the thickness-measuring probe ( 12 ) in a time-frame of similar length during the normal operation and that the computer ( 14 ) takes into account these measured values while providing the statistical values.</description><subject>AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>PERFORMING OPERATIONS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCESIN A PLASTIC STATE</subject><subject>REGULATING</subject><subject>SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDEDFOR</subject><subject>SHAPING OR JOINING OF PLASTICS</subject><subject>SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES</subject><subject>TRANSPORTING</subject><subject>WORKING OF PLASTICS</subject><subject>WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE, IN GENERAL</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2013</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZDANSy1KS8woSs1TqCotUghKTU_NKc1LV0hJLVJwyUzOTlVIrSgpKk3JTC0qAQq55edkpip48jCwpiXmFKfyQmluBkU31xBnD93Ugvz41OKCxOTUvNSSeBdXQwNjAwNjc1MnE2Ni1AAANjEskQ</recordid><startdate>20130613</startdate><enddate>20130613</enddate><creator>KOENIG, LOTHAR</creator><creator>TROMMELEN, BARTHOLOMEUS</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20130613</creationdate><title>Verfahren zur Regelung der Dicke extrudierter Folie I</title><author>KOENIG, LOTHAR ; 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The present invention relates to a process for the automatic control of the thickness of extruded film ( 8 ). The purpose of the invention is to lower the deviations in the thickness of the film more quickly after the start of the extrusion process. The process involves the measurement of the thickness profile of the film just extruded ( 8 ) by means of a thickness-measuring probe ( 12 ). The thickness-measuring probe ( 12 ) is moved along the surface of the film substantially perpendicular (x) to the conveying direction (z) of the extruded film ( 8 ). The thickness-measuring probe ( 12 ) records for each measuring cycle (MZ) a thickness profile (P) of the film ( 8 ) at least over parts of the expansion of the film ( 8 ) perpendicular (x) to its conveying direction (z). The process pursuant to the present invention is characterized by the fact that during a predetermined time-frame at the start of the extrusion process measured values or information derived therefrom using or for a greater number of measuring cycles is made accessible to the computer ( 14 ) than those recorded by the thickness-measuring probe ( 12 ) in a time-frame of similar length during the normal operation and that the computer ( 14 ) takes into account these measured values while providing the statistical values.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
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